偏振片（也稱為偏光膜或偏光片）在AR/VR/XR眼鏡中實(shí)現(xiàn)著提升圖像清晰度與對比度，過濾雜亂光線，優(yōu)化視覺效果，實(shí)現(xiàn)立體視覺等重要作用。

而在偏振片生產(chǎn)過程中，厚度是最基礎(chǔ)且關(guān)鍵的尺寸指標(biāo)。當(dāng)前傳統(tǒng)檢測方式面臨挑戰(zhàn)：

×接觸損傷風(fēng)險(xiǎn)：傳統(tǒng)接觸式測量易劃傷光學(xué)膜層

× 數(shù)據(jù)可靠性低：高反光與透明層疊結(jié)構(gòu)使傳統(tǒng)光學(xué)測量受干擾

×多層測量難：偏振片的多層復(fù)合結(jié)構(gòu)使單層厚度測量困難

× 生產(chǎn)效率低：難以適配高速產(chǎn)線實(shí)時(shí)質(zhì)量監(jiān)控需求，抽樣檢測易因漏檢導(dǎo)致批量不良

光子精密高精度厚度檢測方案 檢測架構(gòu)

針對生產(chǎn)過程中對高效高精度厚度檢測的迫切需求。光子精密提出基于CD-5000系列光譜共焦位移傳感器的厚度檢測方案，并已在典型客戶現(xiàn)場完成驗(yàn)證，為客戶實(shí)現(xiàn)從抽樣到全檢的質(zhì)控升級(jí)。

01 檢測需求 檢測樣品

測量項(xiàng)目：偏振片厚度（含透明薄膜）

工件特性：多層復(fù)合結(jié)構(gòu)，含高反光、透明膜層

精度要求：重復(fù)性≤0.02mm

速度要求：≥100kHz

02 方案優(yōu)勢

?無損測量：非接觸式測量避免膜層劃傷，檢測合格率顯著提升。

?多層測量技術(shù)：可識(shí)別5層透明/半透明介質(zhì)厚度，滿足復(fù)合結(jié)構(gòu)工藝需求。

?數(shù)據(jù)可靠穩(wěn)定：±0.35μm線性度與多重抗干擾技術(shù)可將誤差穩(wěn)定在0.2mm以下。

?效率全面躍升：260kHz采樣頻率，適配高速產(chǎn)線檢測需求。

03 方案架構(gòu)與原理

兩組CD-5000光譜共焦傳感器上下對射布置于測量區(qū)，配合膜片水平運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)快速多點(diǎn)測量。

此架構(gòu)可消除傾角影響，即使膜片輕微翹曲/傾斜，也可直接獲取真實(shí)厚度，無需傾角補(bǔ)償。

實(shí)測過程圖 經(jīng)編碼器或定時(shí)觸發(fā)，傳感器以100kHz頻率對膜片9個(gè)點(diǎn)位快速采集，控制器實(shí)時(shí)接收數(shù)據(jù)并計(jì)算厚度值，同步輸出最大/最小/平均值/差值。 檢測結(jié)果：9個(gè)點(diǎn)位10次測量最大極差僅0.0016mm。 實(shí)測數(shù)據(jù)（單位：mm）

04 應(yīng)用落地：全工序檢測覆蓋

1）原材料來料檢驗(yàn)

可對來料進(jìn)行快速、無損的精密測量，確保檢測率提至99.99％。

2）核心工藝厚度變化監(jiān)控

批量生產(chǎn)中，集成多傳感器于檢測臺(tái)，一次性完成厚度、平面度、翹曲度等多參數(shù)測量，數(shù)據(jù)自動(dòng)判斷并記錄，實(shí)現(xiàn)全流程質(zhì)量追溯。

3）模切/精密切割后（最終成品檢驗(yàn)）

對切割成AR/VR/XR眼鏡所需形狀和尺寸的單片偏振片成品進(jìn)行厚度檢測與數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出。

若您的產(chǎn)線正面臨偏振片、反射片、Pancake透鏡等光學(xué)膜材的厚度與輪廓檢測挑戰(zhàn)，歡迎聯(lián)系光子精密，獲取定制解決方案與實(shí)測驗(yàn)證。

實(shí)測視頻

更多產(chǎn)品詳情介紹，請點(diǎn)擊下方圖片下載

讓科技之光普惠全球智能制造！ 關(guān)注“光子精密”官方，了解更多資訊

審核編輯 黃宇