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MLCC電容失效分析案例

止于夢想 ? 來源:csdn ? 作者:csdn ? 2025-08-05 15:10 ? 次閱讀
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本文章是筆者整理的備忘筆記。希望在幫助自己溫習(xí)避免遺忘的同時,也能幫助其他需要參考的朋友。如有謬誤,歡迎大家進行指正。

1、MLCC電容的結(jié)構(gòu)
多層陶瓷電容器是由印好電極(內(nèi)電極)的陶瓷介質(zhì)膜片以錯位的方式疊合起來,經(jīng)過一次性高溫?zé)Y(jié)形成陶瓷芯片,再在芯片的兩端封上金屬層(外電極)制成的電容。

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2、MLCC電容的特點
機械強度:硬而脆,這是陶瓷材料的機械強度特點。

熱脆性:MLCC內(nèi)部應(yīng)力很復(fù)雜,所以耐溫度沖擊的能力很有限。

3、MLCC電容的失效模式

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(1) 焊接錫量不當
當溫度發(fā)生變化時,過量的焊錫在貼片電容上產(chǎn)生很高的張力,會使電容內(nèi)部斷裂或者電容器脫帽,裂紋一般發(fā)生在焊錫少的一側(cè);焊錫量過少會造成焊接強度不足,電容從PCB 板上脫離,造成開路故障。

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(2) 墓碑效應(yīng)
在回流焊過程中,貼片元件兩端電極受到焊錫融化后的表面張力不平衡會產(chǎn)生轉(zhuǎn)動力矩,將元件一端拉偏形成虛焊,轉(zhuǎn)動力矩較大時元件一端會被拉起,形成墓碑效應(yīng)。

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原因:

本身兩端電極尺寸差異較大,錫鍍層不均勻;PCB板焊盤大小不等、有污物或水分、氧化以及焊盤有埋孔,錫粉氧化等。

措施:

① 焊接之前對PCB板進行清洗烘干,去除表面污漬及水分;

② 進行焊接前檢查,確認左右焊盤尺寸相同;

③ 錫膏放置時間不能過長,焊接前需要進行充分的攪拌;

(3) 陶瓷介質(zhì)內(nèi)空洞

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原因:

① 介質(zhì)膜片表面吸附有雜質(zhì);

② 電極印刷過程中混入雜質(zhì);

③內(nèi)電極漿料混有雜質(zhì)或有機物的分散不均勻。

(4) 電極內(nèi)部分層

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原因:多層陶瓷電容器的燒結(jié)為多層材料堆疊共燒。瓷膜與內(nèi)漿在排膠和燒結(jié)過程中的收縮率不同,在燒結(jié)成瓷過程中,芯片內(nèi)部產(chǎn)生應(yīng)力,使MLCC產(chǎn)生再分層。

預(yù)防措施:在MLCC的制作中,采用與瓷粉匹配更好的內(nèi)漿,可以降低分層開裂的風(fēng)險。

(5) 漿料堆積

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原因:

① 內(nèi)漿中的金屬顆粒分散不均勻;

② 局部內(nèi)電極印刷過厚;

③ 內(nèi)電極漿料質(zhì)量不佳。

(6)機械應(yīng)力裂紋

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原因:多層陶瓷電容器的特點是能夠承受較大的壓應(yīng)力,但抗彎曲能力比較差。當PCB板發(fā)生彎曲變形時,MLCC的陶瓷基體不會隨板彎曲,其長邊承受的應(yīng)力大于短邊,當應(yīng)力超過MLCC的瓷體強度時,彎曲裂紋就會出現(xiàn)。電容在受到過強機械應(yīng)力沖擊時,一般會形成45度裂紋和Y型裂紋。

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常見應(yīng)力源:工藝過程中電路板操作;流轉(zhuǎn)過程中的人、設(shè)備、重力等因素;通孔元器件插入;電路測試,單板分割;電路板安裝;電路板點位鉚接;螺絲安裝等。

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措施:

①選擇合適的PCB厚度。

②設(shè)計PCBA彎曲量時考慮MLCC能承受的彎曲量。比較重的元器件盡量均勻擺放,減少生產(chǎn)過程中由于重力造成的板彎曲。

③優(yōu)化MLCC在PCB板的位置和方向,減小其在電路板上的承受的機械應(yīng)力,MLCC應(yīng)盡量與PCB上的分孔和切割線或切槽保持一定的距離,使得MLCC在貼裝后分板彎曲時受到的拉伸應(yīng)力最小。

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④MLCC的貼裝方向應(yīng)與開孔、切割線或切槽平行,以確保MLCC在PCB分板彎曲時受到的拉伸應(yīng)力均勻,防止切割時損壞。

⑤MLCC盡量不要放置在螺絲孔附近,防止鎖螺絲時撞擊開裂。在必須放置電容的位置,可以考慮引線式封裝的電容器。

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⑥測試時合理使用支撐架,避免板受力彎曲。

(7)熱應(yīng)力裂紋

電容在受到過強熱應(yīng)力沖擊時,產(chǎn)生的裂紋無固定形態(tài),可分布在不同的切面,嚴重時會導(dǎo)致在電容側(cè)面形成水平裂紋。

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原因:熱應(yīng)力裂紋產(chǎn)生和電容本身耐焊接熱能力不合格與生產(chǎn)過程中引入熱沖擊有關(guān)??赡艿脑虬ǎ豪予F返修不當、SMT爐溫不穩(wěn)定、爐溫曲線變化速率過快等。

措施:

①工藝方法應(yīng)多考慮MLCC的溫度特性和尺寸,1210以上的大尺寸MLCC容易造成受熱不均勻,產(chǎn)生破壞性應(yīng)力,不宜采用波峰焊接;

②注意焊接設(shè)備的溫度曲線設(shè)置。參數(shù)設(shè)置中溫度跳躍不能大于150℃,溫度變化不能大于2℃/s,預(yù)熱時間應(yīng)大于2 min,焊接完畢不能采取輔助降溫設(shè)備,應(yīng)自然隨爐溫冷卻。

③手工焊接前,應(yīng)增加焊接前的預(yù)熱工序,手工焊接全過程中禁止烙鐵頭直接接觸電容電極或本體。復(fù)焊應(yīng)在焊點冷卻后進行,次數(shù)不得超過2次

(8)電應(yīng)力裂紋

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過電應(yīng)力導(dǎo)致產(chǎn)品發(fā)生不可逆變化,表現(xiàn)為耐壓擊穿,嚴重時導(dǎo)致多層陶瓷電容器開裂、爆炸,甚至燃燒等嚴重后果。遭受過度電性應(yīng)力傷害的MLCC,裂紋從內(nèi)部開始呈爆炸狀分散。

措施:

①在器件選型時應(yīng)注意實際工作電壓不能高 于器件的額定工作電壓;

②避免浪涌、靜電現(xiàn)象對器件的沖擊。
————————————————

來源:csdn

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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