上一篇文章提到，數(shù)據(jù)轉換器（ADC/DAC）的分辨率和采樣率呈指數(shù)級增長。數(shù)據(jù)轉換器（ADC/DAC）的分辨率和采樣率呈指數(shù)級增長。為應對這一瓶頸，JEDEC固態(tài)技術協(xié)會推出的JESD204標準旨，為大家詳細介紹了高速串行JESD204B/C/D標準、高速DAC接收機（RX）面臨的物理層測試挑戰(zhàn)等內容，并結合SL3000系列誤碼儀的技術指標、功能指標等給出針對JESD204C 物理層一致性測試的實際測試方案。

接收機抖動容限（Jitter Tolerance, JTOL）測試

接收機均衡能力與眼圖靈敏度測試

本文將基于前文所述測試方法，實現(xiàn)對高速DAC接收機的全面驗證，關鍵在于測試系統(tǒng)是否具備連續(xù)速率輸出、精確抖動注入以及真實信道環(huán)境模擬能力。

針對JESD204C/D DAC測試中的關鍵需求，中星聯(lián)華科技SL3000系列誤碼分析儀，圍繞上述測試方法的工程實現(xiàn)，提供了完整的測試能力與實現(xiàn)路徑。

SL3000系列誤碼儀

中星聯(lián)華SL3000系列誤碼儀的特點

針對JESD204C/D DAC測試的痛點，中星聯(lián)華科技推出的SL3000BX系列誤碼分析儀（BERT）憑借其獨特的硬件架構，提供了超越傳統(tǒng)通用儀器的測試能力。

0.5G至33G連續(xù)速率可調：覆蓋全協(xié)議棧

JESD204C標準向下兼容，且不同應用場景下的速率配置極多（例如通過通過降速來換取更遠的傳輸距離）。

傳統(tǒng)痛點：許多誤碼儀僅支持特定的標準頻點（如10G, 25G），在測試非標速率或進行“超頻”余量摸底時無能為力。

SL3000優(yōu)勢：無斷點連續(xù)可調，支持未來更高的JESD-204D標準。這意味著研發(fā)人員可以從幾百Mbps一路掃描至32 Gbps，繪制出DAC接收機在不同頻率下的靈敏度曲線（Bathtub Curve），精準定位CDR環(huán)路帶寬的拐點。這對于驗證DAC內部PLL的鎖定范圍（Lock Range）至關重要。

高級抖動注入能力：模擬真實惡劣環(huán)境

這是物理層壓力測試的核心。SL3000不僅能產生理想信號，更能充當“信號破壞者”。

低頻周期性抖動（SJ）：模擬開關電源（DC-DC）噪聲干擾。SL3000支持注入從10KHZ到10MHz頻率的SJ，直接考驗DAC CDR的抖動容限（Jitter Tolerance）。

高頻周期性抖動（PJ）：模擬系統(tǒng)時鐘串擾等高頻確定性干擾。SL3000支持注入大于10MHz的PJ，直接考驗DAC CDR的抖動容限（Jitter Tolerance）。

中星聯(lián)華誤碼儀PPG輸出10MHz 抖動

發(fā)射端上升/下降時間濾波器（Rise/Fall Time Filters）：JCOM算法會針對不同的Tx模型優(yōu)化信號的轉換時間。SL3000 具備硬件級的上升時間可調功能（Tunable Transition Time）。用戶可以在15ps至35ps范圍內連續(xù)調節(jié)輸出信號的邊沿速率。這一特性使得研發(fā)人員能夠物理復現(xiàn)JCOM仿真中設定的不同壓擺率（Slew Rate）場景，驗證DAC接收端在不同邊沿速度下的建立/保持時間裕量，而無需更換硬件濾波器。

·發(fā)射端前饋均衡（Tx FFE）：對于Class C-M和C-R鏈路，標準要求Tx具備特定的預加重能力以補償信道損耗。SL3000 PPG支持2個Pre-cursor + 1個Post-cursor的高精度均衡，且抽頭系數(shù)支持0.1dB步進微調。

符號間干擾（ISI）：通過可變插損的高速ISI 通道板來實現(xiàn)，支持模擬從5dB到30dB的各種不同的插損環(huán)境。

高速ISI插損板外觀

ISI 插損板支持各種不同插入損耗曲線

模擬串擾：通過高速信號完整性損傷板來實現(xiàn)，支持模擬各種真實世界的串擾，skew等問題。

高速信號完整性損傷板注入串擾噪聲測試環(huán)境

無串擾耦合噪聲眼圖

VS

串擾耦合噪聲后眼圖

自定義碼型（User Defined Pattern）： SL3000系列誤碼儀支持超過8Mb長度的自定義序列。

SL3000進行高性能DAC芯片

測試和調試實例

在實際支持客戶測試的過程中，公司發(fā)現(xiàn)客戶研發(fā)的一款高性能DAC，采用JESD204C接口，單通道速率很大支持12.5Gbps 到32 Gbps。但在初期流片驗證中，在特定PCB板上偶爾出現(xiàn)鏈路失鎖，且模擬輸出的底噪異常抬高。針對上述情況我們協(xié)助客戶迅速定位問題并提出下述解決方案。

問題定位

使用常規(guī)BERT測試，眼圖和誤碼率看似正常。使用中星聯(lián)華SL3000系列介入后，通過其高級PJ注入功能，工程師在7.8 MHz頻點注入0.6 UI的抖動時，瞬間復現(xiàn)了鏈路失鎖故障。

根因分析

經排查，該PCB板上的供電模塊（VRM）在重載下存在約7.8 MHz的開關紋波耦合到了DAC的SerDes電源域。而該DAC的CDR環(huán)路帶寬設計恰好在40-60 MHz附近存在增益峰值（Peaking），導致對該頻率的抖動不僅沒有抑制，反而進行了放大，最終導致采樣時序違規(guī)。

解決方案與驗證

優(yōu)化CDR的環(huán)路濾波器參數(shù)，壓低帶內峰值。

優(yōu)化電源去耦電容。

回歸測試： 再次使用SL3000注入100K-10MHz 抖動，幅度提升至0.8UI，DAC依然穩(wěn)定鎖定，指標滿足要求。

SL3000系列誤碼儀的寬頻段抖動注入能力，幫助客戶發(fā)現(xiàn)了常規(guī)手段無法檢測的“設計死角”，避免了潛在的批量召回風險，顯著提升了芯片的量產可靠性。

隨著JESD204C/D標準的普及，高速DAC的物理層測試已不再是簡單的數(shù)字邏輯驗證，而是涉及信號完整性、電源完整性及模擬性能的跨域系統(tǒng)工程。

中星聯(lián)華科技SL3000系列誤碼儀，憑借其連續(xù)速率覆蓋，深度抖動注入等差異化優(yōu)勢，完美契合高端DAC芯片設計與系統(tǒng)集成的測試需求。它不僅是一臺誤碼測試儀器，更是探測芯片物理極限、優(yōu)化系統(tǒng)設計的強力工具。