chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

設計信息賦能 - AI 讓半導體檢測與診斷更給力

PDF Solutions ? 2025-08-19 13:45 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

引言


人工智能AI)的進步正為包括半導體制造在內(nèi)的多個行業(yè)帶來革命性變革。利用 AI 開展半導體檢測與診斷工作,已成為一種可能改變行業(yè)格局的策略,有助于提高生產(chǎn)效率、識別以往無法察覺的缺陷,并縮短產(chǎn)品上市周期。本文將探討人工智能與半導體設計信息相結(jié)合后,如何為更高效的檢測與診斷流程助力。


半導體檢測面臨的挑戰(zhàn)


半導體制造本身具有極高的復雜性,涉及微觀結(jié)構(gòu)和復雜設計,每個環(huán)節(jié)都對精度有嚴苛要求。其中最突出的挑戰(zhàn)是檢測傳統(tǒng)方法(如光學檢測)無法識別的缺陷,包括亞表面缺陷、微小過孔或隱蔽短路等。


傳統(tǒng)檢測方法(如光柵掃描電子束技術(shù))的吞吐量較低,難以滿足現(xiàn)代生產(chǎn)周期的高速需求。這些挑戰(zhàn)亟需更智能、更快速、更可靠的解決方案,而這也為 AI 技術(shù)在半導體檢測領(lǐng)域的應用奠定了基礎(chǔ)。本文將探討幾個我們認為AI 有望推動檢測與測試工作實現(xiàn)提速增效、提升可靠性的領(lǐng)域。


推動 AI 應用于檢測的基礎(chǔ)能力


人工智能驅(qū)動的檢測流程將以多項基礎(chǔ)能力為支撐,每項能力都可能在優(yōu)化檢測結(jié)果中發(fā)揮關(guān)鍵作用。這些能力包括:


c1b947dc-7cbf-11f0-9080-92fbcf53809c.png



圖片來源:視頻資料


1、eProbe技術(shù):與傳統(tǒng)光柵掃描電子束方法不同,eProbe采用點掃描方式,可直接跳轉(zhuǎn)至目標區(qū)域。這種創(chuàng)新的掃描方法能使吞吐量實現(xiàn)數(shù)量級提升。


2、Fire AI 與模糊模式算法Fire AI 平臺可匯總設計幾何特征和電氣性能,實現(xiàn)更精準的缺陷檢測。其模糊模式算法能將布局模式歸類為失效模式家族,提高檢測的針對性。


3、引導式分析:通過將設計數(shù)據(jù)和掃描診斷數(shù)據(jù)整合到引導式分析工具中,工程師能更深入地掌握問題根源,從而更快速、準確地開展診斷工作。

具備儀表盤功能的自動化每日良率摘要;

可檢測以往無法識別的其他根本原因;

將掃描診斷得出的物理位置信息與布局模式分析相關(guān)聯(lián);

識別良率問題中的布局敏感性;


4、與西門子EDA Tessent 的集成:西門子的 Tessent 平臺增強了掃描診斷功能,能提供失效單元和網(wǎng)絡的相關(guān)信息,并通過先進的機器學習算法(根本原因解卷積)實現(xiàn)失效模式提取。這一合作體現(xiàn)了設計信息與人工智能驅(qū)動的分析之間的協(xié)同效應。

將 Tessent 的掃描診斷數(shù)據(jù)導入Exensio平臺 ;

原始診斷報告包含失效網(wǎng)絡、單元及物理位置信息;

基于機器學習的“良率洞察”可分析芯片群體模式;

該集成解決方案能實現(xiàn)更高效的失效分析與診斷;


基于人工智能的智能檢測方案


人工智能與半導體檢測的融合將催生多項創(chuàng)新,同時提升檢測的速度與準確性。借助半導體設計信息,AI 算法能夠生成針對性檢測方案、確定缺陷檢測的關(guān)鍵區(qū)域,并優(yōu)化診斷流程。以下是我們認為人工智能將產(chǎn)生變革性影響的三個關(guān)鍵應用領(lǐng)域。


c1c58ace-7cbf-11f0-9080-92fbcf53809c.png

圖片來源:視頻資料


1、隨機缺陷檢測


受時間限制,傳統(tǒng)隨機缺陷檢測通常僅分析極小比例的關(guān)鍵特征。而借助人工智能,這一過程的效率將大幅提升。通過利用設計信息,人工智能可優(yōu)化掃描位置,引導電子束檢測聚焦于最可能存在缺陷的區(qū)域。


