在人工智能驅(qū)動的數(shù)字時代，海量數(shù)據(jù)的高效存儲與快速調(diào)用成為AI應(yīng)用的核心支柱。從智能推薦系統(tǒng)的實(shí)時數(shù)據(jù)處理，到深度學(xué)習(xí)模型的參數(shù)訓(xùn)練，固態(tài)硬盤（SSD）以其卓越的讀寫速度與穩(wěn)定性，正成為AI基礎(chǔ)設(shè)施的關(guān)鍵組件。然而，鮮為人知的是，在微觀世界中，中子輻射引發(fā)的比特翻轉(zhuǎn)問題，正悄然威脅著AI的數(shù)據(jù)安全與系統(tǒng)穩(wěn)定性。

測試背景與環(huán)境

測試背景

中子，作為一種不帶電的亞原子粒子，廣泛存在于宇宙射線、高海拔地區(qū)、核電站周邊等環(huán)境中。當(dāng)這些微小的粒子穿透SSD的存儲單元時，可能會導(dǎo)致存儲芯片中的比特值發(fā)生意外翻轉(zhuǎn)，使得原本存儲的“0”變成“1”，“1”變成“0”。這種看似微不足道的變化，在AI應(yīng)用的海量數(shù)據(jù)處理場景下，可能引發(fā)數(shù)據(jù)錯誤、模型訓(xùn)練偏差，甚至系統(tǒng)崩潰，嚴(yán)重影響AI應(yīng)用的可靠性與效率。

憶聯(lián)作為國內(nèi)唯一高分通過中子輻照測試的SSD廠商，聯(lián)合國內(nèi)知名機(jī)構(gòu)中國散裂中子源在遠(yuǎn)超地表中子輻射量的模擬環(huán)境下，實(shí)測PCIe Gen5 ESSD UH812a的高可靠性，以期為AI時代提供更安全高效的存儲解決方案。

驗(yàn)證平臺

中國散裂中子源是國際前沿的高科技多學(xué)科應(yīng)用的大型研究平臺，依托中國散裂中子源建成的大氣中子輻照譜儀是國內(nèi)首臺、國際先進(jìn)的大氣中子地面模擬加速測試平臺，可為航空、電力電子、智能駕駛、高性能存儲與計(jì)算等領(lǐng)域的高可靠性的電子元器件及系統(tǒng)提供大氣中子單粒子效應(yīng)風(fēng)險(xiǎn)評估和測試服務(wù)。

測試產(chǎn)品

本次試驗(yàn)選取憶聯(lián)PCIe Gen5 ESSD UH812a及國際友商A、國內(nèi)友商B的同代際產(chǎn)品進(jìn)行測試，所有SSD均在相同的中子注量率下持續(xù)輻照，直至盤片全部失效。

測試環(huán)境

本次測試使用的中子注量率為9.6*104n/ (cm2·s) (En≥1MeV)。在國內(nèi)地面條件下，阿里地區(qū)作為中子量最多的地區(qū)之一，其中子注量率僅為5.09*102n (cm2·h) (En≥1MeV)。由此可見，在模擬宇宙射線峰值環(huán)境（中子注量率達(dá)阿里地面條件的68萬倍）的極限測試中，憶聯(lián)UH812a SSD仍能保持優(yōu)秀的穩(wěn)定性和可靠性，可護(hù)航千卡GPU集群完成百億參數(shù)大模型訓(xùn)練，開創(chuàng)存儲設(shè)備抗輻射性能新高度。

圖1：中子試驗(yàn)環(huán)境實(shí)拍

測試關(guān)鍵結(jié)果

在嚴(yán)苛模擬工作負(fù)載環(huán)境下，憶聯(lián)UH812a SSD正常運(yùn)行時長遠(yuǎn)超友商

圖2：憶聯(lián)與友商同類產(chǎn)品實(shí)測對比

基準(zhǔn)值232s是在高中子環(huán)境下SSD的使用壽命，等于在常規(guī)環(huán)境下SSD的5年使用壽命。在高中子環(huán)境下，SSD實(shí)際運(yùn)行時間（實(shí)測值）比基準(zhǔn)值越長，則說明其可靠性及數(shù)據(jù)保護(hù)能力越強(qiáng)。在本次測試中，憶聯(lián)UH812a實(shí)際運(yùn)行時間為416秒，比國內(nèi)友商B的同類產(chǎn)品運(yùn)行時間長約60%，比國際友商A的同類產(chǎn)品運(yùn)行時間長約400%。在模擬環(huán)境的中子注量率下，為達(dá)到5年使用壽命，SSD正常運(yùn)行時間需達(dá)到232秒，而憶聯(lián)UH812a平均運(yùn)行時長高出5年使用壽命等效時長79%，可明顯滿足用戶在高中子環(huán)境下對SSD耐用性和可靠性的使用需求。

在高中子注量環(huán)境下，憶聯(lián)UH812a SSD平均每小時故障率遠(yuǎn)低于上一代產(chǎn)品

平均每小時故障率指SSD在單位時間（每小時）內(nèi)發(fā)生故障的概率，反映了SSD在運(yùn)行過程中出現(xiàn)故障的頻率，該指標(biāo)越低則說明SSD的可靠性越高。

