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采用AD7492型A/D轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)的設(shè)計

電子設(shè)計 ? 來源:郭婷 ? 作者:電子設(shè)計 ? 2019-01-15 09:20 ? 次閱讀
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1 引言

多次重觸發(fā)技術(shù)應(yīng)用于多種場合,如一個30齒的齒輪,設(shè)齒輪嚙臺系數(shù)為1.2,若測量其中1齒多次嚙合時的應(yīng)力,則1齒的嚙合時間只占齒輪轉(zhuǎn)l圈時間的1.2/30,其余28.8/30的時間為空閑態(tài),而空閑態(tài)記錄無意義。為此開發(fā)多次重觸發(fā)技術(shù),以齒應(yīng)力作為內(nèi)觸發(fā)信號,只記錄每次觸發(fā)后的有用信號,并具有負(fù)延遲,而不記錄空閑狀態(tài).直到占滿記錄裝置存儲空間,這樣可有效利用存儲空間,記錄更多的有用信號。

2 多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)總體設(shè)計

2.1 多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)工作原理

圖1為多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)原理框圖,其工作原理:被測信號經(jīng)傳感器變?yōu)殡娦盘柡螅斎胫?a href="http://www.brongaenegriffin.com/analog/" target="_blank">模擬調(diào)理電路,再經(jīng)放大濾波后輸入至A/D轉(zhuǎn)換器,將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號,然后經(jīng)過FIFO傳輸給存儲器,計算機通過通信接口讀取數(shù)據(jù)。其中,該存儲測試系統(tǒng)的A/D轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換和讀時鐘、FIFO及存儲器的讀寫時鐘、推地址時鐘均由CPLD控制產(chǎn)生。

采用AD7492型A/D轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)的設(shè)計

2.2 負(fù)延遲的實現(xiàn)

動態(tài)信息存儲要求真實有效地記錄有用信號,根據(jù)被測信號特點,需記錄下觸發(fā)前信號在極短時間內(nèi)的數(shù)據(jù),這就要使用負(fù)延遲技術(shù)。負(fù)延遲也稱為提前傳輸,即將觸發(fā)信號的觸發(fā)采集時刻提前一段時間作為傳輸數(shù)據(jù)的起始點。該系統(tǒng)設(shè)計采用FIFO存儲器實現(xiàn)負(fù)延負(fù)延遲。觸發(fā)信號未到來時,A/D轉(zhuǎn)換器輸出的數(shù)據(jù)不斷寫入FIFO存儲器中,A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)不斷刷新FIFO存儲器的內(nèi)容。一旦觸發(fā)信號到來,數(shù)據(jù)則開始從FIFO寫入存儲器。

2.3 主要器件選型

該系統(tǒng)設(shè)計選用AD7492型A/D轉(zhuǎn)換器。該器件為12位高速、低功耗、逐次逼近式A/D轉(zhuǎn)換器。在5 V電壓,速率為1 MS/s時,其平均電流僅1.72 mA,功耗為8.6 mW;在5 V電壓和500 kS/s數(shù)據(jù)傳輸速率下,消耗電流1.24 mA,因此,該器件能夠滿足系統(tǒng)低功耗要求。由于該系統(tǒng)設(shè)計的存儲器總體容量為512 KB,因此選用l片容量為512 KB的N08T163型存儲器。并通過靜態(tài)存儲器時序配合實現(xiàn)自制的FIFO存儲器,功耗約為同類FIFO存儲器的1/10。系統(tǒng)設(shè)計的負(fù)延遲記錄l KB,選用128 KB容量的N02L163WC2A型存儲器。針對存儲測試系統(tǒng)功耗低,體積小,且控制邏輯較復(fù)雜的因素,MAX7000B系列的EPM7128BTCl44-4型CPLD作為控制器。該器件是高性能,低功耗的CMOS型CPLD,2500個可用邏輯門電路,引腳到引腳的傳輸延時為4.0 ns,系統(tǒng)工作頻率高達243.9 MHz。

3 CPLD控制電路的設(shè)計

基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)主要由A/D轉(zhuǎn)換器、存儲器、FIFO和控制器CPLD等組成,其中CPLD控制電路由時鐘、多次重觸發(fā)、FIFO地址發(fā)生、存儲器地址發(fā)生、存儲器計滿,電源管理和計算機通信等模塊組成,如圖2所示。

采用AD7492型A/D轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)的設(shè)計

3.1 控制電路各模塊功能

(1)電源管理模塊 該模塊主要控制系統(tǒng)功耗。當(dāng)系統(tǒng)處于休眠狀態(tài)時,只有Vcc對CPLD供電;當(dāng)系統(tǒng)進入正常工作狀態(tài)時,Vcc,VDD和VEE同時供電,晶振工作,當(dāng)采樣結(jié)束,系統(tǒng)關(guān)閉VEE,模擬部分進入休眠狀態(tài),晶振停止工作。該模塊能夠滿足系統(tǒng)低功耗要求。

(2)時鐘模塊 晶振提供的4 MHz信號經(jīng)4個二分頻器,分別得到2 MHz、1 MHz、500 kHz和250 kHz的時鐘信號,由這些信號組合得到A/D轉(zhuǎn)換器的采樣信號convst、FIFO的寫信號、A/D轉(zhuǎn)換器的讀信號ffwr_adread以及FIFO的推地址信號ff_dz,均為250 kHz。

