在射頻與微波測(cè)量中，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）是表征器件S參數(shù)的核心工具。然而，當(dāng)被測(cè)器件（DUT）為非同軸結(jié)構(gòu)（如PCB上的SMT元件或晶圓級(jí)器件）時(shí)，必須借助測(cè)試夾具或探針臺(tái)進(jìn)行連接。這會(huì)引入額外的傳輸路徑，影響測(cè)量精度。為將校準(zhǔn)平面準(zhǔn)確移至DUT端面，通常采用兩種主流技術(shù)：端口延伸（Port Extension）與夾具去嵌入（Fixture De-embedding）。其中，自動(dòng)夾具移除（AFR）與自動(dòng)端口延伸是兩種具體實(shí)現(xiàn)方式，各有適用場(chǎng)景。

端口延伸是一種簡(jiǎn)便的校準(zhǔn)平面遷移方法。其基本原理是通過(guò)補(bǔ)償夾具引入的電延遲（Delay）和損耗（Loss），將校準(zhǔn)面從同軸接口延伸至DUT位置。傳統(tǒng)方法僅考慮延遲，現(xiàn)代VNA則支持結(jié)合損耗補(bǔ)償，提升精度。自動(dòng)端口延伸（Auto Port Extension）功能可通過(guò)測(cè)量開(kāi)路或短路狀態(tài)，自動(dòng)提取所需的延遲與損耗參數(shù)，操作快捷，適用于對(duì)精度要求不極端的場(chǎng)景。

相比之下，夾具去嵌入是一種更精確的處理方式。它不僅補(bǔ)償延遲與損耗，還能消除因阻抗失配引起的反射效應(yīng)。該方法需獲取夾具的S參數(shù)模型，可通過(guò)電路仿真（如ADS）、電磁仿真或?qū)嶋H測(cè)量獲得。AFR（Automatic Fixture Removal）是一種高效的去嵌入技術(shù)，利用時(shí)域分析方法，結(jié)合開(kāi)路、短路或直通測(cè)量，快速提取夾具S參數(shù)并從測(cè)量結(jié)果中扣除，顯著提升準(zhǔn)確性。
二者核心區(qū)別在于處理精度與適用條件。端口延伸假設(shè)夾具為理想傳輸線，阻抗匹配良好，僅引入相位延遲與幅度衰減，適用于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、失配小的測(cè)試環(huán)境。而去嵌入則全面建模夾具的電氣特性，適用于高頻、高精度或結(jié)構(gòu)復(fù)雜的測(cè)試場(chǎng)景。
在實(shí)際應(yīng)用中，應(yīng)根據(jù)測(cè)試需求選擇合適方法。若測(cè)試頻率不高、夾具設(shè)計(jì)優(yōu)良且阻抗連續(xù)，自動(dòng)端口延伸已能滿足需求，優(yōu)勢(shì)在于操作簡(jiǎn)便、效率高。但在毫米波頻段或?qū)夭〒p耗、插入損耗精度要求極高的場(chǎng)合，應(yīng)優(yōu)先采用AFR等去嵌入技術(shù)，以獲得更真實(shí)的DUT特性。
綜上所述，端口延伸與去嵌入各有優(yōu)劣。工程實(shí)踐中，應(yīng)在成本、效率與精度之間權(quán)衡，合理選擇，以確保測(cè)量結(jié)果的可靠性與有效性。