新方法具體如下:

通過了解電子束在產(chǎn)品布局上的表現(xiàn),優(yōu)化掃描位置選擇;

優(yōu)先檢測電子束可觀測的關(guān)鍵導線;

在相同時間預算內(nèi),實現(xiàn)更高比例的關(guān)鍵區(qū)域檢測;

相比無人工智能支持的方案,可掃描的可觀測導線長度比例顯著提高;


選擇標準包括優(yōu)先考慮:

信噪比良好的金屬線;

長度足夠、能體現(xiàn)關(guān)鍵區(qū)域特征的導線;

接地特性適宜、可被電子束檢測的導線;


2、未知系統(tǒng)性缺陷檢測


半導體制造中的未知系統(tǒng)性失效模式是一大難題,若無合適的檢測算法,這類缺陷往往難以被發(fā)現(xiàn)。人工智能可通過分析設計模式,并依據(jù)歷史數(shù)據(jù)和性能數(shù)據(jù)確定潛在失效位點的優(yōu)先級,從而應對這一挑戰(zhàn)。

在人工智能支持下,具體方法如下:

對整個布局進行繪圖分析;

利用模糊模式算法將模式歸類為失效模式組;

為未知系統(tǒng)性模式優(yōu)先分配檢測資源;


目標是大幅提高系統(tǒng)性失效模式的覆蓋率,捕捉高達 99% 的未知系統(tǒng)性模式位置。


3、掃描測試驅(qū)動的檢測


將掃描測試數(shù)據(jù)與檢測過程相結(jié)合,能進一步放大人工智能的作用。通過分析掃描向量并識別失效網(wǎng)絡,人工智能模型可生成針對性檢測方案,以定位系統(tǒng)性失效模式。這種融合能使工程師將物理設計屬性與觀測到的缺陷相關(guān)聯(lián),顯著提高診斷準確性。


例如,若某一掃描測試發(fā)現(xiàn)某一網(wǎng)絡失效,人工智能可分析布局并識別潛在失效位點(如過孔或交叉金屬線)。這種方法能實現(xiàn)針對性調(diào)查,減少時間和資源消耗,同時提升整體診斷水平。


該方法將利用掃描測試結(jié)果指導檢測:

識別與掃描測試失效相關(guān)的特定網(wǎng)絡;

分析這些網(wǎng)絡內(nèi)部及周邊潛在的系統(tǒng)性失效模式;

優(yōu)化電子束檢測方案,聚焦這些特定模式;

即便系統(tǒng)性失效對良率的影響比隨機缺陷小100倍,也能成功識別;


人工智能應用的戰(zhàn)略優(yōu)勢


將人工智能整合到半導體檢測流程中,可帶來多方面的顯著優(yōu)勢:



提高吞吐量:eProbe 等人工智能驅(qū)動工具可優(yōu)先處理關(guān)鍵區(qū)域,在減少檢測時間的同時擴大覆蓋范圍。這使制造商能滿足緊張的生產(chǎn)進度要求,同時不影響缺陷檢測效果。


降低成本:通過聚焦高優(yōu)先級區(qū)域、減少不必要的檢測,人工智能可最大限度降低資源消耗。再加上其增強診斷的能力,能實現(xiàn)更具成本效益的運營。


提升準確性:人工智能具備分析設計數(shù)據(jù)和性能模式的能力,可使缺陷檢測和診斷更精準,確保更高的良率和更低的每十億缺陷數(shù)(DPB)。

面向未來:隨著半導體為5G 等新興技術(shù)提供支持,人工智能驅(qū)動的檢測能力可提供滿足不斷變化的需求所需的適應性和精度。


半導體檢測的發(fā)展方向


利用人工智能將設計數(shù)據(jù)與檢測、診斷相結(jié)合,可能是一場范式轉(zhuǎn)變。從優(yōu)化隨機缺陷檢測到發(fā)現(xiàn)未知系統(tǒng)性失效,再到增強診斷能力,人工智能為重新定義半導體制造的可能性開辟了道路。


為充分發(fā)揮人工智能的潛力,半導體制造商應考慮以下后續(xù)步驟:


