如何判斷防震基座安裝AB膠的施工質量是否達標？-江蘇泊蘇系統(tǒng)集成有限公司

邊緣與溢出控制

膠層邊緣需與基座 / 基礎接觸面緊密貼合，無明顯脫膠（邊緣翹起寬度＞1mm 即為不合格）。

非粘結區(qū)域無膠料殘留：溢出的膠料需徹底清理，避免固化后形成硬點導致振動傳導異常（尤其半導體設備對微米級平整度敏感）。

顏色與均勻性

固化后膠層顏色需均勻一致，無局部發(fā)黃、發(fā)灰（可能因混合不均或固化溫度異常導致成分分解）。

二、物理性能檢測（核心指標）

1. 固化程度驗證

硬度測試：用邵氏硬度計（如 Shore D 型，針對環(huán)氧類 AB 膠）檢測膠層表面，硬度需符合說明書要求（如≥80D），且同一區(qū)域不同點的硬度偏差≤5D（硬度不足說明固化不完全，會導致強度衰減）。

溶劑擦拭測試：用蘸有無水乙醇的無塵布輕擦膠層表面，若出現溶解、發(fā)粘現象，說明固化未完全，判定為不合格。

2. 粘結強度檢測（破壞性 / 抽樣檢測）

剪切強度測試：在同批次施工的樣板（與實際基材相同）上進行剪切試驗，測試值需≥設計要求（如半導體行業(yè)通常要求≥10MPa），且斷裂位置需在基材而非膠層（若膠層內斷裂，說明粘結強度不足）。

拉伸強度測試：對膠層進行拉伸試驗，確保拉伸強度符合標準（如≥15MPa），且延伸率適中（避免過脆導致振動下開裂）。

3. 尺寸穩(wěn)定性

測量膠層厚度：固化后厚度與施工時的設計厚度偏差需≤±0.2mm（過厚可能因收縮導致基座微變形，影響設備水平度）。

無明顯收縮裂紋：膠層表面及邊緣不得出現肉眼可見裂紋（收縮率需≤0.5%，可通過固化前后尺寸對比計算）。

三、應用適配性檢測（針對半導體場景）

抗振動性能

模擬設備運行時的振動環(huán)境（如通過振動臺施加 10-2000Hz 的正弦振動），測試后檢查膠層是否出現剝離、裂紋，或基座與基礎的相對位移量是否超過 0.01mm（需用激光干涉儀測量）。

潔凈度與低揮發(fā)

Particle（顆粒）檢測：用粒子計數器檢測膠層表面及周圍環(huán)境，確保固化后無粉塵脫落（Class 1000 潔凈室要求≥0.5μm 顆粒數＜100 個 /ft3）。

VOC 揮發(fā)測試：通過熱脫附 - 氣相色譜（TD-GC）檢測膠層在工作溫度（如 60℃）下的揮發(fā)物，總揮發(fā)量需＜0.1mg/m2?h（避免污染半導體晶圓）。

耐溫與耐化學性

高低溫循環(huán)測試（如 - 40℃~85℃，100 次循環(huán)）后，膠層無開裂、脫膠，硬度變化率≤10%。

耐溶劑測試：接觸半導體常用化學品（如異丙醇、氫氟酸）后，膠層無溶脹、變色（浸泡 24 小時后重量變化率≤1%）。

四、施工過程追溯驗證

記錄完整性

施工記錄需包含：AB 膠批次、配比精度（偏差需≤±2%）、混合攪拌時間、脫泡參數、固化溫度 / 時間等，數據不全或異常（如配比錯誤、固化時間不足）可直接判定為不合格。

環(huán)境參數合規(guī)性

施工時的溫度（15-30℃）、濕度（40%-60%）、潔凈度（Class 1000 及以上）需符合要求，偏離范圍過大可能導致質量隱患。

總結

半導體場景中 AB 膠的施工質量需滿足 “零缺陷外觀 + 達標物理性能 + 適配半導體環(huán)境” 的三重標準。外觀和過程記錄可初步篩查不合格項，而粘結強度、抗振動性、潔凈度等核心指標需通過實驗室檢測驗證。若任一指標不達標，需返工處理，否則可能因膠層失效導致設備振動超標，影響芯片制造精度。