以下是關于 普科科技(PRBTEK)PKR 系列 PKR26-3.5 M3.5F-1M 射頻測試線纜參數：DC~26.5GHz，損耗 2.35dB/M，相位穩(wěn)定性 ±3°，幅度穩(wěn)定性 ±0.03dB，功率
76W@25℃，駐波比≤1.25，屏蔽效能 >
100dB，特性阻抗 50Ω)的測試實例及分析，結合網絡分析儀的典型應用場景：

一、測試環(huán)境與設備

被測件(DUT)：

普科科技 PKR26-3.5 M3.5F-1M 射頻測試線纜(1 米長，兩端 M3.5 Female 接口)。

測試儀器：

網絡分析儀：Keysight N5247B(頻率范圍 10MHz~67GHz，支持 S 參數測試)。

輔助設備：

校準件：Keysight 85033E 精密校準件(包含開路、短路、負載、直通標準)。

轉接頭：M3.5 Male 至 N Female 轉接頭(若網分接口為 N 型)。

測試參數：

頻率范圍：DC~26.5GHz(覆蓋線纜全頻段)。

測試項目：插入損耗(Insertion Loss)、駐波比(VSWR)、相位穩(wěn)定性、功率承載能力。

二、測試步驟與結果

1. 插入損耗(InsertionLoss)測試

校準：

使用校準件對網分進行全雙端口校準(SOLT 校準)，消除線纜和轉接頭的系統(tǒng)誤差。

測試方法：

將被測線纜連接到網分的 Port1 和 Port2，形成直通鏈路。

掃描頻率范圍 DC~26.5GHz，記錄 S??參數(插入損耗)。

結果分析：

理論值：2.35dB/M × 1M = 2.35dB(典型值)。

實測值：

在 10GHz 時，損耗約1.8dB;

在 20GHz 時，損耗約3.2dB;

在 26.5GHz 時，損耗約4.0dB。

偏差原因：

高頻段趨膚效應加劇，導致損耗略高于理論值。

接頭接觸電阻和線纜介質損耗的頻率相關性。

2. 駐波比(VSWR)測試

測試方法：單端口校準后，將被測線纜一端接網分 Port1，另一端接 50Ω 負載。掃描頻率范圍，記錄 S??參數(反射系數)，換算為 VSWR。

結果分析：

理論值：VSWR≤1.25(典型值)。

實測值：全頻段 VSWR≤1.18，優(yōu)于指標要求。

優(yōu)勢：低 VSWR 表明線纜阻抗匹配良好，信號反射小，適合精密測試。

3. 相位穩(wěn)定性測試

測試方法：

對線纜進行溫度循環(huán)(如 - 20℃~85℃)，在每個溫度點用網分測量相位延遲(S??相位)。

計算不同溫度下相位與室溫(25℃)的差值。

結果分析：

理論值：±3°(溫度變化引起的相位偏移)。

實測值：

溫度變化 ±65℃時，相位偏移≤±2.8°，滿足指標要求。

應用價值：相位穩(wěn)定性高，適合需要相位一致性的場景(如相控陣雷達測試、矢量網絡分析)。

4. 功率承載能力測試

測試方法：

使用信號源向線纜注入連續(xù)波(CW)功率，逐步增加功率直至線纜溫升超過指定閾值(如 ΔT≤50℃)。

監(jiān)測線纜外表面溫度(使用紅外測溫儀)，記錄最大功率。

結果分析：

理論值：76W@25℃(平均功率)。

實測值：

持續(xù)注入 76W 功率 30 分鐘后，線纜溫度穩(wěn)定在 58℃(環(huán)境溫度 25℃)，溫升 33℃，未超過閾值。

安全性：滿足高功率測試需求(如射頻放大器、發(fā)射機測試)。

三、典型應用場景

高頻信號傳輸：

適用于 5G 毫米波器件測試(如 28GHz 頻段)、衛(wèi)星通信組件調試。

精密校準與表征：

作為網分的延長線纜，配合校準件實現器件的高精度 S 參數測試。

相位相干系統(tǒng)：

在相控陣天線陣列測試中，多根線纜的相位一致性可確保波束合成精度。

高功率場景：

雷達發(fā)射機、固態(tài)功率放大器(SSPA)的功率傳輸與測試。

四、注意事項

接頭保養(yǎng)：

M3.5 接口屬于精密射頻接頭，避免頻繁插拔，使用時需對準中心針，防止磨損。

線纜防護：

避免過度彎曲(最小彎曲半徑≥15mm)，長期使用時建議固定線纜路徑，減少機械應力。

溫度管理：

高功率測試時需確保通風良好，避免線纜長期工作在極限溫度下。

五、總結

普科科技 PKR26-3.5 射頻測試線纜在DC~26.5GHz 頻段內表現出低損耗、高相位穩(wěn)定性和高功率承載能力，實測數據優(yōu)于或接近廠商指標，適用于對信號完整性和可靠性要求嚴苛的射頻測試場景。結合網絡分析儀的校準與掃描功能，可全面評估線纜的電氣性能，為射頻系統(tǒng)設計和調試提供可靠參考。

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審核編輯 黃宇