ROHM BD48xxx和BD49xxx系列電壓檢測(cè)IC：高精度低功耗之選

在電子工程師的日常設(shè)計(jì)中，電壓檢測(cè)是一項(xiàng)至關(guān)重要的任務(wù)。ROHM的BD48xxx和BD49xxx系列電壓檢測(cè)IC以其高精度、低功耗等特性，成為眾多電路設(shè)計(jì)中的理想選擇。今天，我們就來(lái)深入了解一下這兩個(gè)系列的產(chǎn)品。

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產(chǎn)品概述

ROHM的BD48xxx和BD49xxx系列是高精度、低電流的電壓檢測(cè)IC系列。其中，BD48xxx系列采用N溝道開漏輸出，而BD49xxx系列則采用CMOS輸出。這些器件的特定檢測(cè)電壓范圍從2.3V到6.0V，以0.1V為步進(jìn)，為不同的應(yīng)用需求提供了豐富的選擇。

關(guān)鍵規(guī)格

檢測(cè)電壓

檢測(cè)電壓范圍為2.3V到6.0V（典型值），以0.1V為步進(jìn)，能夠滿足多種電壓檢測(cè)需求。同時(shí)，其具有±1.0%的高精度檢測(cè)電壓，確保了檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。

超低電流消耗

該系列產(chǎn)品的超低電流消耗特性令人矚目，典型值僅為0.9μA，這對(duì)于需要長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行且對(duì)功耗敏感的應(yīng)用來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。

工作溫度范圍

工作溫度范圍為 -40°C到 +105°C，能夠適應(yīng)較為惡劣的工作環(huán)境，保證了產(chǎn)品在不同溫度條件下的穩(wěn)定性。

產(chǎn)品特性

高精度檢測(cè)

高精度的檢測(cè)能力使得該系列產(chǎn)品能夠準(zhǔn)確地檢測(cè)電壓變化，為電路提供可靠的電壓監(jiān)測(cè)。

超低電流消耗

超低的電流消耗有助于降低系統(tǒng)功耗，延長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間，特別適用于便攜式設(shè)備等對(duì)功耗要求較高的應(yīng)用。

兩種輸出類型

提供N溝道開漏輸出和CMOS輸出兩種類型，滿足不同的電路設(shè)計(jì)需求。

寬工作溫度范圍

寬工作溫度范圍保證了產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下都能正常工作，提高了產(chǎn)品的適用性。

小型低高度封裝

采用SSOP5、SSOP3和VSOF5等小型低高度封裝，節(jié)省了電路板空間，適合對(duì)空間要求較高的設(shè)計(jì)。

引腳說(shuō)明

不同封裝的引腳功能各有不同，以下為大家詳細(xì)介紹：

SSOP5封裝

VSOF5封裝

SSOP3封裝

SSOP3 - 1

SSOP3 - 2

產(chǎn)品選型

該系列產(chǎn)品提供了豐富的產(chǎn)品線，不同封裝和輸出類型對(duì)應(yīng)不同的檢測(cè)電壓和型號(hào)。大家在選型時(shí)，可根據(jù)實(shí)際需求參考文檔中的詳細(xì)表格進(jìn)行選擇。需要注意的是，部分型號(hào)標(biāo)注為“Not Recommended for New Designs”或“Last Time Buy”，在選擇時(shí)要謹(jǐn)慎考慮。

應(yīng)用電路

常見(jiàn)電源檢測(cè)復(fù)位電路

根據(jù)微控制器和復(fù)位檢測(cè)IC的電源情況，可選擇不同的輸出類型。當(dāng)微控制器的電源（VDD2）與復(fù)位檢測(cè)IC的電源（VDD1）不同時(shí)，可使用開漏輸出類型（BD48xxx）并連接負(fù)載電阻RL；當(dāng)兩者電源相同時(shí)，可使用CMOS輸出類型（BD49xxx）或帶有上拉電阻的開漏器件。同時(shí)，在VOUT引腳連接電容CL進(jìn)行噪聲濾波時(shí)，要考慮輸出電壓的上升和下降波形。

