電解電容的漏電流過(guò)大是電路中常見(jiàn)的失效模式，其危害涉及能量損耗、性能失真、壽命縮短乃至系統(tǒng)崩潰等多個(gè)層面。電解電容漏電流過(guò)大會(huì)對(duì)電路造成多方面的不良影響，具體如下：

1、濾波效果劣化：電解電容在電路中常用于濾波，以平滑電壓波動(dòng)。漏電流過(guò)大會(huì)降低其濾波能力，導(dǎo)致輸出電壓紋波增大。例如，在開關(guān)電源中，紋波電壓可能從設(shè)計(jì)值的50mV升至200mV以上，影響負(fù)載設(shè)備(如FPGA)的穩(wěn)定運(yùn)行，甚至觸發(fā)保護(hù)電路誤動(dòng)作。

2、隔直流功能失效：電解電容的另一關(guān)鍵作用是隔斷直流分量，僅允許交流信號(hào)通過(guò)。漏電流過(guò)大會(huì)破壞這一功能，使直流分量泄漏至交流信號(hào)通道，導(dǎo)致信號(hào)失真。在音頻放大器中，這可能引發(fā)輸出信號(hào)直流偏移，燒毀揚(yáng)聲器音圈;在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中，則可能造成ADC采樣誤差，降低測(cè)量精度。

3、元件過(guò)熱與壽命縮短：漏電流通過(guò)電容內(nèi)部介質(zhì)時(shí)會(huì)產(chǎn)生焦耳熱(P=I2R)，導(dǎo)致電容溫度升高。長(zhǎng)期高溫會(huì)加速電解液揮發(fā)，使電容容量衰減率從每年5%增至20%，壽命縮短至標(biāo)稱值的1/5.若熱量積聚至臨界點(diǎn)，還可能引發(fā)電容爆炸，如鋁電解電容在漏電流過(guò)大時(shí)，內(nèi)部壓力驟增，若防爆結(jié)構(gòu)失效，會(huì)導(dǎo)致外殼破裂甚至爆炸。

4、電源效率下降與負(fù)載加重：漏電流直接構(gòu)成電源功耗，降低系統(tǒng)效率。例如，在400V/100μF電容中，漏電流從5μA增至50μA時(shí)，功耗從2mW升至20mW。若電源為電池供電，則會(huì)加速電量消耗，縮短設(shè)備續(xù)航時(shí)間。

5、信號(hào)干擾與噪聲耦合：漏電流路徑可能形成天線效應(yīng)，將開關(guān)電源的紋波噪聲(如100kHz@50mV)耦合至敏感信號(hào)線，導(dǎo)致ADC采樣誤差超過(guò)1LSB，或引發(fā)射頻電路相位噪聲惡化(如從-120dBc/Hz惡化至-100dBc/Hz)。

6、控制環(huán)路失穩(wěn)：在DC-DC轉(zhuǎn)換器中，漏電流可能改變反饋網(wǎng)絡(luò)阻抗，導(dǎo)致環(huán)路相位裕度不足(<45°)，引發(fā)輸出電壓振蕩(如從12V±1%變?yōu)椤?0%)，影響系統(tǒng)穩(wěn)定性。

審核編輯 黃宇