投資人工智能平臺:Fire AI 和西門子Tessent 等平臺在整合設計、掃描測試數(shù)據(jù)與檢測流程方面具備成熟能力。

加強技能培養(yǎng):為團隊配備有效操作人工智能驅(qū)動系統(tǒng)所需的知識和工具。

采用協(xié)作模式:設計、測試和分析平臺之間的合作可釋放協(xié)同效應,最大限度發(fā)揮人工智能的作用。


通過這些策略,制造商不僅能解決當前的檢測挑戰(zhàn),還能為未來構(gòu)建競爭優(yōu)勢。


結(jié)論


通過將設計信息與檢測、診斷相結(jié)合,半導體制造商無需等待大量訓練數(shù)據(jù),就能顯著改進缺陷檢測和良率管理工作。這種方法有望在檢測效率和系統(tǒng)性缺陷檢測方面實現(xiàn)數(shù)量級提升,為在半導體制造中應用有效的人工智能模型提供了途徑。


設計、測試和良率信息的這種融合,將是半導體檢測與診斷能力的重大進步,尤其在解決過孔和接觸等難以檢測的缺陷,以及應對傳統(tǒng)檢測方法的吞吐量限制方面效果顯著。


聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 半導體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    336

    文章

    29570

    瀏覽量

    252017
  • AI
    AI
    +關(guān)注

    關(guān)注

    88

    文章

    37012

    瀏覽量

    290024
  • 人工智能
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1811

    文章

    49497

    瀏覽量

    258186
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    工業(yè)視覺網(wǎng)關(guān):RK3576多路檢測與邊緣AI

    IPC+獨顯的組合。 二、方案核心:多路檢測 + 編解碼 + 邊緣AI + MES對接多路并發(fā)采集RK3576 提供 3×4-lane MIPI-CSI,配合視頻轉(zhuǎn)換模塊可并發(fā)接入 12路
    發(fā)表于 10-16 17:56

    AI6G與衛(wèi)星通信:開啟智能天網(wǎng)新時代

    需求?傳統(tǒng)網(wǎng)絡會因流量激增而擁堵,而AI的6G網(wǎng)絡則能提前預測流量模式,動態(tài)調(diào)整資源分配。 AI算法能夠?qū)崟r分析海量數(shù)據(jù),包括用戶位置、網(wǎng)絡負載、歷史流量模式等。在2025年上海世
    發(fā)表于 10-11 16:01

    “準”字當頭:鑫圖光電以“高靈敏之眼” 半導體檢測精度提升

    僅成像,更能對光子的物理特性、數(shù)量及時空分布進行精準量化,因此被譽為“光子的度量衡器”。在半導體檢測中,科學相機展現(xiàn)出廣泛的應用潛力,其響應波長覆蓋從紫外到可見光
    的頭像 發(fā)表于 09-17 11:36 ?246次閱讀
    “準”字當頭:鑫圖光電以“高靈敏之眼” <b class='flag-5'>賦</b><b class='flag-5'>能</b><b class='flag-5'>半導體檢測</b>精度提升

    華為算支撐AI產(chǎn)業(yè)發(fā)展

    在全球AI產(chǎn)業(yè)蓬勃發(fā)展的浪潮中,人工智能技術(shù)正以前所未有的速度重塑全球經(jīng)濟格局和產(chǎn)業(yè)生態(tài)。作為數(shù)字經(jīng)濟發(fā)展的前沿陣地,廣東省肩負著推動AI技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)升級的重要使命。在國家“數(shù)字中國”戰(zhàn)略指引下,廣東省正加速培育新質(zhì)生產(chǎn),以
    的頭像 發(fā)表于 09-16 15:22 ?588次閱讀

    聞泰科技功率半導體如何電氣化系統(tǒng)

    作為全球汽車半導體龍頭之一,聞泰科技半導體產(chǎn)品廣泛應用于驅(qū)動系統(tǒng)、電源系統(tǒng)、電控系統(tǒng)、智能座艙系統(tǒng)和ADAS等領(lǐng)域,在現(xiàn)有客戶案例中,單車應用公司半導體產(chǎn)品最高超1000顆。本期將重點聚焦功率
    的頭像 發(fā)表于 09-11 17:22 ?1207次閱讀
    聞泰科技功率<b class='flag-5'>半導體</b>如何<b class='flag-5'>賦</b><b class='flag-5'>能</b>電氣化系統(tǒng)

    FOSAN富捷科技:多元場景深度,釋放半導體器件核心價值

    電子、醫(yī)療健康等十大核心領(lǐng)域,為各行業(yè)設備與系統(tǒng)提供穩(wěn)定可靠的核心元件支撐,以技術(shù)推動產(chǎn)業(yè)高效升級。 一、BMS 電池管理:筑牢電池安全運行防線 在電池管理系統(tǒng)(BMS)領(lǐng)域,富信半導體的器件產(chǎn)品為電池安全與壽命保駕護航。其
    的頭像 發(fā)表于 09-08 14:45 ?419次閱讀
    FOSAN富捷科技:多元場景深度<b class='flag-5'>賦</b><b class='flag-5'>能</b>,釋放<b class='flag-5'>半導體</b>器件核心價值

