方案背景

近場測試非常適合產(chǎn)品開發(fā)階段輻射發(fā)射的EMI預兼容測試。在EMC測試中，進行輻射發(fā)射測試時，通常天線離被測物EUT很遠，進行的都是遠場測量。標準的遠場輻射發(fā)射測試，可以準確定量的告訴我們被測件是否符合相應的EMC/EMI標準。

而當設備不符合標準時，工程師無法靠遠場測試發(fā)現(xiàn)嚴重的輻射問題到底是來自于設備殼體的縫隙，還是來自連接的電纜USB，LAN之類的通信接口，或PCB上某個元器件及線路。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。

在研發(fā)或者批量生產(chǎn)的時候，可以對照合格的產(chǎn)品的值，來測試其它的產(chǎn)品。通過EMI預兼容測試可以快速查找輻射源，大大減少產(chǎn)品的研發(fā)周期，減少往返實驗室的時間和全錢，減少不必要的錯誤測試。極大節(jié)省時間和經(jīng)濟成本。

近場測試是一種相對量測試，這意味著它需要把被測器件的測試結果與基準器件的測試結果進行比較，以預測被測器件通過一致性測試的可能性。需要注意的是，比較近場測試結果與EMI標準測試極限是沒有意義的，因為測試讀數(shù)受許多因素的影響，包括探頭位置和被測器件的形狀等。

方案需求分析

一般輻射發(fā)射的測試標準中，頻率范圍在9 kHz~18 GHz，

1) A頻段：9~150 kHz;

2) B頻段：0.15~30 MHz:

3) C頻段：30~300 MHz;

4) D頻段：300~1 GHz;

5) E頻段：1 GHz以上

但是最常用的測試頻段在30 MHz~1 GHz，比如說在一些信息技術產(chǎn)品的輻射發(fā)射測試中。少數(shù)測試標準要求在1 GHz以上。因此要求頻譜儀以及近場探頭的頻率范圍滿足30 MHz~1 GHz。

●考慮到設備的輻射發(fā)射情況，需要探測到更微弱的信號，要求頻譜儀的接收機靈敏度低。

●需要多種大小的探頭，使用戶在測試過程中在空間分辨率和敏感度之間取得更好的平衡。

德思特方案

使用德思特手持式頻譜分析儀以及近場探頭組成方案套裝，其中德思特手持式頻譜儀的頻率覆蓋范圍為0.01~3 GHz，探頭的頻率覆蓋范圍為9 kHz~9 GHz：

（1）方案優(yōu)勢

?覆蓋絕大部分EMI中RE測試標準的頻段，比如CISPR22/EN55022/CISPR11/EN55011

?靈敏度優(yōu)秀，DNAL：-168 dBm/Hz

?探頭賦予優(yōu)秀的空間分辨率和敏感度

?界面的設備可以及時觀測到輻射的信號

?可擴展頻段，可再選2~8 GHz頻譜儀，兩個頻譜儀構成0.01~8 GHz的測試范圍。

（2）功能優(yōu)勢

? 單位轉換

●功率單位：

◆dBm（默認單位）–參考1毫瓦的分貝

◆dBuW–參考1微瓦的分貝

●電壓單位：

◆dBmV–參考1毫伏的分貝

◆dBuV–參考1微伏的分貝

●電流單位：

◆dBmA–參考1毫安的分貝

◆dBuA–參考1微安的分貝

?記錄保存模式

在測試過程中，可以使用德思特手持式頻譜分析儀的保存數(shù)據(jù)的功能，點擊左上角紅色圖標可以截圖我們的測試數(shù)據(jù)?；蛘呤褂?RECORD"錄制模式。記錄的最大長度為30分鐘。三十分鐘后會自動進行下一次記錄。

同時，可以在上位機界面導出CSV文件進行分析，或者是使用SCPI命令導出頻譜數(shù)據(jù)進行二次開發(fā)。

總結

德思特EMI預兼容測試方案，使用德思特手持式頻譜分析儀與近場探頭相結合，不同的頻段符合不同的測試標準。與大小不同的近場探頭結合。為工程師提供了經(jīng)濟、高效、便攜、準確的EMI預兼容測試解決方案。

審核編輯 黃宇