隨著全球制造業(yè)加速邁向高端化、智能化，機(jī)器視覺作為“工業(yè)之眼”，其在精度、速度及復(fù)雜環(huán)境下的適應(yīng)性被賦予了更高期待。在這場全球視覺風(fēng)向標(biāo)盛會Vision China 2026上，安森美（onsemi）通過一系列革新性成像方案，展示了如何憑借先進(jìn)感知技術(shù)，推動(dòng)應(yīng)用創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)跨越式提升。

從 iToF 深度感知、短波紅外穿透視界，到全局快門消除運(yùn)動(dòng)偽影、SmartROI 技術(shù)大幅降低系統(tǒng)功耗，再到億級像素的極致成像，安森美的每一項(xiàng)展示都精準(zhǔn)擊中行業(yè)痛點(diǎn)。

PART 01實(shí)時(shí)3D感知，空間細(xì)節(jié)精準(zhǔn)拿捏

針對3D感知應(yīng)用中常見的運(yùn)動(dòng)偽影問題，Hyperlux ID 系列的AF0130 iToF深度傳感器通過采用獨(dú)特的專有集成和讀出結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)給出了高效的解題思路，可以通過兼具片上存儲和實(shí)時(shí)處理能力的全局快門捕獲快速移動(dòng)目標(biāo)，同時(shí)依托片上處理能力，擺脫了對外部FPGA或額外計(jì)算平臺的依賴，進(jìn)一步減少系統(tǒng)成本和尺寸。在提供1.2MP高分辨率的同時(shí)，該傳感器憑借獨(dú)特的iToF技術(shù)將精準(zhǔn)測量距離拓寬至30米，比常規(guī)iToF產(chǎn)品高出20米。

PART 02短波紅外“透視眼”，穿透高密材料見真章

在高密度材料檢測等領(lǐng)域，傳統(tǒng)可見光成像技術(shù)正面臨嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。安森美的短波紅外（SWIR）技術(shù)，將膠體量子點(diǎn) (CQD) 與CMOS傳感器相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了從400nm至2100nm的寬光譜響應(yīng)。相比傳統(tǒng)受限于ITAR管制的InGaAs方案，安森美的SWIR傳感器不僅具有更寬的光譜響應(yīng)，成本顯著降低、出口更為便捷。此外，該產(chǎn)品分辨率最高可達(dá)1920×1080，且可以在常溫下工作，在晶圓檢測、半導(dǎo)體封裝與材料檢測等領(lǐng)域具有獨(dú)特的優(yōu)勢。

PART 03高速識碼精準(zhǔn)高效，機(jī)器人感知實(shí)力進(jìn)階

機(jī)器人的高速掃碼和精準(zhǔn)定位、地圖構(gòu)建等應(yīng)用對圖像傳感器提出了更高的要求，Hyperlux SG 系列的AR0235專為優(yōu)化機(jī)器人應(yīng)用而生。該產(chǎn)品以其業(yè)界領(lǐng)先的全局快門效率、高達(dá)2.3 MP的分辨率以及120 幀/秒的高速成像能力脫穎而出，同時(shí)還提供RGB和單色兩種選擇，這意味著該產(chǎn)品不僅能有效消除機(jī)器人高速掃碼等應(yīng)用中的運(yùn)動(dòng)偽影問題，還能進(jìn)行顏色識別與色彩分析，為機(jī)器人的分揀和物料識別等應(yīng)用打開了新的維度。其緊湊的尺寸（1/2.8英寸） 和低功耗特性，使其易于集成到空間和功耗受限的設(shè)備中。

PART 04低照度極致成像，高動(dòng)態(tài)明暗還原

面對復(fù)雜光照環(huán)境對后端處理資源帶來的壓力，Hyperlux LH系列的AR1223傳感器創(chuàng)新性地引入了 SmartROI（智能感興趣區(qū)域）技術(shù)。該技術(shù)允許系統(tǒng)僅對關(guān)鍵區(qū)域進(jìn)行篩選輸出，顯著降低了算力和帶寬負(fù)載壓力。配合其120dB的高動(dòng)態(tài)范圍（eHDR）與卓越的低照度性能，AR1223 確保了在極端明暗對比或微光環(huán)境下，系統(tǒng)依然能還原豐富的成像細(xì)節(jié)，為高端安防及復(fù)雜機(jī)器視覺應(yīng)用定義了性能新標(biāo)桿。

PART 05超高分辨率全局成像，精細(xì)檢測 “分毫必現(xiàn)”

安森美這款超高分辨率、全局快門成像傳感器，將分辨率推至1億至3億+像素級別，無需多相機(jī)陣列即可實(shí)現(xiàn)高速吞吐的清晰成像，達(dá)成了性能、分辨率與幀率的前所未有的協(xié)同。其采用2.74μm背照式（BSI）像素，兼具出色動(dòng)態(tài)范圍、低讀出噪聲與高量子效率，同時(shí)以家族化、引腳全兼容的設(shè)計(jì)大幅縮短產(chǎn)品上市時(shí)間，可廣泛應(yīng)用于電池檢測、半導(dǎo)體檢測、顯示面板檢測、高端機(jī)器視覺等場景。

期待您蒞臨安森美展臺#W5-5536，共同探索智能視覺無限可能，共赴創(chuàng)新未來。