在半導(dǎo)體制造的微觀戰(zhàn)場上，良率的提升是一場毫厘必爭的博弈。隨著工藝節(jié)點(diǎn)的不斷演進(jìn)，傳統(tǒng)復(fù)判方式正面臨前所未有的瓶頸。今天，阿丘科技正式推出ADC-VLM——基于大模型（VLM）的ADC軟硬一體機(jī)。通過對復(fù)判范式的重構(gòu)，我們讓檢測終于從“被動適應(yīng)”走向了“主動認(rèn)知”。ADC-VLM廣泛適配市面主流 AOI 設(shè)備，直連即用，實(shí)時接收檢測結(jié)果并精準(zhǔn)分類，為產(chǎn)線帶來一位24小時在線、永不失準(zhǔn)的專家級復(fù)判員。

高精準(zhǔn)度從“漏檢風(fēng)險”到“敏捷檢出”在復(fù)雜的半導(dǎo)體生產(chǎn)中，讓工程師最頭疼的莫過于：模型對已知缺陷過擬合，對新產(chǎn)生的未知缺陷卻視而不見。

ADC-VLM徹底打破了這一僵局。它不僅僅是學(xué)習(xí)某幾個料號，而是預(yù)先掌握了跨越半導(dǎo)體、新能源、消費(fèi)電子、汽車等多個領(lǐng)域的上千種通用缺陷特征。

通識降維打擊：面對被傳統(tǒng)專用模型判定為“未知”而導(dǎo)致漏檢的缺陷，ADC-VLM憑借強(qiáng)大的通識能力，實(shí)現(xiàn)明顯缺陷0漏失。

微小缺陷捕捉：搭載AQ-ImageEncoder，精準(zhǔn)保留缺陷的細(xì)微特征，將分類準(zhǔn)確率提升至99.5%。

速度與精度兼得：不只準(zhǔn)，而且快。依托AQ-Infer 推理引擎，單點(diǎn)檢測速度穩(wěn)定在50ms，完美匹配高速產(chǎn)線的嚴(yán)苛節(jié)奏。

檢測，從此不再依賴“見過才能認(rèn)出”的經(jīng)驗(yàn)主義，而是擁有了真正理解缺陷本質(zhì)的通用認(rèn)知能力。

（高精準(zhǔn)度：當(dāng)傳統(tǒng)專用模型仍困于低置信度與漏檢風(fēng)險時，ADC-VLM已實(shí)現(xiàn)對未知缺陷、細(xì)小缺陷的敏捷檢出。）

快速換型從“繁復(fù)迭代”到“分鐘上線”面對“機(jī)臺×電路層×料號”產(chǎn)生的成千上萬種組合，傳統(tǒng)專用模型需要經(jīng)歷漫長的標(biāo)注、訓(xùn)練與驗(yàn)證循環(huán)。ADC-VLM讓效率發(fā)生質(zhì)變。憑借千萬級的泛化能力，它不再需要為每一個新料號從零開始迭代，實(shí)現(xiàn)新料號導(dǎo)入即刻驗(yàn)證。

全場景適配：無論是FAB端還是先進(jìn)封裝端，一次部署，全方位覆蓋。

分鐘級上線：告別繁瑣的算法整改，換型時間壓縮至3分鐘以內(nèi)，完美契合高節(jié)奏的生產(chǎn)線。

產(chǎn)線可以真正擁抱“多品種、小批量”的柔性制造——換型不再是瓶頸，而是常態(tài)。

（快速換型：跨越機(jī)臺與工藝的維度屏障，ADC-VLM憑借強(qiáng)大的泛化能力，將復(fù)雜換型壓縮至3分鐘以內(nèi)。）
極簡使用
從“黑盒算法”到“言出法隨”

在傳統(tǒng)專用模型下，工程師面對的是一個參數(shù)繁雜、調(diào)優(yōu)困難的“黑盒”——模型如何判斷、為何誤報(bào)，往往無從知曉，每一次調(diào)整都如暗箱操作。

ADC-VLM重新定義了人機(jī)交互。我們引入了革命性的自然語言交互方式，讓AI復(fù)判變得前所未有的簡單。

三步極簡部署：載入圖像、選擇類別、上線運(yùn)行。系統(tǒng)會像一名專家助手一樣瞬間響應(yīng)。

全程無標(biāo)注、無訓(xùn)練：將人類專家從繁重的數(shù)據(jù)苦工中解放出來，回歸到工藝分析的核心價值。

AI不再是只有少數(shù)專家才能駕馭的復(fù)雜工具，而是每一位產(chǎn)線人員都能隨手調(diào)用的智能伙伴。

（ADC-VLM將繁瑣算法轉(zhuǎn)化為自然語言交互，無需標(biāo)注與訓(xùn)練，零經(jīng)驗(yàn)者也能3步完成極簡部署。）

檢測的未來是認(rèn)知的通用化

ADC-VLM的發(fā)布，是阿丘科技對工業(yè)AI的又一次深度思考。

我們堅(jiān)信，未來的智慧工廠不應(yīng)被束縛在低效的數(shù)據(jù)標(biāo)注中。通過將VLM大模型的通識能力轉(zhuǎn)化為即插即用的生產(chǎn)力工具，我們正助力半導(dǎo)體企業(yè)以最輕量化的方式，邁向高良率、高效率的數(shù)字化未來。