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AOI與AXI檢測技術(shù)全面解析:原理、差異與選型指南

jf_77159164 ? 來源:jf_77159164 ? 作者:jf_77159164 ? 2025-11-12 10:22 ? 次閱讀
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在電子制造領(lǐng)域,精準(zhǔn)可靠的檢測技術(shù)是產(chǎn)品質(zhì)量的保障。

在SMT生產(chǎn)和PCB組裝過程中,自動光學(xué)檢測(AOI)和自動X射線檢測(AXI)作為兩種重要的檢測技術(shù),各自發(fā)揮著獨特的作用。本文將深入解析這兩種技術(shù)的原理、差異及應(yīng)用場景,為電子制造企業(yè)選擇合適的檢測方案提供參考。

基本概念與技術(shù)原理

自動光學(xué)檢測(AOI)技術(shù)

AOI是一種基于光學(xué)成像的檢測技術(shù),通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像后與數(shù)據(jù)庫中的合格參數(shù)進行比較,經(jīng)過圖像處理檢查出PCB上的缺陷
工作原理

使用一個或多個高清攝像頭捕捉電路板圖像

配備特定角度的光源系統(tǒng),包括熒光燈、LED照明等

采用模板匹配、模式匹配或統(tǒng)計模式匹配等算法分析圖像

將測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格參數(shù)進行比較,識別缺陷

自動X射線檢測(AXI)技術(shù)

AXI利用X射線穿透能力,對檢測不可見焊點特別有效

當(dāng)組裝好的線路板進入機器后,X射線發(fā)射管發(fā)射的射線穿過線路板被下方探測器接收

工作原理

X射線穿過不同材料時被吸收的程度不同

焊點中的鉛大量吸收X射線,在圖像上呈黑點

3D AXI采用分層技術(shù),可對雙面焊點獨立成像

可對BGA焊接連接處進行多層“切片”檢測

核心差異對比

檢測能力差異

缺陷類型AOI檢測能力AXI檢測能力
開路故障可檢測可檢測
焊橋/短路可檢測可檢測
少錫有限檢測(不能檢測焊點跟部)可檢測
焊料空洞不可檢測可檢測
元件缺失可檢測可檢測
錯件/偏移可檢測可檢測
BGA缺陷不可檢測可檢測
電氣性能不可檢測不可檢測

技術(shù)特性差異

成像方式

AOI:利用可見光成像,限于表面可見區(qū)域

AXI:利用X射線透視成像,可檢測隱藏焊點

檢測覆蓋

AOI:對可見焊點和元件檢測效果良好

AXI:對工藝缺陷覆蓋率很高,通常達 97%以上 ,可檢查BGA、CSP等隱藏焊點

編程與設(shè)置

AOI:編程相對簡單,可通過學(xué)習(xí)已知好板或基于算法編程

AXI:系統(tǒng)設(shè)置相對復(fù)雜,需要專業(yè)的X射線成像知識

應(yīng)用場景分析

AOI適用場景

AOI系統(tǒng)可以放置在生產(chǎn)線上的多個位置,主要有三個檢查位置

錫膏印刷之后 :檢查錫膏印刷質(zhì)量,如焊盤上焊錫不足或過多、焊錫橋接等

回流焊前 :檢查元件貼裝質(zhì)量,可發(fā)現(xiàn)來自錫膏印刷和元件貼放的大多數(shù)缺陷

回流焊后 :這是目前AOI最流行的選擇,可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯誤

AOI適用于檢測表面可見的焊點和元件缺陷,對元件漏貼、極性錯誤、偏移等問題有很好的檢測效果

AXI適用場景

AXI特別適用于:

BGA、CSP等隱藏焊點元件的檢測

雙面貼裝線路板的檢測

檢測焊點內(nèi)部的空洞、氣泡等缺陷

高可靠性要求的產(chǎn)品,如通信、汽車電子等領(lǐng)域

技術(shù)優(yōu)勢與局限性

AOI的優(yōu)勢與局限

優(yōu)勢

檢測速度快,適合在線檢測

對可見缺陷有較高的檢測率

編程時間短,靈活性高

設(shè)備成本相對較低

局限

不能檢測電路錯誤

對不可見焊點的檢測無能為力

對PCB翹曲等條件敏感

AXI的優(yōu)勢與局限

優(yōu)勢

對工藝缺陷覆蓋率高達97%以上

可檢測隱藏焊點

不受元件遮擋影響

可提供三維檢測信息

局限

不能測試電路電氣性能缺陷

設(shè)備成本較高

運行維護需要專業(yè)培訓(xùn)

綜合測試策略

在現(xiàn)代電子制造中,沒有單一檢測技術(shù)能完全覆蓋所有缺陷因此,采用組合測試策略已成為行業(yè)趨勢:

AOI與ICT組合

AOI與ICT結(jié)合已成為生產(chǎn)流程控制的有效工具。AOI可以在早期發(fā)現(xiàn)缺陷,降低ICT的故障診斷負擔(dān)。

AXI與ICT組合

AXI主要集中在焊點的質(zhì)量檢測,而ICT可以確認元件的方向和數(shù)值是否正確。這種組合可以相互補償技術(shù)弱點。

AXI與功能測試組合

AXI可以檢測出許多能由ICT檢驗的結(jié)構(gòu)缺陷,還能查出一些ICT查不出的缺陷。雖然AXI不能查出組件的電氣缺陷,但這些缺陷可在功能測試中檢出。

總結(jié)與選型建議

在選擇AOI還是AXI時,電子制造企業(yè)應(yīng)考慮以下因素:

產(chǎn)品特點 :如有大量BGA、CSP等隱藏焊點元件,優(yōu)先考慮AXI;如主要為可見焊點,AOI可能足夠

質(zhì)量要求 :高可靠性產(chǎn)品(汽車電子、通信設(shè)備)可能需要同時配置AOI和AXI

預(yù)算限制 :AXI設(shè)備通常投資高于AOI,需權(quán)衡成本與收益

工藝成熟度 :工藝不穩(wěn)定時,AOI可提供實時反饋;工藝穩(wěn)定但需檢測隱藏焊點時,AXI更合適

生產(chǎn)線配置 :評估檢測設(shè)備在生產(chǎn)線上的位置及與現(xiàn)有設(shè)備的整合性

隨著電子元件的小型化和組裝密度的不斷提高,組合測試策略正成為測試技術(shù)的發(fā)展趨勢。通過合理配置AOI和AXI設(shè)備,制造企業(yè)可以實現(xiàn) 最佳的質(zhì)量控制效果 。

如需了解AOI和AXI檢測技術(shù)的詳細解決方案,請登錄深圳市英賽特自動化設(shè)備有限公司官方網(wǎng)站,獲取更多專業(yè)資訊。

審核編輯 黃宇

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