硬盤的物理結(jié)構(gòu)可以分為外部結(jié)構(gòu)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。外部結(jié)構(gòu)主要包括硬盤的外殼和電路板，硬盤的外部物理故障通常是電路板故障。
硬盤的電路板上分布著主控芯片、緩存、電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片、BIOS及其他電子元器件。在電路板前端還有硬盤的電源接口和數(shù)據(jù)線接口。這些電路板上的元器件都有出現(xiàn)故障的可能。

1、電路板供電故障。
硬盤的電源線有4個(gè)接線柱，其中紅色線電壓+5V，黃色線電壓+12V，兩個(gè)黑色的為地線，通過線性電源變換電路，變換為硬盤正常共工作的各種電壓。
硬盤供電電路故障通常表現(xiàn)：不通電、檢測不到硬盤、盤片不起轉(zhuǎn)、磁頭不尋道等。供電電路通常出現(xiàn)問題的位置在接線柱、濾波電容、二極管、三極管、場效應(yīng)管、電感、保險(xiǎn)電阻等。
硬盤電路故障原因：供電不穩(wěn)定，瞬間高壓燒毀硬盤電路板。
硬盤中的保險(xiǎn)電阻或保護(hù)二極管，被統(tǒng)稱為保險(xiǎn)。如果硬盤遭遇不正常電壓，保險(xiǎn)會(huì)燒毀，保護(hù)硬盤上其他部件的安全。

2、電路板接口故障。
這里的電路板接口通常指數(shù)據(jù)接口，硬盤的數(shù)據(jù)接口類型有IDE、SATA、SCSI、SAS、FC等。數(shù)據(jù)接口是硬盤與計(jì)算機(jī)之間傳輸數(shù)據(jù)的通路。接口出現(xiàn)故障的表現(xiàn)為檢測不到硬盤、亂碼、參數(shù)識別錯(cuò)誤等。
電路板接口出現(xiàn)故障的位置通常是接口芯片或與之匹配的晶振，包括接口插針折斷、接口虛焊、接口排阻損壞等。IDE接口的故障率相對于其他接口的故障率更高一些。

3、電路板緩存故障。
所有硬盤的電路板上都有一顆緩存芯片，用于臨時(shí)存放計(jì)算機(jī)與硬盤之間的緩沖數(shù)據(jù)。在硬盤的微處理器中有專門的緩沖管理器，緩沖管理器將存儲(chǔ)空間分割成獨(dú)立的緩沖片段。微處理器使用專門的寄存器保存這些緩沖片段的地址以供存取操作。 緩存出現(xiàn)問題可能導(dǎo)致硬盤不被識別、亂碼、操作系統(tǒng)異常死機(jī)等故障表現(xiàn)，不過緩沖芯片的故障率并不高。

4、電路板BIOS故障。
電路板的BIOS芯片中含有固件信息，用于保存硬盤容量、接口信息等參數(shù)。硬盤所有的工作流程都與BIOS芯片的程序有關(guān)，BIOS芯片內(nèi)的數(shù)據(jù)讀取次數(shù)非常頻繁，因此硬盤通電或者斷電時(shí)就會(huì)有導(dǎo)致BIOS程序丟失或者紊亂的可能性。
BIOS芯片故障通常表現(xiàn)為硬盤認(rèn)錯(cuò)型號，不能識別等。

5、電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片故障。
電路板的電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片主要用于驅(qū)動(dòng)硬盤的主軸電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)，以此來帶動(dòng)硬盤高速旋轉(zhuǎn)，使硬盤能夠快速的讀取數(shù)據(jù)。
硬盤的電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片是電路板中最容易發(fā)生故障的芯片之一。硬盤長時(shí)間高負(fù)荷工作會(huì)導(dǎo)致硬盤電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片溫度過高。電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片故障會(huì)導(dǎo)致硬盤電機(jī)無法起轉(zhuǎn)，起轉(zhuǎn)達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)速度等。

審核編輯 黃宇