兩種檢測(cè)電壓OR連接復(fù)位電路

在系統(tǒng)中使用多個(gè)獨(dú)立電源時(shí)，可將開漏輸出類型（BD48xxx系列）通過(guò)上拉電阻連接到微控制器的輸入，實(shí)現(xiàn)OR連接，從而在滿足條件時(shí)復(fù)位微控制器。

電阻分壓電源電路

在使用電阻分壓電路為IC供電時(shí)，要注意輸出狀態(tài)切換時(shí)可能產(chǎn)生的涌入電流，避免電路出現(xiàn)振蕩等問(wèn)題。

操作注意事項(xiàng)

絕對(duì)最大額定值

避免IC在超過(guò)絕對(duì)最大額定值的條件下工作，否則可能會(huì)導(dǎo)致IC損壞。可考慮添加保險(xiǎn)絲等電路保護(hù)措施。

接地電壓

確保接地引腳的電壓在所有工作條件下都是IC所有引腳中最低的，防止出現(xiàn)引腳電壓低于接地引腳的情況。

推薦工作條件

在推薦的工作條件范圍內(nèi)使用IC，以獲得預(yù)期的特性。各參數(shù)的電氣特性在相應(yīng)條件下得到保證。

旁路電容

為了抑制噪聲，可在VDD引腳和GND之間連接1μF電容，在VOUT引腳和GND之間連接1000pF電容。但要注意避免使用過(guò)大的電容，以免影響瞬態(tài)響應(yīng)。

引腳短路和安裝錯(cuò)誤

在將IC安裝到印刷電路板時(shí)要格外小心，避免引腳短路或安裝方向錯(cuò)誤。引腳間的導(dǎo)電顆?？赡軙?huì)導(dǎo)致短路。

強(qiáng)電磁場(chǎng)環(huán)境

在強(qiáng)電磁場(chǎng)環(huán)境中使用IC可能會(huì)導(dǎo)致其 malfunction，需盡量避免。

VDD線阻抗

VDD線阻抗可能會(huì)因檢測(cè)電流導(dǎo)致振蕩，在高VDD線阻抗條件下，應(yīng)使用VDD到GND的電容（盡可能靠近連接）。

外部參數(shù)

推薦的RL參數(shù)范圍為10kΩ到1MΩ，但實(shí)際應(yīng)用中可能會(huì)受到多種因素（如電路板布局等）的影響，需通過(guò)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行驗(yàn)證和確認(rèn)。

上電復(fù)位操作

上電復(fù)位輸出會(huì)隨VDD上升時(shí)間而變化，需在實(shí)際操作中進(jìn)行驗(yàn)證。

應(yīng)用板測(cè)試

在應(yīng)用板上測(cè)試IC時(shí)，要注意避免直接將電容連接到低阻抗輸出引腳，以免對(duì)IC造成應(yīng)力。每次測(cè)試后要完全放電電容，在檢查過(guò)程中，連接或移除IC時(shí)要先關(guān)閉電源。為防止靜電放電損壞，組裝時(shí)要對(duì)IC進(jìn)行接地處理，并在運(yùn)輸和存儲(chǔ)過(guò)程中采取類似的預(yù)防措施。

涌入電流

首次給IC供電時(shí)，可能會(huì)出現(xiàn)涌入電流，要特別考慮電源耦合電容、電源布線、GND布線寬度和連接路由等因素。

總結(jié)

ROHM的BD48xxx和BD49xxx系列電壓檢測(cè)IC以其高精度、低功耗、多種輸出類型和小型封裝等優(yōu)勢(shì)，為電子工程師在電壓檢測(cè)電路設(shè)計(jì)中提供了可靠的選擇。但在使用過(guò)程中，一定要注意各項(xiàng)操作注意事項(xiàng)，以確保IC的正常工作和系統(tǒng)的穩(wěn)定性。大家在實(shí)際設(shè)計(jì)中，可根據(jù)具體需求靈活選擇合適的型號(hào)和應(yīng)用電路。你在電壓檢測(cè)IC的使用過(guò)程中遇到過(guò)哪些問(wèn)題呢？歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。