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德州儀器ADS7067:高性能16位SAR ADC的技術(shù)解析與應(yīng)用

科技觀察員 ? 2025-09-23 10:51 ? 次閱讀
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Texas Instruments ADS7067 16位SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 是一款小型8通道高精度逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。ADS7067具有集成的無電容基準(zhǔn)電壓源和基準(zhǔn)電壓源緩沖器,通過減少外部元件減小整體解決方案尺寸。晶圓級(jí)芯片級(jí)封裝和更少外部元件使該器件適合用于空間受限的應(yīng)用。該器件系列包括ADS7067 (800kSPS)和ADS7066 (250kSPS)速度型號(hào)。

數(shù)據(jù)手冊:*附件:Texas Instruments ADS7067 16位SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)據(jù)手冊.pdf

ADS7067內(nèi)置偏移校準(zhǔn)功能,可在系統(tǒng)的寬工作條件下提高精度。可編程平均濾波器實(shí)現(xiàn)更高分辨率測量。ADS7067的八個(gè)通道可單獨(dú)配置為模擬輸入、數(shù)字輸入或數(shù)字輸出,從而減小系統(tǒng)尺寸,簡化混合信號(hào)反饋和數(shù)字控制的電路設(shè)計(jì)

增強(qiáng)型SPI使ADS7067能夠在較低時(shí)鐘速度下實(shí)現(xiàn)高吞吐量,從而簡化電路板布局,并降低系統(tǒng)成本。Texas Instruments ADS7067具有循環(huán)冗余校驗(yàn) (CRC) 功能,用于數(shù)據(jù)讀寫操作和上電配置。

特性

  • 小尺寸解決方案
    • 1.62mm × 1.62mm WCSP
    • 節(jié)省空間、無電容、2.5V內(nèi)部基準(zhǔn)
  • 八通道,可配置為以下任意組合
    • 多達(dá)8路模擬輸入、數(shù)字輸入或數(shù)字輸出
  • 可編程平均濾波器
    • 平均用可編程樣本大小
    • 與內(nèi)部轉(zhuǎn)換進(jìn)行平均
    • 20位分辨率,用于平均輸出
  • 低漏電流多路復(fù)用器,帶通道排序器:
    • 手動(dòng)模式
    • 實(shí)時(shí)模式
    • 自動(dòng)排序模式
  • 出色的交流和直流性能
    • SNR:90dB,THD:-100dB
    • 通過可編程平均濾波器提高SNR
    • INL:±1LSB,16位無失碼
    • 內(nèi)部校準(zhǔn)改善了偏移和漂移
    • 無延遲輸出的高采樣率 (800kSPS)
  • 寬工作范圍
    • 0V至VREF和2 x VREF ADC輸入范圍
    • 模擬電源電壓范圍:3V至5.5V
    • 數(shù)字電源電壓范圍:1.65V至5.5V
    • 溫度范圍:-40°C至+125°C
  • 增強(qiáng)型SPI數(shù)字接口
    • 高速60MHz SPI接口

功能框圖

1.png

德州儀器ADS7067:高性能16位SAR ADC的技術(shù)解析與應(yīng)用

一、產(chǎn)品概述

德州儀器(TI)的ADS7067是一款小型化、高精度的16位逐次逼近寄存器(SAR)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),采用8通道設(shè)計(jì),最高采樣速率達(dá)800kSPS。該器件集成了無電容內(nèi)部基準(zhǔn)和GPIO功能,特別適合空間受限的混合信號(hào)應(yīng)用場景。

?關(guān)鍵特性?:

  • ?分辨率與速度?:16位無失碼,800kSPS采樣率(ADS7067)/250kSPS(ADS7066)
  • ?通道配置?:8通道可靈活配置為模擬輸入、數(shù)字輸入或數(shù)字輸出
  • ?集成特性?:內(nèi)置2.5V無電容基準(zhǔn)、參考緩沖器和可編程平均濾波器
  • ?性能參數(shù)?:SNR達(dá)90dB,THD低至-100dB,INL±1LSB
  • ?工作范圍?:模擬供電3-5.5V,數(shù)字供電1.65-5.5V,溫度范圍-40°C至+125°C
  • ?封裝選項(xiàng)?:1.636mm×1.636mm DSBGA和3mm×3mm WQFN封裝

