摘要 :空間站機械臂作為在軌構(gòu)建與維護的核心執(zhí)行機構(gòu),其控制系統(tǒng)的可靠性直接取決于抗輻照集成電路的性能表現(xiàn)。本文以國科安芯推出的AS32S601型MCU與ASM1042S2S型CANFD收發(fā)器為例,討論其在商業(yè)航天級應(yīng)用中的抗輻照特性與集成設(shè)計方案。基于質(zhì)子加速器單粒子效應(yīng)試驗、鈷源總劑量效應(yīng)試驗及脈沖激光等效模擬試驗數(shù)據(jù),分析了兩款器件在100 MeV質(zhì)子輻照、150 krad(Si)總劑量及37.4 MeV·cm2/mg重離子環(huán)境下的失效機理與閾值特征。本文進一步探討了機械臂分布式控制系統(tǒng)中MCU與CANFD芯片的協(xié)同架構(gòu)設(shè)計,為未來深空探測與長期在軌服務(wù)任務(wù)提供了技術(shù)參考。
關(guān)鍵詞 :空間站機械臂;抗輻照芯片;單粒子效應(yīng);總劑量效應(yīng);CANFD通信;MCU集成
1. 引言
空間站機械臂系統(tǒng)作為空間基礎(chǔ)設(shè)施在軌裝配、載荷照料與故障處置的關(guān)鍵裝備,其電子控制系統(tǒng)長期暴露于復(fù)雜的輻射環(huán)境中,面臨銀河宇宙射線、太陽質(zhì)子事件及南大西洋異常區(qū)捕獲質(zhì)子等多維度輻照威脅??刂茊卧∕CU)與現(xiàn)場總線收發(fā)器作為機械臂關(guān)節(jié)驅(qū)動與指令傳輸?shù)暮诵钠骷淇馆椪漳芰χ苯記Q定了任務(wù)執(zhí)行的可靠性與安全性。傳統(tǒng)宇航級器件雖具備一定的抗輻照性能,但在面對新型輻射環(huán)境模型時仍需進行系統(tǒng)性評估。近年來,基于RISC-V架構(gòu)的抗輻照加固MCU與符合AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)的CANFD收發(fā)器,通過地面模擬試驗驗證與在軌應(yīng)用考核,逐步成為商業(yè)航天級電子系統(tǒng)的重要選型對象。
AS32S601型MCU與ASM1042S2S型CANFD收發(fā)器作為國產(chǎn)商業(yè)航天級芯片的典型代表,已在高光譜遙感衛(wèi)星TY29與光學(xué)遙感衛(wèi)星TY35中實現(xiàn)成功應(yīng)用。本文基于多份試驗報告數(shù)據(jù),系統(tǒng)梳理兩款器件的輻照效應(yīng)特性,深入分析其在空間站機械臂控制系統(tǒng)中的集成架構(gòu)與冗余設(shè)計方案,旨在為新一代空間機械臂電子系統(tǒng)研制提供技術(shù)依據(jù)與參考范式。
2. 器件特征與功能架構(gòu)
2.1 AS32S601型MCU技術(shù)特性
AS32S601型MCU是一款基于32位RISC-V指令集架構(gòu)的微控制器,主頻達180 MHz,工作電壓支持2.7 V5.5 V寬范圍輸入,適用于-55125℃的寬溫工作環(huán)境。該器件采用LQFP144封裝形式,內(nèi)部集成2 MiB P-Flash、512 KiB D-Flash及512 KiB SRAM,均配備ECC糾錯機制,符合ASIL-B功能安全等級設(shè)計要求。其外設(shè)資源豐富,包含3個12位ADC(48通道)、2個ACMP、2個DAC、6路SPI、4路CANFD、4路USART及2路IIC接口,為多自由度機械臂的傳感器采集、運動控制與通信調(diào)度提供了硬件基礎(chǔ)。
