芯片硬件測試用例
SOC回片，第一步就進(jìn)行核心功能點(diǎn)亮，接著都是在做驗(yàn)證測試工作，所以對(duì)于硬件AE，有很多測試要做，bring up 階段和芯片功能驗(yàn)收都是在測試找問題，發(fā)現(xiàn)問題->解決問題循環(huán)，因此測試計(jì)劃、測試用例是項(xiàng)目開始的關(guān)鍵，利用白盒和黑盒覆蓋，保證產(chǎn)品質(zhì)量。 根據(jù)芯片功能，目標(biāo)市場，進(jìn)行測試立項(xiàng)：依據(jù)BRD/MRD/PRD；計(jì)劃：測試需求分析、人力資源時(shí)間線；測試用例設(shè)計(jì)：測試標(biāo)準(zhǔn)、測試環(huán)境、測試工具、測試自動(dòng)化；執(zhí)行：測試缺陷管理、問題改善、評(píng)審、問題落地閉環(huán)。
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