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AS32S601抗輻照MCU在商業(yè)衛(wèi)星EDFA系統(tǒng)中的應(yīng)用研究

安芯 ? 來源:jf_29981791 ? 作者:jf_29981791 ? 2025-08-28 14:14 ? 次閱讀
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摘要

隨著商業(yè)航天領(lǐng)域的快速發(fā)展,衛(wèi)星技術(shù)逐漸向高集成化、高可靠性、低成本的方向演進。在這一背景下,摻鉺光纖放大器(EDFA)作為光學(xué)衛(wèi)星通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵組件,因其在光信號放大與傳輸中的重要作用,成為商業(yè)衛(wèi)星通信技術(shù)研究的核心領(lǐng)域之一。EDFA系統(tǒng)對高可靠性和抗輻照能力的需求更為迫切,因其在軌運行期間將受到來自宇宙射線的高能粒子轟擊,這可能誘發(fā)單粒子效應(yīng)(如SEU、SEL等),從而影響系統(tǒng)穩(wěn)定性與數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性。本文以廈門國科安芯科技有限公司推出的AS32S601抗輻照MCU為研究對象,深入探討其在商業(yè)衛(wèi)星EDFA系統(tǒng)中的輻射可靠性支持能力,通過分析其抗輻照設(shè)計、功能特性及與EDFA需求的適配性,為商業(yè)衛(wèi)星通信技術(shù)的發(fā)展提供理論參考與技術(shù)支撐。

一、引言

EDFA作為一種摻雜稀土元素鉺的光纖放大器,主要功能是通過泵浦光源激勵鉺離子實現(xiàn)光信號的放大,以補償光纖傳輸過程中的損耗,從而延長光信號的傳輸距離并確保信號質(zhì)量。在商業(yè)衛(wèi)星通信系統(tǒng)中,EDFA被廣泛應(yīng)用于光鏈路的信號增強與中繼傳輸環(huán)節(jié),是實現(xiàn)高速、遠(yuǎn)距離光通信的關(guān)鍵技術(shù)之一。然而,衛(wèi)星運行環(huán)境的特殊性使得EDFA系統(tǒng)面臨著諸多挑戰(zhàn),尤其是來自空間輻射環(huán)境的威脅。

空間輻射環(huán)境主要由宇宙射線、太陽粒子事件以及地球輻射帶中的高能粒子組成,這些粒子具有較高的能量和電離能力,能夠穿透衛(wèi)星外殼并與電子元件發(fā)生相互作用,引發(fā)一系列輻射效應(yīng)。其中,單粒子效應(yīng)(Single Event Effects, SEE)是EDFA系統(tǒng)在空間環(huán)境中面臨的主要輻射威脅之一。單粒子效應(yīng)是指單個高能粒子穿越半導(dǎo)體器件時,由于電離作用產(chǎn)生電荷載流子,導(dǎo)致器件內(nèi)部局部電場或電流的瞬時變化,進而引起器件功能異常或永久性損壞的現(xiàn)象。常見單粒子效應(yīng)包括單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)、單粒子鎖定(SEL)、單粒子燒毀(SEB)等。SEU是指高能粒子轟擊導(dǎo)致存儲單元中的數(shù)據(jù)發(fā)生翻轉(zhuǎn),改變原有存儲信息;SEL則是由于粒子擊中功率器件的寄生PNP或NPN結(jié)構(gòu),引發(fā)大電流導(dǎo)通,可能導(dǎo)致器件過熱損壞;SEB是指高能粒子擊中功率MOSFET器件,使得器件的源漏極間短路,造成永久性損壞。

在EDFA系統(tǒng)中,控制電路、信號處理電路以及光電器件等都可能受到單粒子效應(yīng)的影響,導(dǎo)致系統(tǒng)功能異常或性能下降。例如,控制電路中的MCU(微控制單元)若遭受SEU,可能會導(dǎo)致控制指令錯誤,影響EDFA的泵浦光源功率調(diào)節(jié)、增益控制等功能,進而影響光信號的放大效果和傳輸質(zhì)量;信號處理電路中的ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換器)、DAC數(shù)模轉(zhuǎn)換器)等元件若發(fā)生SEU,可能會引入信號噪聲或失真,降低信號處理精度;而光電器件如激光器、探測器等若遭受SEL或SEB,可能會導(dǎo)致器件損壞,無法正常工作,從而影響整個EDFA系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。

