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介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法_介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理

ss ? 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 2018-03-20 10:39 ? 次閱讀
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以下是關(guān)于介質(zhì)損耗測(cè)試儀的操作方法:

1.測(cè)量前準(zhǔn)備:

1)用接地線一端接儀器的接地柱,另一端接可靠的大地,保證儀器外殼處在地電位上。

2)正接線時(shí):將高壓電纜插頭插入后門(mén)HV插座中,將另一端的紅色大鉗子夾到被測(cè)試品的高端引線上,黑色小鉗子懸空或夾在紅色大鉗子上。將CX低壓電纜插入CX插座中,另一端的紅色夾子夾試品的低端,黑色夾子懸空或接屏蔽裝置。

3)反接線時(shí):將高壓電纜插頭插入后門(mén)HV插座中,將另一端的紅色大鉗子夾到被測(cè)試品的高端引線上,紅色小鉗子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不用。

2.打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),儀器進(jìn)行自檢,若自檢良好,液晶屏顯示中文主菜單如圖十所示。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法_介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理

3.菜單選擇:

1)按鍵可移動(dòng)光標(biāo)至各菜單項(xiàng),并循環(huán)指示。被選中項(xiàng)反白字體顯示。選擇鍵的流程見(jiàn)圖十一所示。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法_介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理

2)在光標(biāo)當(dāng)前所示項(xiàng)目,按▼▲鍵鍵可進(jìn)行該項(xiàng)菜單的變更,并循環(huán)指示,流程見(jiàn)圖十二所示。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法_介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理

3)將菜單變更至與測(cè)試要求相對(duì)應(yīng)后即可按選擇鍵進(jìn)行下個(gè)項(xiàng)目的選擇。介質(zhì)損耗測(cè)試儀

介質(zhì)損耗測(cè)試儀

4、頻率:光標(biāo)在頻率上,按↑↓鍵選擇定頻和變頻:

光標(biāo)在定頻上:按住“啟?!辨I1s以上切換到全頻率選擇,按↑↓鍵循環(huán)顯示45Hz/47.5Hz/50Hz/52.5Hz/55Hz/60Hz/65Hz

工頻50Hz測(cè)量,此設(shè)置不能抗干擾,在試驗(yàn)室內(nèi)測(cè)量或校驗(yàn)時(shí)選用50Hz,“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”:為單頻率測(cè)量,研究不同頻率下介損的變化時(shí)選用。

光標(biāo)在變頻上:按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇,按↑↓鍵循環(huán)顯示5-Hz/6-Hz/4-Hz”:

“5-Hz”:為45/55Hz自動(dòng)變頻,適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

“6-Hz”:為55/65Hz自動(dòng)變頻,適合60Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

“4-Hz”:為47.5/52.5Hz自動(dòng)變頻,適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法_介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理

介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法_介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理

5、測(cè)試:當(dāng)光標(biāo)在測(cè)試項(xiàng)目上時(shí),按確認(rèn)鍵大約3秒鐘開(kāi)始測(cè)試。測(cè)試過(guò)程中顯示的畫(huà)面如圖十三(正接線,變頻)所示,當(dāng)下面的進(jìn)程到100%時(shí)候測(cè)試完畢,然后顯示測(cè)量結(jié)果見(jiàn)圖十四所示,此時(shí)光標(biāo)指示打印機(jī)圖標(biāo),按確認(rèn)鍵打印報(bào)告。測(cè)量結(jié)果的意義如下:

tgδ:試品的損耗因數(shù)tgδ值

CX:測(cè)量的電容

V:施加電壓值

I:試品流過(guò)的電流

F1,F(xiàn)2:試驗(yàn)頻率

打印結(jié)束后,關(guān)閉電源開(kāi)關(guān),測(cè)試完畢。

測(cè)量方式及原理

按被測(cè)試品是否接地分兩種測(cè)量方式,即正接線測(cè)量方式和反接線測(cè)量方式。兩種測(cè)量方式的原理如圖一所示:

介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法_介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理

在高壓電源的10kV側(cè),高壓分兩路,一路給機(jī)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容CN,此電容介損非常小,可以認(rèn)為介損為零,即為純?nèi)菪噪娏鳎穗娏鱅CN 可做為容性電流基準(zhǔn)。在Cx試品一側(cè),試品電流Icx通過(guò)采樣電阻R采入機(jī)內(nèi),此Icx可分解成水平分量和垂直分量見(jiàn)圖二所示,通過(guò)計(jì)算水平分量與垂直分量的比值即可得到tgδ值。

在圖一(a)中Cx為非接地試品,試品電流Icx從試品末端進(jìn)入采樣電阻R,得到全電流值,在圖一(b)中Cx為接地試品,機(jī)內(nèi)Cx端直接接地,電流Icx從試品高壓端到機(jī)內(nèi)采樣電阻取得全電流值。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法_介質(zhì)損耗測(cè)試儀原理

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