EMI預(yù)兼容N9000B+N6141C近場探頭方案
任何產(chǎn)品只要使用公共電網(wǎng)或帶有電子電路，都必須滿足 EMC ( 電磁兼容性 ) 要求。而在EMC中， EMI的問題始終是工程師關(guān)心的話題。因為EMI的遠(yuǎn)場測試只能知道產(chǎn)品符不符合EMI的認(rèn)證要求。一旦不符合要求，它無法提供超標(biāo)的輻射源的位置和傳播途徑，這樣工程師就無從下手做整改。
輕松識別超出標(biāo)準(zhǔn)極限值的器件發(fā)射
使用掃描表設(shè)置頻率范圍
調(diào)諧和偵聽頻率掃描表中的信號
生成測試結(jié)果的報告
時域掃描加速測試
自動單擊測量
利用最小的檢測頻譜找到最大的發(fā)射
準(zhǔn)備執(zhí)行APD測量
EMI輻射近場測試是一種相對量測試，它可以把被測件的測試結(jié)果與基準(zhǔn)件的測試結(jié)果進(jìn)行比較，以預(yù)測被測件通過一致性測試的可能性，并且通過探頭的檢測能快速精準(zhǔn)的告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于 USB、LAN 之類的通信接口，還是來自殼體的縫隙，或來自連接的電纜乃至電源線，幫助工程師查找和定位輻射源位置和傳播路徑，及評估整改后的效果。
因此，「世強&Keysight」開放實驗室也針對EMI預(yù)兼容（輻射）近場測量提供了N9000B+N6141C+近場探頭，幫助工程師對你設(shè)計執(zhí)行預(yù)兼容測量和診斷評測。具體包括：
頻率掃描
使用△至極限值的傳導(dǎo)發(fā)射與掃描表
使用儀表進(jìn)行的輻射掃描
使用條形圖查看隨時間變化的信號
條形圖
報告生成
分辨率帶寬與FFT采集帶寬的對比
簡化和自動執(zhí)行數(shù)據(jù)收集、分析和報告生成，更高效地完成單擊測量
檢測頻譜發(fā)現(xiàn)峰值發(fā)射的頻率
利用APD功能為未來應(yīng)用做好準(zhǔn)備
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2001
原文標(biāo)題：「世強＆Keysight」開放實驗室介紹第三彈：EMI預(yù)兼容（輻射）近場測量方案
文章出處：【微信號：sekorm_info，微信公眾號：世強SEKORM】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
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發(fā)表于 03-19 18:42
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