(3)多次重觸發(fā)模塊 當(dāng)外界多次重觸發(fā)信號m_tri到來后。經(jīng)D觸發(fā)器產(chǎn)生的open信號變?yōu)楦唠娖?,計?shù)器開始計數(shù)時鐘信號ff_dz,每計8 KB后停止計數(shù),并產(chǎn)生清零信號clr對open信號清零,等待下次觸發(fā)信號。由時鐘信號ff_dz和open信號控制產(chǎn)生的時鐘信號clkl作為寫存儲器時的推地址信號和寫信號,open信號取反后接至存儲器使能端。

(4)FIFO地址發(fā)生模塊CPLD對FIFO的地址控制由時鐘模塊ff_dz信號產(chǎn)生,在時鐘信號ff_dz的下降沿開始推FIFO地址。

(5)存儲器地址發(fā)生模塊 多次重觸發(fā)模塊產(chǎn)生clkl信號作為存儲器的推地址信號m_dz推地址,將轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)寫入存儲器,寫滿8 KB后停止寫操作,等待下次觸發(fā)信號。存儲器存滿512。KB后停止推地址和寫操作,等待計算機讀數(shù)。讀數(shù)時,計算機每向CPLD發(fā)送1個讀數(shù)脈沖,地址信號向前推進1位,CPLD就從存儲器中對應(yīng)的地址單元讀取1個數(shù)據(jù)。

(6)存儲器計滿模塊 當(dāng)多次重觸發(fā)信號m_tri到來后,open信號變?yōu)楦唠娖剑嫕M8 KB后變?yōu)榈碗娖?,等待下次觸發(fā)信號。因此用計數(shù)器計數(shù)open信號下降沿,計滿64個后存儲器滿信號tc變?yōu)楦唠娖健?/p>

3.2 CPLD總體控制電路仿真及分析

圖3為CPLD總體控制電路仿真圖。圖3中觸發(fā)信號m_tri產(chǎn)生3次,由nopen信號看出存儲器選通3次,由存儲器地址信號m_addr的變化可看出存儲器記錄每個觸發(fā)信號8 KB,并不斷更新FIFO的數(shù)據(jù)。第1個觸發(fā)信號m_tri到來后,nopen信號變?yōu)榈碗娖郊催x通存儲器。這時產(chǎn)生存儲器的推地址信號和寫信號m_dz信號,并且在下降沿時將推地址給存儲器,存儲器在低電平期間進行寫操作。觸發(fā)信號m_tri到來后計滿8 KB,nopen信號產(chǎn)生高電平不選通存儲器,且存儲器的推地址信號和寫信號m_dz變?yōu)楦唠娖健?/p>

采用AD7492型A/D轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)的設(shè)計

4 實驗驗證

通過實驗驗證該測試系統(tǒng)功能。實驗中給測試系統(tǒng)加載8次觸發(fā)信號,連續(xù)采集8次。由于該系統(tǒng)設(shè)計最多可以采樣64次,如果重觸發(fā)信號次數(shù)未達到64次,需手動給測試儀一個強制讀數(shù)信號使得儀器采樣結(jié)束。多次重觸發(fā)信號8次有效后,手動強制讀數(shù)信號使得儀器結(jié)束采樣,通過上位機軟件判斷采集到的波形幅值和手動調(diào)節(jié)的幅值是否對應(yīng)。若對應(yīng),表明系統(tǒng)采樣正常。

實驗步驟:測試儀接通電源,此時測試儀采樣狀態(tài)指示燈的紅燈亮,和計算機接上編程讀數(shù)線,打開編程界面,設(shè)置多次重觸發(fā)的采樣頻率,其他選項均采用默認(rèn)設(shè)置,編程完成后,拔掉編程讀數(shù)線,測試儀上電(ON=0),紅燈開始閃爍,將電荷校準(zhǔn)儀的輸出接到測試儀面板上的通道端,設(shè)置電荷校準(zhǔn)儀的輸出波形為正弦波,電荷量為2 000 PC,輸出信號,給系統(tǒng)一個觸發(fā)信號(M_TRI=1),紅燈閃爍一段時間后停止閃爍,表明系統(tǒng)第一次采樣完成,這時調(diào)節(jié)電荷校準(zhǔn)儀的輸出電荷量為4 000 PC。再給系統(tǒng)一個觸發(fā)信號,重復(fù)前面過程,每次采樣完成后改變電荷量,直到綠燈亮,和計算機連上編程讀數(shù)線,通過上位機軟件讀取數(shù)據(jù),待數(shù)據(jù)讀取完畢,測試儀掉電(OFF=0),斷開測試儀電源。圖4為多次重觸發(fā)波形。對圖4中的數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換和處理得到實測的電荷量值如表1所示,從表1看出,采集到的波形幅值與調(diào)節(jié)的順序一致,系統(tǒng)設(shè)計符合要求。

采用AD7492型A/D轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)的設(shè)計

采用AD7492型A/D轉(zhuǎn)換器實現(xiàn)多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)的設(shè)計

5 結(jié)論

本文設(shè)計的基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲測試系統(tǒng)性能較穩(wěn)定,測量精度較高,能在高沖擊等惡劣環(huán)境下正常工作,并且滿足系統(tǒng)的低功耗、微型化要求,實現(xiàn)不失真采樣存儲信號。此系統(tǒng)能夠?qū)崟r記錄多次重觸發(fā)信號,每次信號的記錄均有負(fù)延遲,讀取數(shù)據(jù)時,無需程序調(diào)整,即可準(zhǔn)確復(fù)現(xiàn)記錄波形,因此存儲測試技術(shù)在多個瞬態(tài)信號的測量中具有廣闊前景。

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