Texas Instruments AFE3256 256通道模擬前端 (AFE) 設(shè)計用于滿足基于平板檢測器 (FPD) 的數(shù)字X射線系統(tǒng)的要求。AFE3256具有256個集成器、帶雙電源的相關(guān)雙采樣器 (CDS) 和256:2模擬多路復(fù)用器。該器件還具有兩個16位逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。來自ADC的串行數(shù)據(jù)采用低壓差分信令 (LVDS) 格式。

數(shù)據(jù)手冊：*附件：Texas Instruments AFE3256 256通道模擬前端數(shù)據(jù)手冊.pdf

TI AFE3256通常也稱為讀出集成電路 (ROIC)，可使用多種功耗模式和系統(tǒng)內(nèi)調(diào)試選項等特性來優(yōu)化整體系統(tǒng)性能。睡眠和待機模式能夠大幅降低功耗，這對于電池供電型系統(tǒng)至關(guān)重要。

特性

• 高性能：
  • 噪聲：440個電子RMS（1.2pC輸入電荷范圍）
  • 低相關(guān)噪聲
  • 全通道積分非線性：16位時為±2LSB
  • 掃描時間：<16μs至204.8μs
• 集成：
  • 可編程滿量程輸入電荷量范圍：0.3pC至12.5pC，分辨率為0.3pC
  • 內(nèi)部時序發(fā)生器 (TG)
  • 內(nèi)置相關(guān)雙采樣器
  • 軟件可編程電子或空穴積分模式
  • 流水線式“集成和讀取”，用于提高集成期間的吞吐量數(shù)據(jù)讀取
  • 串行LVDS輸出
  • 片上溫度傳感器
• 256通道
• 片上、16位ADC
• 單個1.85V電源供電運行的簡單供電方案
• 多種功耗模式，功耗范圍為1mW/ch至2mW/ch
• 睡眠和待機的掉電模式
• 分箱模式支持
• 定制薄膜覆晶 (COF) 封裝

應(yīng)用

• X射線平板探測器
• 電荷檢測器
• 電容測量

框圖