一、核心技術(shù)特性

?高精度測(cè)試能力?

電壓測(cè)試范圍覆蓋0-3300V（可擴(kuò)展），分辨率達(dá)1mV；電流測(cè)試范圍0-2500A，分辨率最低至0.1nA，測(cè)試精度控制在0.2%+2LSB

采用脈沖測(cè)試法（脈寬300μs-5ms）抑制溫升，結(jié)合Kelvin四線消除接觸電阻誤差，確保大功率器件極限參數(shù)準(zhǔn)確性

?高效智能化操作?

單參數(shù)測(cè)試速度達(dá)0.5ms/參數(shù)，百點(diǎn)I-V曲線生成僅需數(shù)秒

支持自動(dòng)分檔編程與16Bin分選機(jī)對(duì)接，量產(chǎn)測(cè)試效率達(dá)10,000件/小時(shí)

?全兼容測(cè)試范圍?

覆蓋硅基器件至第三代半導(dǎo)體（SiC/GaN），支持IGBT、MOSFET、晶閘管等12類器件40+靜態(tài)/動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試

模塊化夾具適配TO/SOT/QFN等封裝，無(wú)需額外設(shè)備

二、關(guān)鍵測(cè)試功能

三、系統(tǒng)應(yīng)用場(chǎng)景

?工業(yè)制造?：電力設(shè)備產(chǎn)線IGBT模塊分選、新能源汽車電控系統(tǒng)器件檢驗(yàn)

?科研教育?：高校半導(dǎo)體特性教學(xué)演示、研究所SiC器件熱穩(wěn)定性評(píng)估

?國(guó)防軍工?：航天元器件可靠性篩選（累計(jì)超500萬(wàn)只器件驗(yàn)證）

四、典型系統(tǒng)配置

以西安中昊芯測(cè)SC2010/SC2020為代表的新一代國(guó)產(chǎn)設(shè)備具備：

主機(jī)單元 + 溫控夾具套件（-55℃~+150℃模擬）

專業(yè)測(cè)試軟件（LabVIEW平臺(tái)開發(fā)，支持CSV/Excel導(dǎo)出）

門極過電保護(hù)適配器與自診斷代碼系統(tǒng)

審核編輯 黃宇