之前的文章已經(jīng)詳細(xì)闡述過晶振對(duì)于汽車的重要性，本文將進(jìn)一步探討：車規(guī)級(jí)晶振是怎樣煉成的？

眾所周知，“車規(guī)級(jí)”在電子信息產(chǎn)業(yè)中代表著針對(duì)汽車電子領(lǐng)域的高規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)與要求，是衡量電子元器件、零部件等能否適配汽車應(yīng)用場(chǎng)景的重要指標(biāo)。

如何判斷一款電子元器件達(dá)到了車規(guī)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)呢？如果你是電子行業(yè)從業(yè)者，一定對(duì)AEC-Q測(cè)試不陌生。

AEC-Q 測(cè)試是由汽車電子委員會(huì)（Automotive Electronics Council，AEC）制定的一系列針對(duì)汽車電子零部件的可靠性和質(zhì)量認(rèn)證測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，屬于美國汽車工業(yè)行動(dòng)集團(tuán)（AIAG）的一部分。其核心目的是確保汽車電子元件在嚴(yán)苛的車載環(huán)境下（如高溫、高濕、振動(dòng)、電磁干擾等）能夠長期穩(wěn)定工作，降低汽車電子系統(tǒng)的故障風(fēng)險(xiǎn)，保障行車安全。

一句話總結(jié)就是：電子元器件能不能達(dá)到車規(guī)級(jí)，AEC-Q說了算。那么，這場(chǎng)測(cè)試到底有哪些項(xiàng)目，又有怎樣的要求呢？

AEC-Q測(cè)試涵蓋幾乎所有汽車電子零部件，包括集成電路（IC）、分立器件、被動(dòng)元件、傳感器、連接器等。按元件類型，該測(cè)試又分為多個(gè)子規(guī)范，如下表所示：

表：AEC-Q測(cè)試名稱及測(cè)試元件類型

測(cè)試內(nèi)容大致如下：

環(huán)境測(cè)試

溫度循環(huán)：模擬汽車運(yùn)行中的極端溫度變化（如-55℃至+125℃、-40℃至+125℃等），測(cè)試元件的精度穩(wěn)定性

高溫存儲(chǔ)/工作：驗(yàn)證元件在高溫下的長期耐受性

濕度測(cè)試：如高溫高濕偏壓（THB）測(cè)試、鹽霧測(cè)試等，評(píng)估元件抗腐蝕和絕緣性能

振動(dòng)/沖擊：模擬汽車行駛中的機(jī)械應(yīng)力，測(cè)試結(jié)構(gòu)可靠性

電氣測(cè)試

參數(shù)穩(wěn)定性：如電壓/電流特性、頻率精度（對(duì)晶振尤為重要）、功耗等在不同環(huán)境下的波動(dòng)

耐電壓/浪涌：驗(yàn)證元件在汽車電路瞬態(tài)電壓（如啟動(dòng)沖擊）下的安全性

ESD（靜電放電）/EMC（電磁兼容）：測(cè)試抗干擾能力和電磁輻射合規(guī)性

機(jī)械測(cè)試

引線強(qiáng)度：針對(duì)引腳式元件，測(cè)試焊接點(diǎn)的抗彎折/拉伸能力

封裝可靠性：如芯片粘接強(qiáng)度、封裝裂紋檢測(cè)（通過X射線或染色滲透）

長期可靠性測(cè)試

老化測(cè)試：通過長期通電或高溫加速老化，評(píng)估元件壽命

疲勞測(cè)試：如多次溫度循環(huán)或機(jī)械振動(dòng)，檢測(cè)性能退化趨勢(shì)

可以說，一顆車規(guī)級(jí)晶振的誕生，不僅要經(jīng)歷“水深火熱”還要經(jīng)歷“千錘百煉”。在晶寶自建的可靠性實(shí)驗(yàn)室里，車規(guī)級(jí)晶振要?dú)v經(jīng)長達(dá)2-3個(gè)月的測(cè)試周期，也正因如此，晶寶車規(guī)生產(chǎn)線生產(chǎn)的每一顆車規(guī)級(jí)晶振，其品質(zhì)與性能都無可挑剔。

憑借過硬的品質(zhì)和性能、高可靠的量產(chǎn)能力以及官方認(rèn)證的“硬實(shí)力”，晶寶股份成功進(jìn)入眾多頭部汽車廠商的供應(yīng)鏈名單，甚至成為部分車廠供應(yīng)鏈白名單中的一員。未來，晶寶將繼續(xù)發(fā)力汽車電子，打造高品質(zhì)車規(guī)級(jí)晶振，助力全球汽車產(chǎn)業(yè)發(fā)展。

審核編輯 黃宇