一.血氧計行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)解讀(國際+國內(nèi))
1.1 國際行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
國際上,與脈動式血氧計相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)眾多
ISO9919:1992 EN,規(guī)定了醫(yī)療用脈沖血氧計的各項要求,涵蓋設(shè)備性能、安全性和可靠性等
其適用范圍包括所有類型的醫(yī)療用脈沖血氧計,無論是手持式還是固定式設(shè)備。在性能要求方面,明確了準(zhǔn)確度、穩(wěn)定性、響應(yīng)時間、重復(fù)性、測量范圍和分辨率等指標(biāo),確保設(shè)備能精準(zhǔn)測量患者血氧飽和度
在安全性和可靠性上,要求設(shè)備必須符合相關(guān)安全標(biāo)準(zhǔn),CE認(rèn)證 ,保障設(shè)備在各種條件下穩(wěn)定可靠運行。還規(guī)定制造商要定期對設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)和驗證,并提供校準(zhǔn)和驗證記錄,方便用戶和醫(yī)療機(jī)構(gòu)進(jìn)行維護(hù)
ISO80601-2-61:2017對脈搏血氧計設(shè)備基本安全和基本性能提出特殊要求,涉及電氣安全與電磁兼容性等多方面標(biāo)準(zhǔn),確保設(shè)備在復(fù)雜電磁環(huán)境下也能正常工作,保障患者使用安全;也需要符合IEC60601-1-2
1.2 國內(nèi)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
國內(nèi)醫(yī)藥行業(yè)中,YY0784-2010是與脈搏血氧儀產(chǎn)品相關(guān)的常用執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn);該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了適用于人體的脈搏血氧儀的基本安全和主要性能的專業(yè)要求,包括脈搏血氧監(jiān)護(hù)儀、脈搏血氧探頭、探頭電纜延長線等正常使用中的必要部件
在脈搏血氧儀的主要技術(shù)參數(shù)方面,明確了血氧飽和度相關(guān)概念,如SaO?為動脈氧飽和度,SpO?為脈搏血氧飽和度 ,F(xiàn)O?Hb為部分飽和度,SO?為功能氧飽和度,并給出數(shù)學(xué)表達(dá)式
對顯示范圍與聲稱范圍進(jìn)行區(qū)分,避免概念混淆,為產(chǎn)品的規(guī)范生產(chǎn)和使用提供明確指導(dǎo)
二.儀器EMC測試相關(guān)要求
2.1 EMC測試項目ESD靜電
靜電放電抗擾度測試
依據(jù)IEC60601-1-2標(biāo)準(zhǔn),模擬人體靜電放電對脈動式血氧計的干擾
測試時,在設(shè)備的外殼、接口等部位施加不同等級的靜電放電脈沖,觀察設(shè)備是否能正常工作,有無功能異常、數(shù)據(jù)錯誤或損壞等情況
可能會在設(shè)備開機(jī)狀態(tài)下,對其按鍵、顯示屏邊框等容易接觸到人體的部位進(jìn)行±8kV的空氣放電測試和±4kV的接觸放電測試 ,確保設(shè)備在日常使用中遇到靜電干擾時仍能穩(wěn)定運行
2.2 EMC測試項目CE Test
射頻電磁場輻射抗擾度測試
按照標(biāo)準(zhǔn),將設(shè)備置于射頻電磁場環(huán)境中,頻率范圍通常為80MHz-2.7GHz
通過調(diào)節(jié)場強(qiáng)大小,測試設(shè)備在不同強(qiáng)度射頻電磁場干擾下的性能
在1V/m的場強(qiáng)下,檢查設(shè)備的血氧飽和度測量精度是否在允許誤差范圍內(nèi),脈率測量是否準(zhǔn)確,以及設(shè)備是否會出現(xiàn)死機(jī)、重啟等異?,F(xiàn)象,以此評估設(shè)備對射頻電磁場輻射的抗干擾能力
場強(qiáng)通常3 V/m或更高
2.3 EMC測試項目 EFT
電快速瞬變脈沖群抗擾度測試
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn),向設(shè)備的電源端口、信號端口注入電快速瞬變脈沖群
脈沖的上升時間、脈沖寬度和重復(fù)頻率等參數(shù)有嚴(yán)格規(guī)定,比如上升時間為5ns,脈沖寬度為50ns,重復(fù)頻率為5kHz,觀察設(shè)備在脈沖群干擾下能否保持正常工作,防止因電氣環(huán)境中的瞬態(tài)干擾導(dǎo)致設(shè)備故障
典型等級:±2 kV電源線,±1 kV信號線
2.4 EMC測試項目Surge
浪涌抗擾度測試
模擬電力系統(tǒng)中的開關(guān)操作、雷擊等產(chǎn)生的浪涌現(xiàn)象,對設(shè)備的電源端口和通信端口進(jìn)行測試