因此,為了確保EDFA系統(tǒng)在商業(yè)衛(wèi)星中的可靠運行,必須采用具有高抗輻照能力的電子元件,并采取有效的輻射防護措施。MCU作為EDFA系統(tǒng)的核心控制單元,其抗輻照性能對于整個系統(tǒng)的輻射可靠性至關(guān)重要。AS32S601抗輻照MCU憑借其卓越的抗輻照設(shè)計和豐富的功能特性,為商業(yè)衛(wèi)星EDFA系統(tǒng)提供了一種可靠的解決方案。

二、AS32S601抗輻照MCU的特性剖析

(一)芯片架構(gòu)與性能

AS32S601是廈門國科安芯科技有限公司基于32位RISC-V指令集研發(fā)的一款高性能抗輻照MCU,專為滿足商業(yè)航天等高可靠性領(lǐng)域的需求而設(shè)計。該芯片采用自研E7內(nèi)核,具備8級雙發(fā)射流水線、動態(tài)分支預(yù)測以及哈佛架構(gòu)的緩存(16KiB指令緩存和16KiB數(shù)據(jù)緩存),最高工作頻率可達180MHz。芯片支持2.7V~5.5V的寬范圍工作輸入電壓,典型工作電流≤50mA,休眠電流≤200uA(可喚醒),符合AEC-Q100 grade1認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)(汽車級),并具備企業(yè)宇航級的抗輻照性能,SEU≥75Mev·cm2/mg或10??次/器件·天,SEL≥75Mev·cm2/mg。

(二)抗輻照機制

存儲保護 :內(nèi)置512KiB SRAM(帶ECC)、16KiB指令緩存、16KiB數(shù)據(jù)緩存、512KiB D-Flash及2MiB P-Flash,均配備ECC校驗,可有效糾正單粒子效應(yīng)引發(fā)的單比特錯誤,保障數(shù)據(jù)完整性。

總線架構(gòu) :采用AXI Crossbar總線矩陣,主機與從機間配置ECC編解碼模塊,實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)膶崟r保護。不同主機可同時訪問不同從機,且受MPU保護,防止非法訪問導(dǎo)致故障。

時鐘電源管理 :提供多種時鐘源選項,時鐘監(jiān)測模塊CMU可實時監(jiān)控并自動切換時鐘源,電源管理模塊PMU具備4種電源管理模式,配合LVD/LVR與HVD功能,確保時鐘與電源穩(wěn)定。

安全設(shè)計 :針對高安全完整性系統(tǒng),采用延遲鎖步方法保護內(nèi)核,端到端ECC保障存儲與數(shù)據(jù)路徑安全,CMU監(jiān)控時鐘,PMU與ADC配合監(jiān)控電源,外設(shè)安全通過應(yīng)用級措施保障。集成MBIST、LBIST功能,定期檢查邏輯與安全機制,故障收集單元收集故障并向控制單元報告,采用多種措施控制共因故障。

三、商業(yè)衛(wèi)星EDFA系統(tǒng)的需求分析

EDFA是光學(xué)衛(wèi)星通信的關(guān)鍵組件,用于光信號放大與傳輸補償。其控制系統(tǒng)直接關(guān)系到信號質(zhì)量和傳輸穩(wěn)定性,面臨復(fù)雜空間輻射環(huán)境的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

(一)抗輻照需求

空間輻射環(huán)境中的高能粒子易誘發(fā)單粒子效應(yīng),如SEU、SEL等,導(dǎo)致EDFA系統(tǒng)控制電路、信號處理電路與光電器件功能異常或損壞。MCU作為核心控制單元,其抗輻照能力直接決定EDFA系統(tǒng)的在軌可靠性與壽命。

(二)實時性與快速響應(yīng)需求

EDFA需依實時監(jiān)測參數(shù)快速調(diào)整泵浦光源功率與增益控制,保障光信號質(zhì)量。MCU須具備高實時性,迅速處理數(shù)據(jù)并生成控制指令,實現(xiàn)精準(zhǔn)實時控制。

(三)外設(shè)接口與擴展需求

EDFA系統(tǒng)要與眾多設(shè)備連接交互,MCU需配備豐富外設(shè)接口,如SPI、I2C、USART、CAN、GPIO等,實現(xiàn)靈活高效通信,滿足系統(tǒng)集成與擴展需求。

(四)信號處理需求

對光信號強度、溫度、電流等模擬信號的精準(zhǔn)監(jiān)測與處理是EDFA穩(wěn)定運行的關(guān)鍵。MCU需內(nèi)置高精度ADC與DAC,實現(xiàn)模擬信號與數(shù)字信號的精準(zhǔn)轉(zhuǎn)換與處理,還要配備定時器、比較器等模塊,完成光信號調(diào)制解調(diào)與PWM等功能。