從結(jié)構(gòu)布局分析,該MCU采用存儲區(qū)與外圍電路分離式設(shè)計,F(xiàn)lash與SRAM區(qū)域占據(jù)主要芯片面積,時鐘樹與IO驅(qū)動電路分布在管芯邊緣。電特性參數(shù)表明,IO驅(qū)動模式支持4.5 mA、9 mA、13.5 mA與18 mA四檔配置,輸入上拉/下拉電阻典型值為48 kΩ,模擬模式電阻為50 Ω,漏電流控制在±10 μA范圍內(nèi)。此類參數(shù)為輻照環(huán)境下的功耗穩(wěn)定性與信號完整性提供了設(shè)計裕度。
2.2 ASM1042S2S型CANFD收發(fā)器技術(shù)特性
ASM1042S2S型CANFD收發(fā)器支持最高5 Mbps數(shù)據(jù)速率,具備I/O電平輔助電源輸入引腳,可靈活配置輸入閾值與RXD輸出電平,滿足多電壓域系統(tǒng)的互聯(lián)需求。該器件采用SOP8L封裝,集成待機模式與遠程喚醒功能,顯性功耗典型值為70 mA(Normal mode),隱性功耗降至2.5 mA,待機模式功耗僅5 μA,適用于低功耗在軌任務(wù)場景。
電特性測試數(shù)據(jù)顯示,CANH與CANL總線輸出電壓在顯性狀態(tài)下為1.5~3 V差分電平,隱性狀態(tài)下對稱性偏差小于±50 mV,共模抑制能力強。環(huán)路延時典型值為160 ns(隱性轉(zhuǎn)顯性)與110 ns(顯性轉(zhuǎn)隱性),確保高速通信的實時性。欠壓保護閾值為4.2 V(上升)與3.8 V(下降),滯回電壓200 mV,可有效防止電源波動導(dǎo)致的通信異常。
3. 抗輻照效應(yīng)試驗評估
3.1 質(zhì)子單粒子效應(yīng)試驗
3.1.1 試驗條件與判定標(biāo)準(zhǔn)
單粒子效應(yīng)(Single Event Effect, SEE)試驗在中國原子能科學(xué)研究院100 MeV質(zhì)子回旋加速器上進行,注量率覆蓋5×10?5×10? p·cm?2·s?1范圍,輻照面積20 cm×20 cm。依據(jù)《宇航用半導(dǎo)體器件質(zhì)子單粒子實驗方法》,AS32S601與ASM1042S2S均選取100 MeV質(zhì)子能量,注量率設(shè)定為1×10? p·cm?2·s?1,累積注量達1×101? p·cm?2。試驗環(huán)境控制在溫度1535℃、相對濕度20%~80%,靜電防護符合GB/T 32304標(biāo)準(zhǔn)。
3.1.2 AS32S601型MCU試驗結(jié)果
試驗報告編號2025-ZZ-BG-005顯示,AS32S601型MCU在100 MeV質(zhì)子輻照下,工作電流穩(wěn)定在135 mA(供電電壓5 V),未出現(xiàn)單粒子鎖定(SEL)或單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)現(xiàn)象。試驗期間CAN接口通信正常,F(xiàn)lash與RAM擦寫功能無異常,數(shù)據(jù)記錄文件名為"Data",完整覆蓋了輻照全過程的寄存器狀態(tài)與內(nèi)存校驗結(jié)果。試驗結(jié)論明確其抗質(zhì)子單粒子效應(yīng)能力合格,為空間站機械臂控制算法在軌穩(wěn)定執(zhí)行提供了基礎(chǔ)保障。
3.1.3 ASM1042S2S型CANFD收發(fā)器試驗結(jié)果
ASM1042S2S在同等質(zhì)子條件下的試驗(報告編號2025-ZZ-BG-004)表明,器件5V工作電流保持約8 mA,未觀測到鎖定現(xiàn)象。USBCAN-FD分析儀以5 Mbps數(shù)據(jù)速率持續(xù)收發(fā),通道1發(fā)送54328幀、接收54333幀,通道2發(fā)送54333幀、接收54328幀,誤幀率為零。試驗數(shù)據(jù)證實其質(zhì)子SEE閾值大于當(dāng)前試驗條件,滿足機械臂關(guān)節(jié)間高速數(shù)據(jù)總線的抗輻照要求。
