在錫膏工藝中，虛焊（Cold Solder Joint）是一種常見的焊接缺陷，表現(xiàn)為焊點表面看似連接，但實際存在電氣接觸不良或機械強度不足的問題。虛焊可能導致產(chǎn)品功能失效、可靠性下降甚至短路風險。以下從成因、表現(xiàn)、影響、檢測及預防措施等方面詳細解析：

一、虛焊現(xiàn)象定義與危害

密腳器件虛焊指元器件引腳與PCB焊盤間未形成有效電氣連接的現(xiàn)象，其中開焊（Open Soldering）是最常見缺陷類型。如圖1-1所示，典型虛焊表現(xiàn)為引腳翹起導致局部焊點缺失，或焊膏潤濕不良形成冷焊點。該缺陷隱蔽性強，可能引發(fā)設備間歇性故障，屬于高危害性工藝問題。部分廠商采用牙簽撥動檢測法進行初步篩查，但過度依賴人工操作存在質量波動風險。

圖1-1 密腳器件虛焊現(xiàn)象

二、虛焊產(chǎn)生原因分析

根據(jù)工藝鏈環(huán)節(jié)，虛焊成因可分為五大類，具有強隨機性和工藝敏感性：

1. 焊膏印刷缺陷

具體表現(xiàn)：漏印、少印導致焊料不足（如圖1-1中焊點面積過小區(qū)域）；鋼網(wǎng)堵塞或參數(shù)設計不當（如開口過?。?。

虛焊占比：約35%（行業(yè)統(tǒng)計值，實際比例因工藝條件差異可能變化）。

2. 引腳共面性問題

具體表現(xiàn)：引腳蹺腳、變形導致局部引腳脫離焊膏接觸（如圖1-1中引腳翹起區(qū)域）。

虛焊占比：約28%。

3. 導通孔虹吸效應

具體表現(xiàn)：焊盤導通孔設計不當，熔融焊錫流向孔內(nèi)導致引腳根部焊料不足（如圖1-1中焊盤導通孔區(qū)域）。

虛焊占比：約18%。

4. 可焊性衰退

具體表現(xiàn)：引腳電鍍層氧化（如Sn層厚度不足）或PCB焊盤表面污染。

虛焊占比：約15%。

5. 熱力學失衡

具體表現(xiàn)：PCB熱容過大或預熱不足，導致焊膏熔化后沿引腳上爬（芯吸現(xiàn)象）。

虛焊占比：約4%。

三、系統(tǒng)性改進建議

需建立"設計-物料-工藝"三位一體的防控體系：

1. 物料管控強化

引腳保護：采用真空包裝運輸，開包后48小時內(nèi)完成貼片，存儲濕度≤10%RH。

可焊性驗證：

引腳電鍍層厚度≥8μm（Sn層），使用潤濕平衡測試儀（WBT）檢測接觸角≤90°。

PCB焊盤實施等離子清洗，定期檢測表面能≥50mN/m。

2. 工藝參數(shù)優(yōu)化

印刷工藝：

采用階梯鋼網(wǎng)（厚度0.12-0.15mm），開口面積比引腳大10-15%。

實施焊膏厚度監(jiān)控（SPI），目標厚度60-80μm。

焊接曲線：

預熱區(qū)溫度提升至120-140℃，時間延長至120-150秒。

峰值溫度245±5℃，液態(tài)時間＞40秒。

設備維護：

每20片PCB清潔鋼網(wǎng)，使用專用溶劑和無塵布。

每周校準回流焊溫度，ΔT≤5℃。

3. 檢測體系升級

AOI+X-ray聯(lián)動：

AOI重點檢測焊點潤濕角（合格標準：＜30°）和引腳共面性。

X-ray檢測焊點空洞率（IPC標準：＜25%）。

SPC過程控制：

對焊接溫度、印刷厚度等關鍵參數(shù)實施實時控制圖監(jiān)控。

建立虛焊缺陷數(shù)據(jù)庫，實施PDCA持續(xù)改進。

4. 操作規(guī)范優(yōu)化

禁止焊接前編程：防止引腳受力變形，編程操作應使用無接觸工裝。

物料流轉管控：采用防靜電周轉車，避免引腳碰撞變形。

四、實施效果預期

通過上述改進方案，預計可實現(xiàn)：

虛焊率降至0.5%以下（行業(yè)優(yōu)秀水平）

焊接質量穩(wěn)定性提升40%

返修成本降低60%以上

產(chǎn)品可靠性（MTBF）提高30%

建議優(yōu)先實施焊膏印刷工藝優(yōu)化和AOI檢測升級，3個月內(nèi)即可完成工藝調試并見到顯著改善。長期需建立DFM設計規(guī)則庫，從源頭消除虛焊風險。

總結：虛焊是錫膏工藝中的關鍵控制點，需從材料、設備、工藝、環(huán)境等多維度系統(tǒng)管理。通過嚴格的過程控制和實時監(jiān)測，可顯著降低虛焊率，提升產(chǎn)品可靠性。

審核編輯 黃宇