Texas Instruments LMK6EVM評估模塊是一個用于評估LMK6C/LMK6P低抖動、高性能、體聲波 (BAW) 固定頻率振蕩器性能的平臺。該BAW是一種微諧振器技術(shù)，能夠?qū)?a target="_blank">高精度和超低抖動時鐘直接集成到包含其他電路的封裝中。LMK6EVM評估模塊可用作時鐘源，用于合規(guī)性測試、性能評估和原始系統(tǒng)原型設(shè)計(jì)。LMK6EVM模塊中的板載邊緣裝接SMA端口可訪問 LMK6C/LMK6P振蕩器的可配置時鐘輸出。這允許該器件使用市售的同軸電纜、適配器或平衡 - 不平衡變壓器（不含）與測試設(shè)備和參考板連接。LMK6EVM評估模塊（帶LMK6C/LMK6P振蕩器）設(shè)計(jì)用于電信、數(shù)據(jù)和企業(yè)網(wǎng)絡(luò)以及工業(yè)應(yīng)用中使用的高速SERDES的參考和內(nèi)核時鐘。

數(shù)據(jù)手冊：*附件：Texas Instruments LMK6EVM評估模塊數(shù)據(jù)手冊.pdf

特性

• 低輸出抖動
• 高性能
• 支持標(biāo)準(zhǔn)3.2mm x 2.5mm和2.5mm x 2mm、4引腳或6引腳封裝振蕩器
• 采用TI BAW技術(shù)的固定頻率振蕩器
• 電源電壓選項(xiàng)：1.8V、2.5V或3.3V

接線圖

示意圖

Texas Instruments LMK6EVM評估模塊技術(shù)解析與應(yīng)用指南

一、產(chǎn)品核心特性與架構(gòu)

LMK6EVM評估模塊是德州儀器(TI)為LMK6x系列高性能體聲波(BAW)振蕩器開發(fā)的專用測試平臺，具有以下關(guān)鍵技術(shù)特性：

?BAW技術(shù)優(yōu)勢?：

• 采用TI專利的體聲波諧振技術(shù)
• 支持3.2mm×2.5mm(DLE)和2.5mm×2mm(DLF)兩種封裝
• 集成四種輸出格式：LVCMOS/LVPECL/LVDS/HCSL

?電氣性能參數(shù)?：

• 超低相位抖動：<100fs RMS（典型值）
• 寬電源電壓范圍：1.8V至3.3V可調(diào)
• 多協(xié)議支持：
  • 以太網(wǎng)時鐘同步
  • 光纖通道時鐘
  • PCIe Gen5參考時鐘

二、硬件設(shè)計(jì)解析

1. 模塊架構(gòu)

• ?雙封裝支持?：板上同時集成DLE和DLF封裝焊盤
• ?獨(dú)立供電系統(tǒng)?：
  • 板載TPS7A9001 LDO穩(wěn)壓器
  • 支持USB(5V)或外部電源(4V)輸入
• ?靈活配置接口?：
  • 8組跳線(J1-J8)實(shí)現(xiàn)功能配置
  • 5個SMA測試端口(P1-P5)

2. 關(guān)鍵電路設(shè)計(jì)

?信號鏈設(shè)計(jì)?：

• 預(yù)配置AC耦合LVCMOS終端
• 用戶可修改的終端網(wǎng)絡(luò)：
  • LVPECL：210Ω端接電阻
  • LVDS：100Ω差分終端
  • HCSL：50Ω單端終端

三、典型應(yīng)用配置

1. 評估板初始化設(shè)置

?硬件連接步驟?：

1. 選擇電源輸入方式（J7跳線）：
   • 引腳1-2：外部電源
   • 引腳3-4：USB電源
2. 設(shè)置工作電壓（J6跳線）
3. 連接測試設(shè)備：
   • 示波器接P1/P2(DLF)或P3/P4(DLE)
   • 相位噪聲分析儀接相應(yīng)端口

?器件安裝注意事項(xiàng)?：

• DLF封裝器件焊接至Y1位置
• DLE封裝器件焊接至Y2位置
• 4引腳LMK6C可共用6引腳焊盤

2. 輸出格式配置指南

四、性能測試數(shù)據(jù)

1. 相位噪聲特性

• 156.25MHz典型值：
  • 10kHz偏移：-135dBc/Hz
  • 1MHz偏移：-160dBc/Hz
  • 集成抖動(12kHz-20MHz)：80fs RMS

2. 電源特性

五、設(shè)計(jì)文件參考

1. PCB堆疊結(jié)構(gòu)

• 4層板設(shè)計(jì)(TOP-GND-PWR-BOT)
• 特性阻抗：
  • 信號層：50Ω單端/100Ω差分
  • 介質(zhì)材料：FR4(εr=4.3~4.8)

2. 關(guān)鍵元件選型

• 去耦電容：
  • 高頻：0.1μF 0603 X7R
  • 儲能：1μF 0603 X7R
• 終端電阻：
  • 精密1% tolerance
  • AEC-Q200認(rèn)證等級