3.2 總劑量效應(yīng)試驗
3.2.1 試驗方法與劑量率選擇
總劑量效應(yīng)(Total Ionizing Dose, TID)試驗采用鈷60 γ射線源,劑量率設(shè)定為25 rad(Si)/s,輻照總劑量階梯式遞增至150 krad(Si)(含50%過考核裕量)。試驗依據(jù)QJ 10004A-2018《宇航用半導(dǎo)體器件總劑量輻照試驗方法》,在24℃±6℃環(huán)境溫度下進行,采用移位測試法確保輻照前后測試條件一致性。樣品不開蓋處理,以模擬實際封裝下的劑量累積效應(yīng)。
3.2.2 AS32S601型MCU TID耐受性
試驗報告ZKX-TID-TP-006記錄了AS32S601的總劑量考核過程。器件在室溫測試階段工作電流為135 mA,50%過輻照(150 krad(Si))后電流略微降至132 mA,變化率-2.2%,處于測量不確定度范圍內(nèi)。CAN通信與存儲器擦寫功能全程正常,未出現(xiàn)參數(shù)漂移或功能退化。168小時高溫退火(100℃)后,電參數(shù)與外觀復(fù)測均合格,表明其具有良好的退火恢復(fù)特性。抗總劑量能力最終判定為大于150 krad(Si),滿足空間站5~10年壽命期的劑量累積需求(典型任務(wù)劑量約100 krad(Si))。
3.2.3 ASM1042S2S型CANFD收發(fā)器TID耐受性
ASM1042S2S的總劑量試驗(報告編號ZKX-TID-TP-007)同樣采用150 krad(Si)考核劑量。測試數(shù)據(jù)顯示,器件在待機模式與正常工作模式下的功耗未發(fā)生顯著變化,總線輸出電壓對稱性保持在±0.2 V以內(nèi),隱性短路電流Ios維持在±5 mA范圍。CANFD通信在輻照前后均保持正常,數(shù)據(jù)幀傳輸無誤。試驗結(jié)論確認(rèn)其TID指標(biāo)大于150 krad(Si),為機械臂通信鏈路的長期可靠性提供了數(shù)據(jù)支撐。
3.3 重離子單粒子效應(yīng)試驗
3.3.1 試驗條件與LET閾值測定
中國科學(xué)院國家空間科學(xué)中心對ASM1042S2S開展了重離子單粒子效應(yīng)試驗,選用74Ge離子,能量205 MeV,硅中LET值37.4 MeV·cm2/mg,射程30 μm。輻照總注量1×10? ion/cm2,注量率2.2×10? ion/cm2/s,偏置條件5 V。試驗在真空環(huán)境下進行,在線監(jiān)測工作電流與通信功能。
3.3.2 試驗結(jié)果與失效模式分析
試驗報告2025FZ010表明,ASM1042S2S在LET=37.4 MeV·cm2/mg條件下未發(fā)生SEL或SEU,其單粒子鎖定與翻轉(zhuǎn)閾值均大于當(dāng)前試驗值。該結(jié)果與脈沖激光試驗數(shù)據(jù)形成交叉驗證,證明其敏感區(qū)域集中于淺結(jié)器件結(jié)構(gòu),深阱隔離設(shè)計有效抑制了閂鎖路徑。值得注意的是,該器件已應(yīng)用于TY29與TY35衛(wèi)星,在軌運行期間接口通信穩(wěn)定,未上報任何單粒子異常事件,地面試驗與在軌表現(xiàn)高度一致。
3.4 脈沖激光等效模擬試驗
3.4.1 試驗原理與參數(shù)設(shè)置
脈沖激光試驗基于載流子密度等效原理,采用120 pJ初始能量(對應(yīng)LET≈5 MeV·cm2/mg),階梯式遞增至1830 pJ(對應(yīng)LET≈75 MeV·cm2/mg)。激光頻率1000 Hz,三維移動臺速度3000 μm/s,X/Y軸步長3 μm,注量1×10? cm?2。樣品開封裝后正面輻照,實時監(jiān)測電流與功能狀態(tài)。
3.4.2 AS32S601脈沖激光試驗結(jié)果