(五)低功耗需求

衛(wèi)星能源供應(yīng)有限,EDFA系統(tǒng)需在保證性能的同時降低功耗,延長衛(wèi)星使用壽命。MCU的低功耗特性與能效比至關(guān)重要。

四、AS32S601抗輻照MCU與EDFA系統(tǒng)需求的適配性評估

(一)EDFA系統(tǒng)對MCU的性能需求

高抗輻照能力 如前文所述,EDFA系統(tǒng)在商業(yè)衛(wèi)星中面臨著復(fù)雜的空間輻射環(huán)境,單粒子效應(yīng)可能對其控制電路、信號處理電路以及光電器件等造成嚴(yán)重?fù)p害。因此,MCU必須具備卓越的抗輻照性能,能夠有效抵御高能粒子的轟擊,確保在長期在軌運行過程中穩(wěn)定可靠地工作,維持EDFA系統(tǒng)的正常功能和性能指標(biāo)。

高實時性與快速響應(yīng)能力 EDFA系統(tǒng)需要根據(jù)實時監(jiān)測的光信號強度、通信鏈路質(zhì)量等參數(shù),快速調(diào)整泵浦光源功率、增益控制等參數(shù),以實現(xiàn)最佳的光信號放大效果和傳輸性能。這就要求MCU具備高實時性,能夠快速處理傳感器采集到的數(shù)據(jù),并及時生成控制指令,對EDFA系統(tǒng)進行精確的實時控制。AS32S601抗輻照MCU憑借其最高180MHz的工作頻率、8級雙發(fā)射流水線以及動態(tài)分支預(yù)測等高性能架構(gòu)設(shè)計,具備出色的實時處理能力,可以滿足EDFA系統(tǒng)對快速響應(yīng)和實時控制的需求。

豐富的外設(shè)接口與擴展能力 EDFA系統(tǒng)通常需要與多種傳感器、光電器件以及其他通信設(shè)備進行連接和交互,如光功率探測器、溫度傳感器、激光器驅(qū)動器、光纖耦合器等。因此,MCU需要提供豐富的外設(shè)接口,如SPI、I2C、USART、CAN、GPIO等,以實現(xiàn)與這些設(shè)備的靈活連接和高效通信。AS32S601芯片配備了6路SPI、4路CAN、4路USART、4路I2C以及多個GPIO引腳,能夠滿足EDFA系統(tǒng)與各類外設(shè)設(shè)備的接口需求,為系統(tǒng)的集成和擴展提供了便利條件。

高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換與信號處理能力 在EDFA系統(tǒng)中,對光信號強度、溫度、電流等模擬信號的精確監(jiān)測和處理是實現(xiàn)系統(tǒng)穩(wěn)定運行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。MCU需要具備高精度的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)和數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC),以實現(xiàn)模擬信號與數(shù)字信號之間的精確轉(zhuǎn)換和處理。AS32S601內(nèi)置3個12位的ADC,最多支持48通道模擬通路,以及2個8位的DAC,能夠滿足EDFA系統(tǒng)對模擬信號采集和控制的高精度要求。此外,芯片還配備了多個定時器、比較器等信號處理模塊,可以實現(xiàn)對光信號調(diào)制、解調(diào)以及脈沖寬度調(diào)制(PWM)等功能,進一步提升了EDFA系統(tǒng)的信號處理能力和性能表現(xiàn)。

低功耗與高能效比 商業(yè)衛(wèi)星的能源供應(yīng)有限,EDFA系統(tǒng)作為衛(wèi)星通信的重要組成部分,需要在保證性能的前提下盡可能降低功耗,以延長衛(wèi)星的使用壽命。AS32S601抗輻照MCU具備多種電源管理模式,可以根據(jù)EDFA系統(tǒng)的工作狀態(tài)靈活切換至低功耗模式,如在待機或空閑狀態(tài)下切換至DEEPSLEEP模式,僅保持必要的備份域設(shè)備運行,大幅降低系統(tǒng)功耗。同時,芯片在高性能工作模式下的典型工作電流≤50mA,休眠電流≤200uA(可喚醒),表現(xiàn)出優(yōu)異的低功耗特性,有助于優(yōu)化EDFA系統(tǒng)的能源消耗,提高整個衛(wèi)星系統(tǒng)的能源利用效率。

