福晶科技「 生長(zhǎng)紋測(cè)試儀（GSM）」成功交付

福晶科技自主研制的紋影儀于今日順利完成交付，正式投入客戶生產(chǎn)應(yīng)用。該儀器依托公司深厚的精密光學(xué)與光機(jī)系統(tǒng)集成能力，可將肉眼不可見的折射率變化轉(zhuǎn)化為清晰可視的圖像，提供了直觀的手段對(duì)晶體、光學(xué)產(chǎn)品的生長(zhǎng)紋、缺陷進(jìn)行觀測(cè)和表征。

該生長(zhǎng)紋測(cè)試儀可應(yīng)用于光學(xué)產(chǎn)品、晶體生產(chǎn)加工全流程檢測(cè)場(chǎng)景，可廣泛應(yīng)用于光學(xué)晶體研發(fā)階段內(nèi)部缺陷觀測(cè)、晶體生長(zhǎng)工藝優(yōu)化分析、晶體內(nèi)部應(yīng)力分布檢測(cè)、晶體成品無(wú)損質(zhì)控、高精度光學(xué)元件來(lái)料檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)，為激光晶體、非線性光學(xué)晶體、光學(xué)窗口材料等研發(fā)生產(chǎn)提供可靠的專用光學(xué)檢測(cè)解決方案。