ZKX-2024-SB-21報告顯示,AS32S601在LET值565 MeV·cm2/mg范圍內(nèi)未出現(xiàn)鎖定,電流穩(wěn)定在100 mA。當(dāng)能量提升至1585 pJ(LET≈75 MeV·cm2/mg)時,觀測到CPU復(fù)位現(xiàn)象,但未鎖定,表明其SEU閾值位于6575 MeV·cm2/mg區(qū)間。該結(jié)果與質(zhì)子試驗結(jié)論互補,驗證了其在高LET值重離子環(huán)境下的魯棒性。
3.4.3 ASM1042系列脈沖激光對比分析
對ASM1042A、SIT1042AQ與TCAN1042HGVD的對比試驗揭示不同設(shè)計加固水平的差異。ASM1042A在LET=100 MeV·cm2/mg下仍無鎖定,表現(xiàn)最優(yōu);SIT1042AQ在LET=37 MeV·cm2/mg出現(xiàn)閂鎖;TCAN1042HGVD在LET=25 MeV·cm2/mg出現(xiàn)功能中斷(SEFI),37 MeV·cm2/mg出現(xiàn)鎖定。該對比凸顯了ASM1042S2S在抗輻照設(shè)計上的優(yōu)勢,其采用VIS 0.15 μm BCD工藝,淺槽隔離與Epi層結(jié)構(gòu)有效降低了電荷收集效率。
4. 空間站機械臂集成架構(gòu)設(shè)計
4.1 分布式控制系統(tǒng)拓?fù)?/strong>
空間站機械臂通常采用"中央控制器-關(guān)節(jié)驅(qū)動器-末端執(zhí)行器"三級分布式架構(gòu)。AS32S601型MCU作為關(guān)節(jié)控制器核心處理器,負(fù)責(zé)電機伺服控制、位置反饋解算與傳感器數(shù)據(jù)融合;ASM1042S2S構(gòu)成CANFD總線物理層,實現(xiàn)5 Mbps高速指令傳輸與狀態(tài)回傳。每一路CANFD總線最多可掛載16個節(jié)點,滿足機械臂6~7自由度擴展需求。
4.2 冗余與容錯設(shè)計
依據(jù)ASIL-B功能安全要求,集成方案采用雙CANFD總線冷備份架構(gòu)。主總線故障時,備用總線在100 ms內(nèi)完成切換,切換邏輯由獨立看門狗電路實現(xiàn)。每個關(guān)節(jié)配置雙MCU熱冗余,通過同步串口交互心跳信號,故障節(jié)點自動隔離。Flash存儲采用ECC糾錯與三模冗余(TMR)代碼存儲,單比特翻轉(zhuǎn)可實時糾正,多比特翻轉(zhuǎn)觸發(fā)程序流重載。
4.3 偏置與負(fù)載管理
總劑量試驗表明,靜態(tài)偏置下的功耗穩(wěn)定性優(yōu)于動態(tài)工作模式。機械臂在軌非工作期間,MCU切換至低功耗待機模式(電流<5 mA),CANFD收發(fā)器進入Standby模式(功耗5 μA),最大限度減少劑量累積效應(yīng)。工作時IO驅(qū)動模式根據(jù)負(fù)載動態(tài)調(diào)整,確保信號完整性同時降低功耗,避免輻照誘導(dǎo)的熱載流子退化。
5. 在軌驗證與性能評估
5.1 TY29與TY35衛(wèi)星應(yīng)用概況
ASM1042S2S芯片于2025年5月隨TY29"天儀29星"高光譜地質(zhì)遙感衛(wèi)星與TY35"天儀35星"光學(xué)遙感衛(wèi)星入軌。兩星均運行于低地球軌道(LEO),軌道高度約500 km,傾角97.5°,空間輻射環(huán)境以捕獲質(zhì)子與重離子為主。芯片應(yīng)用于通信系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸,接口速率配置為5 Mbps,單粒子效應(yīng)設(shè)計指標(biāo)為SEU≥75 MeV·cm2/mg或10??次/器件·天,SEL≥75 MeV·cm2/mg。