圖3：UH812a與上一代產(chǎn)品及友商平均每小時故障率對比

在高中子注量率的測試環(huán)境下，通過實(shí)測UH812a與上一代產(chǎn)品的故障率，可明顯發(fā)現(xiàn)UH812a的故障率不僅低于上一代產(chǎn)品，同時也遠(yuǎn)低于友商同代際產(chǎn)品。UH812a的單個硬盤平均每小時故障率為3.22E-06，上一代際產(chǎn)品單個硬盤平均每小時故障率為4.18E-06，而友商Gen5代際產(chǎn)品平均每小時故障概率為6.95E-06。這說明在正常使用情況下，不管是跟友商對比，還是跟上一代產(chǎn)品對比，UH812a出現(xiàn)故障的可能性更小，更能夠?yàn)橛脩籼峁└€(wěn)定、持久的存儲服務(wù)，有效保障數(shù)據(jù)的安全和業(yè)務(wù)的連續(xù)性。

憶聯(lián)UH812a SSD采用多重?cái)?shù)據(jù)保護(hù)技術(shù)，為AI應(yīng)用的數(shù)據(jù)安全保駕護(hù)航

憶聯(lián)UH812a除具備優(yōu)秀的硬件配置外，還采用了增強(qiáng)的LDPC糾錯算法、智能錯誤檢測與糾正（ECC）模式及不可糾正錯誤（UNC）保護(hù)模式，為用戶牢筑AI數(shù)據(jù)安全防線。

LDPC糾錯算法：可提供比Flash顆粒要求更高的糾錯能力，能夠精準(zhǔn)識別并修正數(shù)據(jù)傳輸與存儲過程中出現(xiàn)的各類錯誤，實(shí)現(xiàn)小于1E-18的UBER（不可修復(fù)錯誤比特率）。

ECC模式：能夠?qū)崟r監(jiān)測存儲數(shù)據(jù)狀態(tài)，快速定位并糾正因中子輻射引發(fā)的比特翻轉(zhuǎn)錯誤，有效保障數(shù)據(jù)讀寫的準(zhǔn)確性。

UNC保護(hù)模式：憑借智能錯誤識別與快速隔離技術(shù)，在面對不可糾正錯誤時，通過隔離錯誤區(qū)域防止數(shù)據(jù)進(jìn)一步損壞和丟失，全方位保障系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行與業(yè)務(wù)連續(xù)性。

圖4：憶聯(lián)UH812a亮點(diǎn)介紹

UH812a作為憶聯(lián)強(qiáng)勢推出的重量級PCIe Gen5 ESSD之一，其采用的多重?cái)?shù)據(jù)保護(hù)技術(shù)，在面對中子輻射的威脅時，可最大限度降低數(shù)據(jù)丟失風(fēng)險(xiǎn)，以全場景、全周期的數(shù)據(jù)防護(hù)策略，為大模型訓(xùn)練、智能決策等AI業(yè)務(wù)構(gòu)筑堅(jiān)不可摧的存儲安全屏障。

中子輻射環(huán)境下的數(shù)據(jù)保障方案，筑牢安全與效率雙保險(xiǎn)，有效降低用戶TCO

受政策、自然環(huán)境等因素的影響，數(shù)據(jù)中心紛紛落戶高海拔地區(qū)。數(shù)據(jù)中心作為AI發(fā)展的基礎(chǔ)支撐，不僅可以提供海量存儲空間，也為AI模型訓(xùn)練和推理提供強(qiáng)大計(jì)算力，加速模型訓(xùn)練過程。在高海拔環(huán)境下，數(shù)據(jù)中心及AI應(yīng)用極有可能受到中子影響，導(dǎo)致數(shù)據(jù)錯誤，引發(fā)模型訓(xùn)練偏差、分析結(jié)果失真等，造成人力、物力與時間成本的浪費(fèi)，增加運(yùn)營成本。

對于用戶而言，在高海拔的數(shù)據(jù)中心采用通過大氣中子測試的ESSD意味著為數(shù)據(jù)安全與業(yè)務(wù)效率雙重賦能。憶聯(lián)UH812a憑借出色的數(shù)據(jù)保護(hù)能力，能夠有效降低SSD失效率，確保企業(yè)的智能決策系統(tǒng)、智能客服等AI應(yīng)用穩(wěn)定運(yùn)行，保障數(shù)據(jù)的真實(shí)性與完整性，減少運(yùn)維成本及人力，有效降低用戶TCO。

在AI驅(qū)動的智能時代，選擇經(jīng)過嚴(yán)苛大氣中子測試的憶聯(lián)UH8系列SSD，就是選擇更穩(wěn)定的系統(tǒng)運(yùn)行、更精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)分析、更高效的業(yè)務(wù)推進(jìn)與更低的運(yùn)維成本，為企業(yè)數(shù)字化轉(zhuǎn)型與技術(shù)創(chuàng)新筑牢可靠根基。

未來，憶聯(lián)將繼續(xù)深耕AI存儲技術(shù)領(lǐng)域，持續(xù)創(chuàng)新，不斷優(yōu)化產(chǎn)品性能，為AI時代的數(shù)據(jù)存儲需求提供更安全、更高效、更可靠的解決方案，與客戶攜手共筑智能時代的數(shù)據(jù)基石。

注：本文的所有測試數(shù)據(jù)均基于中國散裂中子源大氣中子輻照譜儀輻射環(huán)境下的實(shí)測數(shù)據(jù)，測試對象包含憶聯(lián)SSD及主要國內(nèi)外友商的同代際產(chǎn)品，相關(guān)數(shù)據(jù)僅供參考。

審核編輯 黃宇