依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),設(shè)置不同的浪涌電壓和電流等級,線-線之間施加1kV的浪涌電壓,線-地之間施加2kV的浪涌電壓 ,檢測設(shè)備在浪涌沖擊下的耐受能力,確保設(shè)備在惡劣電氣環(huán)境下的可靠性
三.行業(yè)EMC痛點剖析
3.1 測量準(zhǔn)確性受干擾影響
在復(fù)雜的醫(yī)療環(huán)境中,存在大量的電磁干擾源,如其他醫(yī)療設(shè)備、無線通信設(shè)備等。這些干擾會影響脈動式血氧計的信號采集和處理,導(dǎo)致測量的血氧飽和度和脈率數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確;當(dāng)附近有正在工作的高頻手術(shù)設(shè)備時,其產(chǎn)生的強(qiáng)電磁輻射可能使血氧計的測量結(jié)果出現(xiàn)偏差,給醫(yī)生的診斷和治療帶來誤導(dǎo)
3.2 不同環(huán)境適應(yīng)性差
脈動式血氧計可能會在不同的溫度、濕度、氣壓等環(huán)境條件下使用
現(xiàn)有的一些產(chǎn)品在環(huán)境適應(yīng)性方面存在不足。在高溫高濕的環(huán)境中,設(shè)備內(nèi)部的電子元件可能會受潮損壞,或者性能發(fā)生變化,影響測量精度;在低溫環(huán)境下,電池的性能下降,可能導(dǎo)致設(shè)備工作不穩(wěn)定,無法正常測量
部分脈動式血氧計在長時間連續(xù)工作過程中,會出現(xiàn)性能漂移的情況,導(dǎo)致測量結(jié)果逐漸偏離真實值
設(shè)備的抗干擾能力在長時間使用后也可能會下降,無法有效抵御電磁干擾,影響設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性,無法滿足臨床長時間監(jiān)測的需求
3.3 EMC電磁兼容痛點 Top 5
EMC測試項目 | 常見問題表現(xiàn) | 主要原因 | 改進(jìn)措施 |
---|---|---|---|
射頻輻射抗擾度(IEC61000-4-3) | SpO?/脈率讀數(shù)跳變、信號丟失(受Wi-Fi/手機(jī)干擾) | 傳感器電纜屏蔽不足、軟件濾波算法不完善 | 優(yōu)化PCB布局、增加電纜屏蔽層、改進(jìn)數(shù)字濾波算法 |
靜電放電(ESD)(IEC61000-4-2) | 設(shè)備死機(jī)、復(fù)位或誤報“傳感器脫落” | 外殼接地不良、未使用ESD防護(hù)器件 | 加強(qiáng)接地設(shè)計、在接觸點增加TVS二極管等保護(hù)元件 |
電快速瞬變脈沖群(EFT/B)(IEC61000-4-4) | 數(shù)據(jù)漂移、假報警(如心率突然飆升) | 電源濾波不足、信號隔離電路抗擾度差 | 增加π型濾波器、優(yōu)化信號線共模濾波 |
傳導(dǎo)發(fā)射(CE)(CISPR 11) | 電源線噪聲超標(biāo),干擾其他醫(yī)療設(shè)備 | 開關(guān)電源EMI濾波設(shè)計缺陷、未用屏蔽電纜 | 優(yōu)化電源濾波電路(X/Y電容、差模電感)、采用屏蔽線纜 |
工頻磁場抗擾度(IEC61000-4-8) | 數(shù)值波動(靠近變壓器或大電流設(shè)備時) | 傳感器電路對磁場敏感、缺乏磁屏蔽 | 采用差分信號傳輸、關(guān)鍵部件使用高導(dǎo)磁合金屏蔽 |
四.電路設(shè)計EMC解決方案
4.1 硬件電路設(shè)計優(yōu)化
01.濾波電路設(shè)計
在電源輸入端和信號輸入端分別設(shè)計濾波電路。對于電源輸入,采用LC濾波電路,利用電感和電容的特性,阻擋高頻干擾信號進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部,同時平滑直流電源,減少電源波動對電路的影響。在信號輸入端,根據(jù)信號頻率選擇合適的RC濾波電路,濾除混入信號中的高頻噪聲,提高信號的純凈度,確保測量信號準(zhǔn)確傳輸和處理
02.屏蔽設(shè)計
對設(shè)備的電路板進(jìn)行屏蔽處理,使用金屬屏蔽罩將電路板包圍起來,阻止外部電磁干擾進(jìn)入電路板,同時防止電路板內(nèi)部產(chǎn)生的電磁干擾泄漏出去,影響其他設(shè)備。在屏蔽罩與電路板之間采用良好的接地措施,確保屏蔽效果。對于設(shè)備的電纜線,也采用屏蔽電纜,防止信號在傳輸過程中受到外部干擾
03.接地設(shè)計
建立完善的接地系統(tǒng),將設(shè)備的金屬外殼、電路板的接地層等進(jìn)行可靠接地。采用單點接地和多點接地相結(jié)合的方式,對于低頻電路,采用單點接地,避免地環(huán)路產(chǎn)生的干擾;對于高頻電路,采用多點接地,降低接地電阻,提高抗干擾能力。確保接地電阻符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求,一般要求接地電阻小于1Ω ,有效釋放設(shè)備產(chǎn)生的靜電和電磁干擾