5.2 在軌運行數(shù)據(jù)分析
截至2025年7月,ASM1042S2S已在軌運行超過60天,累計經(jīng)歷南大西洋異常區(qū)穿越約300次,未發(fā)生單粒子導(dǎo)致的通信中斷或數(shù)據(jù)錯誤。遙測數(shù)據(jù)顯示,芯片工作電流穩(wěn)定在8~9 mA,總線誤碼率低于10??,與地面試驗數(shù)據(jù)高度吻合。值得注意的是,TY29星搭載的AS32S601型MCU同樣表現(xiàn)穩(wěn)定,其在軌SEU監(jiān)測數(shù)據(jù)表明,F(xiàn)lash ECC糾錯觸發(fā)頻率約0.02次/天,遠低于設(shè)計閾值,驗證了地面模擬試驗向在軌環(huán)境外推的有效性。
5.3 與國外同類器件對比
相較于TI公司的TCAN1042系列,ASM1042S2S在LET=37 MeV·cm2/mg下無鎖定,而TCAN1042HGVD在同等條件下出現(xiàn)SEL,表明國產(chǎn)器件在抗閂鎖設(shè)計上具有一定優(yōu)勢。與Microchip的SAMV71Q21 RT系列MCU相比,AS32S601的總劑量耐受能力(>150 krad(Si))略低于前者的300 krad(Si),但主頻180 MHz高于SAMV71的150 MHz,在算力與成本間取得了平衡。
6. 結(jié)論
本文通過系統(tǒng)梳理AS32S601型MCU與ASM1042S2S型CANFD收發(fā)器的多維度輻照試驗數(shù)據(jù),證實兩款器件具備優(yōu)異的商業(yè)航天級抗輻照性能。AS32S601在100 MeV質(zhì)子、150 krad(Si)總劑量及75 MeV·cm2/mg激光等效LET條件下功能正常,ASM1042S2S的重離子鎖定閾值大于37.4 MeV·cm2/mg,且在軌驗證表現(xiàn)穩(wěn)定。針對空間站機械臂應(yīng)用,提出的雙總線冗余、雙MCU熱備份及動態(tài)功耗管理架構(gòu),可有效應(yīng)對空間輻射威脅。
審核編輯 黃宇
-
mcu
+關(guān)注
關(guān)注
147文章
18581瀏覽量
385659 -
CANFD
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
100瀏覽量
5796
發(fā)布評論請先 登錄
光電傳感器領(lǐng)域國產(chǎn)MCU芯片抗輻照技術(shù)考量
ASM1042S2S芯片在軌應(yīng)用性能實證與抗輻照能力驗證
核輻射檢測儀中的抗輻照MCU芯片應(yīng)用探索與挑戰(zhàn)應(yīng)對
抗輻照MCU芯片在低軌商業(yè)衛(wèi)星原子鐘中的適配與優(yōu)化
AS32S601ZIT2型MCU:基于RISC-V架構(gòu)的抗輻照設(shè)計與試驗評估
低軌衛(wèi)星應(yīng)用:MCU、CANFD與DCDC芯片的集成解決方案
基于抗輻照性能的ASP4644S電源芯片特性分析與多領(lǐng)域應(yīng)用驗證
抗輻照CANFD通信芯片在高安全領(lǐng)域國產(chǎn)化替代的研究
抗輻照DCDC與MCU在核環(huán)境監(jiān)測設(shè)備中的集成應(yīng)用
抗輻照芯片在低軌衛(wèi)星星座CAN總線通訊及供電系統(tǒng)的應(yīng)用探討
雷達遙感星座微波射頻組件抗輻照MCU的選型與實踐
抗輻照芯片技術(shù)在商業(yè)衛(wèi)星領(lǐng)域的應(yīng)用與突破
抗輻照加固CANFD芯片:以車規(guī)級設(shè)計提升商業(yè)航天系統(tǒng)可靠性
芯片封裝抗輻照技術(shù)研究

空間站機械臂中MCU與CANFD抗輻照芯片的集成研究
評論