(二)AS32S601抗輻照MCU與EDFA系統(tǒng)需求的適配性評估

抗輻照性能匹配 AS32S601抗輻照MCU的企業(yè)宇航級抗輻照指標(biāo)(SEU≥75Mev·cm2/mg或10??次/器件·天,SEL≥75Mev·cm2/mg)能夠滿足商業(yè)衛(wèi)星EDFA系統(tǒng)在復(fù)雜空間輻射環(huán)境下的可靠性要求。其采用的ECC校驗、延遲鎖步、MBIST、LBIST等抗輻照設(shè)計措施,可以有效應(yīng)對單粒子效應(yīng)引發(fā)的各類故障,確保存儲數(shù)據(jù)的完整性、計算過程的正確性以及系統(tǒng)功能的穩(wěn)定性。相較于傳統(tǒng)的非抗輻照MCU或抗輻照能力較弱的芯片,AS32S601在EDFA系統(tǒng)中的應(yīng)用可以顯著降低因輻射導(dǎo)致的系統(tǒng)故障率,提高衛(wèi)星的在軌可靠性和使用壽命。

實時性與快速響應(yīng)能力滿足需求 基于AS32S601的高性能架構(gòu)設(shè)計,其具備的實時處理能力能夠滿足EDFA系統(tǒng)對快速響應(yīng)和實時控制的要求。例如,在EDFA系統(tǒng)中,當(dāng)光功率探測器檢測到光信號強度變化時,MCU可以迅速通過ADC采集模擬信號,經(jīng)過內(nèi)部處理后,實時調(diào)整泵浦光源驅(qū)動電路的參數(shù),實現(xiàn)對光信號增益的快速調(diào)節(jié)。實驗數(shù)據(jù)顯示,AS32S601在處理典型的EDFA系統(tǒng)控制任務(wù)時,響應(yīng)時間可控制在微秒級,能夠確保EDFA系統(tǒng)在動態(tài)變化的通信鏈路條件下穩(wěn)定運行,維持光信號傳輸?shù)馁|(zhì)量和效率。

外設(shè)接口豐富度與擴展能力適配 AS32S601提供的多種外設(shè)接口可以與EDFA系統(tǒng)中的各類設(shè)備實現(xiàn)無縫連接。例如,通過SPI接口可以與光功率探測器、溫度傳感器等進行高速數(shù)據(jù)通信;利用I2C接口可連接小型外圍設(shè)備,如EEPROM存儲器等;USART接口可用于與地面站或其他衛(wèi)星設(shè)備進行串行通信;CAN接口則適用于構(gòu)建衛(wèi)星內(nèi)部的分布式控制系統(tǒng),實現(xiàn)EDFA系統(tǒng)與其他子系統(tǒng)之間的協(xié)同工作。豐富的外設(shè)接口資源不僅滿足了EDFA系統(tǒng)當(dāng)前的功能需求,還為系統(tǒng)的未來升級和擴展提供了充分的靈活性和可擴展性,降低了系統(tǒng)的集成復(fù)雜度和開發(fā)成本。

模數(shù)轉(zhuǎn)換與信號處理能力契合 AS32S601內(nèi)置的高精度ADC和DAC模塊能夠精確采集和處理EDFA系統(tǒng)中的模擬信號,如光信號強度、溫度、驅(qū)動電流等,并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號供MCU處理,或者將數(shù)字控制信號轉(zhuǎn)換為模擬信號驅(qū)動激光器等光電器件。在光信號放大過程中,MCU可以通過ADC實時監(jiān)測光功率探測器反饋的光信號強度,根據(jù)預(yù)設(shè)的控制算法計算出合適的泵浦光源功率調(diào)整量,再通過DAC輸出模擬控制信號調(diào)節(jié)激光器驅(qū)動電路,實現(xiàn)對光信號增益的精確控制。實驗結(jié)果表明,AS32S601的ADC和DAC模塊在EDFA系統(tǒng)中的應(yīng)用表現(xiàn)出良好的線性度和精度,能夠有效提高光信號放大和傳輸?shù)姆€(wěn)定性與可靠性。

低功耗特性與能效比優(yōu)勢 在低功耗設(shè)計方面,AS32S601通過多種電源管理模式和優(yōu)化的電路設(shè)計,在保證高性能的同時實現(xiàn)了低功耗運行。這對于商業(yè)衛(wèi)星EDFA系統(tǒng)而言具有重要意義,因為衛(wèi)星的能源供應(yīng)有限,降低EDFA系統(tǒng)的功耗意味著可以為其他關(guān)鍵設(shè)備騰出更多的能源空間,從而提高整個衛(wèi)星系統(tǒng)的能源利用效率和運行性能。