二、核心技術(shù)解析

1. 模擬輸入與多路復(fù)用器

ADS7067的8個(gè)通道均可獨(dú)立配置為ADC輸入或GPIO,每個(gè)輸入引腳均帶有ESD保護(hù)二極管。模擬輸入等效電路包含采樣開關(guān)(SW)、串聯(lián)電阻(RSW≈150Ω)和采樣電容(CSH≈30pF)。上電時(shí)默認(rèn)所有通道為模擬輸入。

?輸入特性?:

  • 輸入電容:30pF(ADC和MUX)
  • 輸入范圍:0V至VREF(默認(rèn))或2×VREF(通過RANGE位配置)
  • 絕對輸入電壓:-0.1V至AVDD+0.1V

2. 基準(zhǔn)電壓設(shè)計(jì)

器件提供靈活基準(zhǔn)配置方案:

  • ?內(nèi)部基準(zhǔn)?:2.5V±0.3%(25°C),溫度漂移6-19ppm/°C,需1μF去耦電容
  • ?外部基準(zhǔn)?:支持2.4V至AVDD范圍,推薦使用REF60xx系列提高溫漂性能

基準(zhǔn)選擇顯著影響SNR表現(xiàn),使用5V外部基準(zhǔn)可獲得最佳信噪比。

3. 可編程平均濾波器

通過OSR[2:0]位配置平均因子,可將多個(gè)樣本平均輸出20位結(jié)果:

  • 提升有效分辨率(典型ENOB達(dá)14.7位)
  • 降低噪聲影響(標(biāo)準(zhǔn)偏差1.05LSB)
  • 支持手動(dòng)/自動(dòng)序列模式
  • 計(jì)算公式:tAVG = N樣本 × tCYCLE_OSR × 1.06

4. 數(shù)字接口與CRC校驗(yàn)

采用增強(qiáng)型SPI接口(最高60MHz):

  • 內(nèi)置CRC-8-CCITT校驗(yàn)(X8+X2+X1+1多項(xiàng)式)
  • 支持4種數(shù)據(jù)輸出格式(可附加通道ID/狀態(tài)標(biāo)志)
  • 寄存器讀寫操作包含CRC驗(yàn)證機(jī)制

三、典型應(yīng)用設(shè)計(jì)

1. 光學(xué)模塊應(yīng)用

?優(yōu)勢體現(xiàn)?:

  • 小尺寸封裝節(jié)省PCB空間
  • 8通道配置支持多光路監(jiān)測
  • 高SNR(85dB@2kHz)保證信號(hào)質(zhì)量
  • 可編程平均提升弱光信號(hào)檢測

2. 醫(yī)療監(jiān)護(hù)設(shè)備

?關(guān)鍵考量?:

  • -40°C至+125°C寬溫工作
  • 內(nèi)置校準(zhǔn)功能保證長期穩(wěn)定性
  • 多參數(shù)同步采集能力(心電、血氧等)
  • CRC校驗(yàn)確保數(shù)據(jù)可靠性

?電源設(shè)計(jì)建議?:

  • 模擬電源:3.3V/5V LDO,1μF+10μF去耦
  • 數(shù)字電源:與MCU電壓匹配(1.8V/3.3V)
  • 參考引腳:1-10μF低ESR電容

四、性能優(yōu)化指南

1. 布局布線建議

  • 將REF電容盡可能靠近器件引腳
  • 模擬/數(shù)字地分割后單點(diǎn)連接
  • 避免高速信號(hào)線跨越模擬部分
  • 熱焊盤必須接地

2. 校準(zhǔn)與診斷

?校準(zhǔn)流程?:

  1. 設(shè)置CAL=1啟動(dòng)偏移校準(zhǔn)
  2. 等待CAL自動(dòng)清零(約5ms)
  3. 讀取SYSTEM_STATUS確認(rèn)狀態(tài)

?診斷模式?:

  • ?位步進(jìn)測試?:通過BIT_SAMPLE寄存器注入測試電壓
  • ?固定電壓測試?:使能VTEST_EN激活1.8V測試源
  • 診斷密鑰:0x96解鎖配置寄存器

五、選型對比

型號(hào)分辨率采樣率通道數(shù)基準(zhǔn)封裝尺寸
ADS706716位800kSPS8內(nèi)置1.636×1.636mm
ADS706616位250kSPS8內(nèi)置3×3mm
ADS888718位1MSPS1外置4×4mm
ADS131M0824位64kSPS8內(nèi)置5×5mm
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