    晶圓隱裂檢測系統(tǒng)助力半導體視覺檢測

    面向未來更高分辨率、更快速的光學成像系統(tǒng)是半導體檢測的核心競爭。51camera通過持續(xù)技術(shù)創(chuàng)新和模塊化產(chǎn)品策略,提供高可靠性的定制化解決方案;
    的頭像 發(fā)表于 08-21 16:48 ?406次閱讀
    晶圓隱裂<b class='flag-5'>檢測</b>系統(tǒng)助力<b class='flag-5'>半導體</b>視覺<b class='flag-5'>檢測</b>

    深愛半導體 代理 SIC213XBER / SIC214XBER 高性能單相IPM模塊

    空間、降低研發(fā)生產(chǎn)成本,在小型家電中實現(xiàn)效、空間與成本的優(yōu)化平衡。 突破效瓶頸,駕馭小型化浪潮!面對家電與工業(yè)驅(qū)動領(lǐng)域?qū)Ω咝省O致緊湊、超強可靠性與成本控制的嚴苛需求,深愛半導體重磅推出
    發(fā)表于 07-23 14:36

    信而泰×DeepSeek:AI推理引擎驅(qū)動網(wǎng)絡智能診斷邁向 “自愈”時代

    模態(tài)的技術(shù)特性,DeepSeek正加速推動AI在金融、政務、科研及網(wǎng)絡智能化等關(guān)鍵領(lǐng)域的深度應用。 信而泰:AI推理引擎網(wǎng)絡智能診斷新范
    發(fā)表于 07-16 15:29

    自動對焦技術(shù)助力TGV檢測 半導體檢測精度大突破

    半導體與封裝行業(yè)中,許多檢測場景要求對大面積玻璃基板進行高速檢測時,達到更高的檢測精度和效率。這就對
    的頭像 發(fā)表于 06-27 17:04 ?777次閱讀
    自動對焦技術(shù)助力TGV<b class='flag-5'>檢測</b>  <b class='flag-5'>半導體檢測</b>精度大突破

    大模型在半導體行業(yè)的應用可行性分析

    有沒有這樣的半導體專用大模型,縮短芯片設計時間,提高成功率,還能幫助新工程師更快上手?;蛘哕浻布梢栽谠O計和制造環(huán)節(jié)確實有實際應用。會不會存在AI缺陷檢測。 能否應用在工藝優(yōu)化和預測
    發(fā)表于 06-24 15:10

    【HarmonyOS 5】VisionKit人臉活體檢測詳解

    【HarmonyOS 5】VisionKit人臉活體檢測詳解 ##鴻蒙開發(fā)能力 ##HarmonyOS SDK應用服務##鴻蒙金融類應用 (金融理財# 一、VisionKit人臉活體檢測
    的頭像 發(fā)表于 06-21 11:52 ?531次閱讀
    【HarmonyOS 5】VisionKit人臉活<b class='flag-5'>體檢測</b>詳解

    RAKsmart服務器如何AI開發(fā)與部署

    AI開發(fā)與部署的復雜性不僅體現(xiàn)在算法設計層面,更依賴于底層基礎(chǔ)設施的支撐能力。RAKsmart服務器憑借其高性能硬件架構(gòu)、靈活的資源調(diào)度能力以及面向AI場景的深度優(yōu)化,正在成為企業(yè)突破算瓶頸、加速
    的頭像 發(fā)表于 04-30 09:22 ?483次閱讀

    研華AIMB-523工業(yè)主板:半導體檢測設備,性能提升超20%

    研華科技近日推出的AIMB-523工業(yè)主板,專為半導體檢測設備設計,適配AMD Ryzen 7000系列處理器與B650芯片組,其卓越性能較同類設備提升超過20%,充分滿足了半導體檢測設備對超高
    的頭像 發(fā)表于 12-11 11:32 ?1134次閱讀

    燧原科技入選先進計算新質(zhì)生產(chǎn)典型應用案例

    近日,工業(yè)和信息化部電子信息司發(fā)布了《先進計算新質(zhì)生產(chǎn)典型應用案例公示》,燧原科技“基于國產(chǎn)云端算
    的頭像 發(fā)表于 12-04 15:26 ?1018次閱讀