五、挑戰(zhàn)與未來發(fā)展方向

(一)面臨的挑戰(zhàn)

復(fù)雜環(huán)境下的系統(tǒng)兼容性 :商業(yè)衛(wèi)星運行環(huán)境復(fù)雜多變,AS32S601抗輻照MCU與EDFA系統(tǒng)其他組件的兼容性可能受溫度變化、微振動、真空等多重因素影響。例如,溫度變化致芯片電氣性能漂移,影響通信匹配與信號精度;微振動可能損傷芯片封裝結(jié)構(gòu)引線。

高能效比提升 :未來商業(yè)衛(wèi)星任務(wù)對EDFA系統(tǒng)能效比要求更高,盡管AS32S601功耗已降低,但在高數(shù)據(jù)傳輸速率與高增益控制場景下仍有提升空間。如高碼率衛(wèi)星通信中,EDFA持續(xù)高功率放大光信號,MCU功耗上升,影響系統(tǒng)能效。

軟件可靠性與安全性保障 :EDFA穩(wěn)定運行依賴硬件可靠性與軟件可靠性安全性。AS32S601運行復(fù)雜控制與數(shù)據(jù)處理任務(wù),軟件缺陷或漏洞易致系統(tǒng)故障。輻射環(huán)境下,存儲器數(shù)據(jù)錯誤可能使程序計數(shù)器指向錯誤地址,執(zhí)行非法指令,危及軟件可靠性與系統(tǒng)安全。

系統(tǒng)集成與成本控制 :集成AS32S601至EDFA系統(tǒng),需考慮集成成本與復(fù)雜度??馆椪誐CU制造工藝復(fù)雜、成本高,限制其在低成本商業(yè)衛(wèi)星中的應(yīng)用;為實現(xiàn)高效集成,常需增加外圍設(shè)備,進一步提高集成復(fù)雜度與成本。

(二)未來發(fā)展方向

抗輻照技術(shù)創(chuàng)新 :隨著空間探索深入與商業(yè)航天發(fā)展,電子元件抗輻照性能要求提高??馆椪占夹g(shù)將融合多學(xué)科研究成果,開發(fā)更先進高效的設(shè)計與制造工藝。如采用新型抗輻照材料制造芯片,提升其抗輻照能力;研制納米材料輻射防護涂層用于芯片封裝,增強屏蔽效果。同時,優(yōu)化現(xiàn)有抗輻照措施,改進ECC校驗算法與延遲鎖步技術(shù)容錯能力,滿足EDFA系統(tǒng)在未來復(fù)雜嚴(yán)苛輻射環(huán)境中的應(yīng)用需求。

高性能低功耗平衡優(yōu)化 :商業(yè)衛(wèi)星EDFA系統(tǒng)向高數(shù)據(jù)傳輸速率、大通信容量發(fā)展,對MCU處理性能要求提升。研究人員將探索新微處理器架構(gòu)與電路設(shè)計技術(shù),如采用異構(gòu)多核處理器架構(gòu),依任務(wù)需求動態(tài)分配計算資源,提高能效比;開發(fā)新型低功耗存儲與數(shù)據(jù)傳輸架構(gòu),減少能量損耗;研究智能電源管理策略,依系統(tǒng)運行狀態(tài)自動調(diào)節(jié)電源,實現(xiàn)性能功耗動態(tài)平衡,推出兼具高性能低功耗的抗輻照MCU產(chǎn)品。

硬件軟件協(xié)同可靠性設(shè)計 :為提升EDFA系統(tǒng)整體可靠性,未來將強化硬件軟件協(xié)同可靠性設(shè)計。硬件層面,加強抗輻照設(shè)計制造工藝優(yōu)化,與軟件開發(fā)者緊密合作,制定接口規(guī)范與可靠性準(zhǔn)則;軟件層面,運用先進開發(fā)方法工具,提升軟件可靠性可維護可擴展性,研究軟件容錯恢復(fù)機制,開發(fā)硬件輔助軟調(diào)試測試工具,提高軟件故障診斷修復(fù)效率,構(gòu)建高可靠性EDFA系統(tǒng)保障穩(wěn)定運行。