4.2 軟件算法優(yōu)化
抗干擾算法設(shè)計
在軟件中設(shè)計抗干擾算法,對采集到的信號進(jìn)行處理。采用數(shù)字濾波算法,如均值濾波、中值濾波等,去除信號中的噪聲和干擾。對于異常數(shù)據(jù)點,通過算法進(jìn)行識別和剔除,避免其對測量結(jié)果產(chǎn)生影響。結(jié)合自適應(yīng)濾波算法,根據(jù)環(huán)境干擾的變化自動調(diào)整濾波參數(shù),提高信號處理的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性
數(shù)據(jù)校驗與糾錯
在數(shù)據(jù)傳輸和存儲過程中,采用數(shù)據(jù)校驗和糾錯技術(shù)。例如,使用CRC(循環(huán)冗余校驗)算法對數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗,在接收端對接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行CRC校驗,若發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)錯誤,通過糾錯算法進(jìn)行糾正,確保數(shù)據(jù)的完整性和準(zhǔn)確性,防止因電磁干擾導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸錯誤而影響測量結(jié)果
4.3 DC電源接口EMC及可靠性設(shè)計
DC 電源接口:用于連接外部電源適配器(如 5V直流輸入),部分主板芯片支持通過 USB 供電
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
3R090L | GDT | 電源接口 | 浪涌,防雷(戶外產(chǎn)品,關(guān)注續(xù)流問題) | 3RXXXL |
SMBJ6.5CA | TVS 瞬態(tài)抑制二極管 | 電源接口 | 浪涌、拋負(fù)載 | SMB/Do-214AA |
CMZ7060A-701T | EMI 共模抑制器 | 電源接口 | CE傳導(dǎo),共模抑制,電流更小,考慮小封裝 | 7060 |
USB-Type-C接口EMC及熱插拔可靠性設(shè)計
USB-Type-C 接口:
USB-Type-C接口具有高速數(shù)據(jù)傳輸能力,廣泛應(yīng)用于機(jī)器與外部存儲設(shè)備、傳感器等的連接。其高速模式下的數(shù)據(jù)傳輸速率可達(dá)10Gbps,能快速傳輸大量數(shù)據(jù),如視覺圖像數(shù)據(jù);具備即插即用特性,方便用戶隨時連接和更換設(shè)備,提高機(jī)器使用的便捷性,在各類機(jī)器應(yīng)用場景中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
ESD0524P | ESD | USB接口 | 浪涌、靜電 | DFN2510 |
ESDSR05 | ESD | USB接口 | 浪涌、靜電 | SOT143 |
GPIO/ UART 接口 EMC及熱插拔可靠性設(shè)計
GPIO 接口(通用輸入輸出):用于連接傳感器、執(zhí)行器等外設(shè),支持自定義編程控制
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
ESD5V0D3B | ESD | GPIO接口 | 浪涌、靜電 | SOD323 |
PBZ1608A102Z0T | 磁珠 | GPIO接口 | 消除高頻干擾 | 1608 |
SPI 接口EMC及熱插拔可靠性設(shè)計
SPI 接口:高速串行通信接口,用于連接存儲芯片、顯示屏等
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
ESD0524P | ESD | SPI接口 | 浪涌、靜電 | DFN2510 |
I2C 通用I/O接口EMC及可靠性設(shè)計
I2C 接口:
I2C(Inter-Integrated Circuit)接口是一種常見的串行通信協(xié)議,廣泛用于連接低速到中等速度的傳感器、存儲器芯片、以及其他外圍設(shè)備。I2C接口由兩個主要的信號線組成:串行數(shù)據(jù)線(SDA)和串行時鐘線(SCL)。
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
ESD5V0D3B | ESD | I2C接口 | 浪涌、靜電 | SOD323 |
JTAG 接口EMC及可靠性設(shè)計
JTAG 接口:
JTAG(Joint Test Action Group ,聯(lián)合測試行動小組 ) 是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議,最高傳輸速率48MHz,主要用于芯片內(nèi)部測試及對系統(tǒng)進(jìn)行仿真、調(diào)試, JTAG 技術(shù)是一種嵌入式調(diào)試技術(shù),它在芯片內(nèi)部封裝了專門的測試電路 TAP ( Test Access Port ,測試訪問口),通過專用的 JTAG 測試工具對內(nèi)部節(jié)點進(jìn)行測試。
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
ESD3V3D8B | ESD | JTAG接口 | 浪涌、靜電 | DFN1006 |
PBZ1608A101Z0T | 磁珠 | JTAG接口 | 消除高頻干擾 | 1608 |
DC電源接口EMC及可靠性設(shè)計
DC 電源接口:用于連接外部電源適配器(如 5V直流輸入),部分主板芯片支持通過 USB 供電
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
3R090L | GDT | 電源接口 | 浪涌,防雷(戶外產(chǎn)品,關(guān)注續(xù)流問題) | 3RXXXL |
SMBJ6.5CA | TVS 瞬態(tài)抑制二極管 | 電源接口 | 浪涌、拋負(fù)載 | SMB/Do-214AA |
CMZ7060A-701T | EMI 共模抑制器 | 電源接口 | CE傳導(dǎo),共模抑制,電流更小,考慮小封裝 | 7060 |
USB-Type-C接口EMC及熱插拔可靠性設(shè)計
USB-Type-C 接口:
USB-Type-C接口具有高速數(shù)據(jù)傳輸能力,廣泛應(yīng)用于機(jī)器與外部存儲設(shè)備、傳感器等的連接。其高速模式下的數(shù)據(jù)傳輸速率可達(dá)10Gbps,能快速傳輸大量數(shù)據(jù),如視覺圖像數(shù)據(jù);具備即插即用特性,方便用戶隨時連接和更換設(shè)備,提高機(jī)器使用的便捷性,在各類機(jī)器應(yīng)用場景中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
ESD0524P | ESD | USB接口 | 浪涌、靜電 | DFN2510 |
ESDSR05 | ESD | USB接口 | 浪涌、靜電 | SOT143 |
GPIO/ UART 接口 EMC及熱插拔可靠性設(shè)計
GPIO 接口(通用輸入輸出):用于連接傳感器、執(zhí)行器等外設(shè),支持自定義編程控制
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
ESD5V0D3B | ESD | GPIO接口 | 浪涌、靜電 | SOD323 |
PBZ1608A102Z0T | 磁珠 | GPIO接口 | 消除高頻干擾 | 1608 |
SPI 接口EMC及熱插拔可靠性設(shè)計
SPI 接口:高速串行通信接口,用于連接存儲芯片、顯示屏等
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
ESD0524P | ESD | SPI接口 | 浪涌、靜電 | DFN2510 |
I2C 通用I/O接口EMC及可靠性設(shè)計
I2C 接口
I2C(Inter-Integrated Circuit)接口是一種常見的串行通信協(xié)議,廣泛用于連接低速到中等速度的傳感器、存儲器芯片、以及其他外圍設(shè)備。I2C接口由兩個主要的信號線組成:串行數(shù)據(jù)線(SDA)和串行時鐘線(SCL)。
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
ESD5V0D3B | ESD | I2C接口 | 浪涌、靜電 | SOD323 |
JTAG 接口EMC及可靠性設(shè)計
JTAG 接口:
JTAG(Joint Test Action Group ,聯(lián)合測試行動小組 ) 是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議,最高傳輸速率48MHz,主要用于芯片內(nèi)部測試及對系統(tǒng)進(jìn)行仿真、調(diào)試, JTAG 技術(shù)是一種嵌入式調(diào)試技術(shù),它在芯片內(nèi)部封裝了專門的測試電路 TAP ( Test Access Port ,測試訪問口),通過專用的 JTAG 測試工具對內(nèi)部節(jié)點進(jìn)行測試
型號 | 器件類型 | 使用位置 | 作用 | 封裝 |
---|---|---|---|---|
ESD3V3D8B | ESD | JTAG接口 | 浪涌、靜電 | DFN1006 |
PBZ1608A101Z0T | 磁珠 | JTAG接口 | 消除高頻干擾 | 1608 |
審核編輯 黃宇
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