近年來，我國為推進(jìn)科研儀器自主研發(fā)進(jìn)程，先后設(shè)立了眾多重大專項(xiàng)項(xiàng)目，并取得一定進(jìn)展。在新一輪科技革命和產(chǎn)業(yè)變革交織的背景下，國產(chǎn)替代的腳步還需進(jìn)一步加速。

為促進(jìn)國產(chǎn)科學(xué)儀器發(fā)展，打好科學(xué)儀器設(shè)備國產(chǎn)化攻堅(jiān)戰(zhàn)，加強(qiáng)國產(chǎn)儀器企業(yè)和高校研究之間的交流互動(dòng)。

2025年11月10日，中星聯(lián)華攜手南京大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院，舉行《ADC/DAC/PLL/SerDes與高速信號(hào)完整性解析》大講堂。

課堂內(nèi)容干貨滿滿，從基礎(chǔ)的ADC/DAC/PLL/SerDes芯片，到前沿的高速信號(hào)完整性技術(shù)，講師均有涉獵且講解透徹?，F(xiàn)場氣氛火爆，座無虛席，同學(xué)們求知若渴、互動(dòng)踴躍，廣受師生歡迎。

聚焦理論知識(shí)，拓寬實(shí)戰(zhàn)視野

現(xiàn)場，中星聯(lián)華技術(shù)支持總監(jiān)蘇水金以其豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)與扎實(shí)的專業(yè)素養(yǎng),圍繞ADC/DAC/PLL/SerDes芯片、高速信號(hào)完整性等內(nèi)容，為廣大師生深入淺出地講解了以ADC/DAC/PLL/SerDes、高速串行信號(hào)為中心，介紹了當(dāng)前主流芯片的發(fā)展、ADC動(dòng)態(tài)參數(shù)（SNR、SINAD、SFDR、THD、ENOB）和靜態(tài)參數(shù)（INL、DNL）測試、實(shí)際信號(hào)（EVM，ACLR等）測試；PLL 概念和測試、高速串行總線發(fā)展趨勢、實(shí)測案例等；高速SerDes芯片的內(nèi)部構(gòu)架PMD、PMA、PCS以及應(yīng)用場景，Serdes芯片TX和RX驗(yàn)證測試；國內(nèi)外ADC、Serdes芯片水平差異以及應(yīng)用場景；以信號(hào)完整性為核心，展開講解了信號(hào)完整性問題的來源，SI、PI、EMI三大問題的具體原因，抖動(dòng)、眼圖、CDR原理、FFE/CTLE/DFE均衡原理和參數(shù)設(shè)置、NRZ&PAM3&PAM4的基礎(chǔ)和應(yīng)用場景解析等內(nèi)容；并針對(duì)實(shí)際應(yīng)用和測試案例進(jìn)行分析，為大家介紹了超低相噪微波信號(hào)源、高性能誤碼率測試儀等電子測試測量儀器的具體測試操作、關(guān)注指標(biāo)、實(shí)際測試經(jīng)驗(yàn)、測試案例等。

科技點(diǎn)亮未來

感謝南京大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院精心組織此次技術(shù)交流活動(dòng)，通過與現(xiàn)場的師生們交流，我司深切感受到了深切感受到了南京大學(xué)的學(xué)術(shù)氛圍和專研精神。尤其在與各位同學(xué)互動(dòng)時(shí)，大家提出了富有深度的技術(shù)問題。期待未來能有更多機(jī)會(huì)與南京大學(xué)的師生們交流合作，希冀未來校企可以碰撞出更多科技的火花，共同探索最新的前沿技術(shù)！

未來，中星聯(lián)華將繼續(xù)深化與相關(guān)高校的合作，不斷拓展校企合作領(lǐng)域、創(chuàng)新合作模式，持續(xù)協(xié)助高校開展人才培養(yǎng)方案，為推動(dòng)相關(guān)行業(yè)的發(fā)展注入源源不斷的活力。

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