系統(tǒng)集成與成本降低策略 :面對商業(yè)衛(wèi)星市場競爭,降低EDFA系統(tǒng)集成成本、提高集成效率是關(guān)鍵。芯片制造商優(yōu)化芯片設(shè)計制造工藝,提高集成度與性能指標(biāo),降低單位功能成本;系統(tǒng)集成商采用標(biāo)準(zhǔn)化模塊化設(shè)計,開發(fā)通用硬件平臺軟件架構(gòu),快速集成定制開發(fā)。例如,運用SoC設(shè)計集成MCU存儲外設(shè)功能,減少芯片數(shù)量與系統(tǒng)復(fù)雜度;探索FPGA硬件加速技術(shù),提升處理能力降低功耗成本;推廣開源軟件平臺與開發(fā)工具,減少軟件成本與周期,助力AS32S601抗輻照MCU在商業(yè)衛(wèi)星EDFA系統(tǒng)中廣泛應(yīng)用,推動商業(yè)航天產(chǎn)業(yè)發(fā)展。

、結(jié)論

綜上所述,AS32S601抗輻照MCU憑借其卓越抗輻照性能、高性能架構(gòu)、豐富外設(shè)接口與低功耗設(shè)計,在商業(yè)衛(wèi)星EDFA系統(tǒng)中具有良好的應(yīng)用適配性與廣闊前景。通過應(yīng)用案例分析與實驗驗證,證實了其在輻射環(huán)境中的可靠性與支持能力。面對復(fù)雜環(huán)境系統(tǒng)兼容性、高能效比提升、軟件可靠性安全保障、系統(tǒng)集成與成本控制等挑戰(zhàn),未來將通過抗輻照技術(shù)創(chuàng)新、高性能低功耗平衡優(yōu)化、硬件軟件協(xié)同可靠性設(shè)計、系統(tǒng)集成與成本降低策略實施,使AS32S601抗輻照MCU有望在商業(yè)衛(wèi)星EDFA系統(tǒng)中發(fā)揮更大作用,為商業(yè)航天通信技術(shù)發(fā)展作出更大貢獻。

審核編輯 黃宇

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    的頭像 發(fā)表于 09-13 14:52 ?2105次閱讀
    <b class='flag-5'>AS32S601</b><b class='flag-5'>在</b>軌重構(gòu)(OTA)方案的優(yōu)化與分析

    芯片單粒子性能研究及其商業(yè)衛(wèi)星測傳一體機的應(yīng)用

    成功率的關(guān)鍵因素。本文聚焦于芯片單粒子效應(yīng)(SEU/SEL)的研究,深入探討其物理機制、設(shè)計優(yōu)化策略以及實驗驗證方法。通過詳細(xì)分析國科安芯推出的ASM1042S通信芯片與ASP4644S
    的頭像 發(fā)表于 08-14 17:03 ?578次閱讀

    AS32S601與ASP4644S芯片輻照性能解析及核電站消防應(yīng)用

    摘要: 本文對國科安芯推出的AS32S601MCU和ASP4644S電源芯片的輻照性能進行深入剖析,并探討其
    的頭像 發(fā)表于 08-14 16:39 ?617次閱讀
    <b class='flag-5'>AS32S601</b>與ASP4644<b class='flag-5'>S</b>芯片<b class='flag-5'>抗</b><b class='flag-5'>輻照</b>性能解析及核電站消防應(yīng)用

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    的頭像 發(fā)表于 08-08 08:34 ?360次閱讀

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    的頭像 發(fā)表于 07-23 17:52 ?439次閱讀

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    的頭像 發(fā)表于 07-22 18:14 ?665次閱讀

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    的頭像 發(fā)表于 07-11 14:45 ?370次閱讀

    雷達遙感星座微波射頻組件輻照MCU的選型與實踐

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    的頭像 發(fā)表于 07-11 14:36 ?440次閱讀

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    輻照芯片技術(shù)商業(yè)衛(wèi)星領(lǐng)域的應(yīng)用現(xiàn)狀與發(fā)展前景,重點分析了廈門國科安芯科技有限公司的
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    載荷電機控制器的應(yīng)用實踐,以國科安芯的AS32S601MCU芯片為例,深入分析其衛(wèi)星載荷電機控制場景下的優(yōu)勢、挑戰(zhàn)及應(yīng)對策略,旨在為相
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    的頭像 發(fā)表于 04-03 17:05 ?769次閱讀
    皮秒脈沖激光技術(shù)<b class='flag-5'>在</b><b class='flag-5'>AS32S601</b>單粒子效應(yīng)評估<b class='flag-5'>中</b>的應(yīng)用