在開始芯片測試流程之前應(yīng)先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的內(nèi)部電路，主要參數(shù)指標(biāo)，各個引出線的作用及其正常電壓。

芯片很敏感，所以測試的時候要注意不要引起引腳之間的短路，任何一瞬間的短路都能被捕捉到，從而造成芯片燒壞。本篇文章納米軟件小編將帶大家全方位了解IC芯片測試流程及IC芯片自動化測試平臺。

集成電路芯片的測試（ICtest）分類

1、晶圓測試（wafertest）

是在晶圓從晶圓廠生產(chǎn)出來后，切割減薄之前的測試。其設(shè)備通常是測試廠商自行開發(fā)制造或定制的，一般是將晶圓放在測試平臺上，用探針探到芯片中事先確定的測試點，探針上可以通過直流電流和交流信號，可以對其進行各種電氣參數(shù)測試。

2、芯片測試（chiptest）

是在晶圓經(jīng)過切割、減薄工序，成為一片片獨立的chip之后的測試。其設(shè)備通常是測試廠商自行開發(fā)制造或定制的，一般是將晶圓放在測試平臺上，用探針探到芯片中事先確定的測試點，探針上可以通過直流電流和交流信號，可以對其進行各種電氣參數(shù)測試。

chiptest和wafertest設(shè)備Z主要的區(qū)別是因為被測目標(biāo)形狀大小不同因而夾具不同。

3、封裝測試（packagetest）

packagetest是在芯片封裝成成品之后進行的測試。由于芯片已經(jīng)封裝，所以不再需要無塵室環(huán)境，測試要求的條件大大降低。

通常包含測試各種電子或光學(xué)參數(shù)的傳感器，但通常不使用探針探入芯片內(nèi)部（多數(shù)芯片封裝后也無法探入），而是直接從管腳連線進行測試。由于packagetest無法使用探針測試芯片內(nèi)部，因此其測試范圍受到限制，有很多指標(biāo)無法在這一環(huán)節(jié)進行測試。

不同芯片適用的測試

對于芯片面積大、良率高、封裝成本低的芯片，通常可以不進行wafertest，而芯片面積小、良率低、封裝成本高的芯片，Z好將很多測試放在wafertest環(huán)節(jié)，及早發(fā)現(xiàn)不良品，避免不良品混入封裝環(huán)節(jié)，無謂地增加封裝成本。

芯片的測試過程

芯片測試的過程是將封裝后的芯片置于各種環(huán)境下測試其電氣特性，如消耗功率、運行速度、耐壓度等。

經(jīng)測試后的芯片，依其電氣特性劃分為不同等級。而特殊測試則是根據(jù)客戶特殊需求的技術(shù)參數(shù)，從相近參數(shù)規(guī)格、品種中拿出部分芯片，做有針對性的專門測試，看是否能滿足客戶的特殊需求，以決定是否須為客戶設(shè)計專用芯片。

經(jīng)一般測試合格的產(chǎn)品貼上規(guī)格、型號及出廠日期等標(biāo)識的標(biāo)簽并加以包裝后即可出廠。而未通過測試的芯片則視其達到的參數(shù)情況定作降級品或廢品。

IC測試的設(shè)備，由于IC的生產(chǎn)量通常非常巨大，因此像萬用表、示波器一類手工測試儀器是一定不能勝任的，目前的測試設(shè)備通常都是全自動化、多功能組合測量裝置，并由程序控制，你基本上可以認(rèn)為這些測試設(shè)備就是一臺測量專用工業(yè)機器人。

芯片自動化測試平臺

市面上芯片自動化測試系統(tǒng)五花八門，目前上市面上使用比較多的如ATECLOUD芯片自動測試平臺。

使用ATECLOUD芯片自動測試系統(tǒng)整個過程只需1.5~2分鐘即可完成芯片諸多參數(shù)的測試，而采集數(shù)據(jù)與報告導(dǎo)出只需15秒即可完成，相比人工手動測試和記錄報告效率提升50-100倍，同時只需一個懂儀器操作的人員即可完成測試，極大節(jié)省了人力成本。

本文內(nèi)容源于【IC測試之家】