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自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)中TestCenter和ATECLOUD有哪些差異?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2025-07-25 09:54 ? 次閱讀
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TestCenter和ATECLOUD雖然都是自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái),但兩者在試用領(lǐng)域、技術(shù)架構(gòu)、功能特性等方面具有很大的差異性,兩者的面向客戶也有所不同。本文將簡(jiǎn)單分析兩個(gè)平臺(tái)的特點(diǎn)和差異。

wKgZO2iC4xeAd_CiAAUNuVf65Yg738.pngATECLOUD

1. 核心定位與適用領(lǐng)域
ATECLOUD:
面向電子測(cè)量、電源模塊半導(dǎo)體及通用工業(yè)自動(dòng)化測(cè)試,尤其適用于電源管理射頻組件、電源芯片驗(yàn)證等場(chǎng)景。其設(shè)計(jì)強(qiáng)調(diào)無(wú)代碼開發(fā)、云平臺(tái)協(xié)作及多行業(yè)適配性,支持跨領(lǐng)域擴(kuò)展。
TestCenter:
專注于汽車整車及零部件測(cè)試,覆蓋ECU、車載網(wǎng)絡(luò)、ADAS、動(dòng)力系統(tǒng)等汽車電子領(lǐng)域,需深度集成HIL/SIL等汽車專用測(cè)試技術(shù)。

wKgZPGiC4yaARoPQAALACSLIEbg693.pngTestCenter

2. 技術(shù)架構(gòu)與部署方式
ATECLOUD:
云原生架構(gòu):基于瀏覽器運(yùn)行,支持多終端訪問,無(wú)需本地安裝,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于云端并加密管理。
開放式硬件兼容:支持多種儀器型號(hào)自由選型,兼容RS232、CAN、1553B等多種接口,適合多品牌儀器混合使用。
TestCenter:
本地化或混合部署:通常需結(jié)合硬件在環(huán)(HIL)設(shè)備,依賴專用汽車電子測(cè)試硬件(如ECU仿真器、車載總線分析儀),部署復(fù)雜度較高。

3. 開發(fā)模式與使用門檻
ATECLOUD:
無(wú)代碼拖拽式開發(fā):內(nèi)置20000+標(biāo)準(zhǔn)化儀器指令模塊,用戶僅需拖拽組件并配置參數(shù)即可搭建測(cè)試流程,15分鐘完成項(xiàng)目創(chuàng)建,適合非編程人員快速上手。
模板化報(bào)告:支持Word模板導(dǎo)入生成報(bào)告,降低數(shù)據(jù)整理成本。
TestCenter:
專業(yè)化編程需求:需熟悉汽車通信協(xié)議(如CAN FD、AutoSAR)及測(cè)試腳本開發(fā),對(duì)汽車電子工程師技術(shù)要求較高。

wKgZO2iC406ATSI-AAjjZEQiM-k021.pngATECLOUD測(cè)試界面

4. 測(cè)試場(chǎng)景與功能特性
ATECLOUD:
多工位并行測(cè)試:支持多工位擴(kuò)展與統(tǒng)一管理,提升儀器利用率,適用于工廠端批量生產(chǎn)測(cè)試。
靈活場(chǎng)景適配:通過并聯(lián)式多程式編輯,可同時(shí)響應(yīng)復(fù)雜測(cè)試需求。
TestCenter:
汽車專用場(chǎng)景模擬:支持極端環(huán)境(高低溫、振動(dòng))、故障注入、ADAS傳感器仿真等,專注于驗(yàn)證汽車系統(tǒng)的功能安全。

wKgZPGiC42eAUasUAAzHRS8GKYs848.pngATECLOUD數(shù)據(jù)分析界面

5. 數(shù)據(jù)管理與智能化水平
ATECLOUD:
可視化看板與云分析:提供實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)看板、多維圖表分析及大數(shù)據(jù)洞察,支持遠(yuǎn)程協(xié)作與分布式測(cè)試。
TestCenter:
高精度時(shí)序同步:微秒級(jí)數(shù)據(jù)采集,滿足ISO 26262等汽車安全標(biāo)準(zhǔn),注重?cái)?shù)據(jù)可追溯性與合規(guī)性。

通過以上5點(diǎn)的區(qū)分,我們可以明顯了解到兩種平臺(tái)的在各個(gè)方面差異巨大,汽車電子領(lǐng)域TestCenter更顯其專業(yè)性,而在儀器儀表測(cè)試行業(yè)中ATECLOUD則更為適合。

審核編輯 黃宇

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  • 自動(dòng)化測(cè)試

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