使用直流壓降分析優(yōu)化PDN性能
從低功耗的可穿戴設(shè)備到包含高功耗處理器的產(chǎn)品，供電網(wǎng)絡(luò) (PDN) 的負(fù)擔(dān)日益增大。使用直流壓降分析可確保最佳性能并避免產(chǎn)品故障和失效。
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
處理器
+關(guān)注
關(guān)注
68文章
20150瀏覽量
247272 -
直流
+關(guān)注
關(guān)注
7文章
462瀏覽量
43995 -
可穿戴設(shè)備
+關(guān)注
關(guān)注
55文章
3863瀏覽量
169740
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
NVSwitch芯片周圍MLCC陣列的PDN阻抗優(yōu)化方案
文章詳細(xì)闡述了MLCC陣列在NVSwitch芯片供電網(wǎng)絡(luò)中的阻抗優(yōu)化方案，通過參數(shù)對比分析了其在降低PDN阻抗、提升電源完整性等方面的技術(shù)優(yōu)勢。
探索鋰電池性能優(yōu)化：3D成像建模分析輥壓工序的科學(xué)原理
在鋰離子電池的制造工藝中，極片輥壓是決定電池最終性能的關(guān)鍵“臨門一腳”。這一工序不僅直接關(guān)系到電極的厚度和能量密度，更深刻地重塑了電極內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)。本文開發(fā)了一套基于真實(shí)NMC正極X射線計(jì)算機(jī)
Coremark測試集分析與性能優(yōu)化思路
一段時(shí)間修改輸入(注入錯(cuò)誤)并重復(fù)狀態(tài)機(jī)操作。將輸入修改回原始形式。
4. 設(shè)計(jì)意圖
編譯器在不斷改進(jìn)，在分析代碼方面做得越來越好。而coremark的出現(xiàn)就是為了解決“Dhrystone的主要部分
發(fā)表于 10-24 08:21
無刷直流電機(jī)電流檢測新技術(shù)
摘要:介紹了一種用 MOSFET導(dǎo)通電阻代替電流傳感器檢測功率變換器主開關(guān)電流的技術(shù),該技術(shù)根據(jù)流過MOSFET 開關(guān)管的電流大小與其通態(tài)壓降成正比的原理,用檢測通態(tài)管壓降的方法檢測通態(tài)電流,
發(fā)表于 06-26 13:47
推進(jìn)電機(jī)端蓋結(jié)構(gòu)的抗沖擊分析及優(yōu)化
。同時(shí)以此為基礎(chǔ)，在保證推進(jìn)電機(jī)的抗沖擊性能的約束前提條件下，以提高電機(jī)的轉(zhuǎn)矩密度為目標(biāo)，建立了相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型和參數(shù)化的有限元模型，對該結(jié)構(gòu)進(jìn)行了設(shè)計(jì)優(yōu)化，為實(shí)際工程設(shè)計(jì)了奠定基礎(chǔ)。
純分享帖，需要者可點(diǎn)
發(fā)表于 06-23 07:12
直流負(fù)載箱的主要功能有哪些？
對直流電源系統(tǒng)的精確模擬，為電源系統(tǒng)的研發(fā)、測試和優(yōu)化提供有力支持。直流負(fù)載箱可以實(shí)現(xiàn)對負(fù)載電流、電壓、功率等參數(shù)的精確控制，以滿足不同負(fù)載條件下的測試需求。通過負(fù)載控制功能，可以對直流
發(fā)表于 06-17 13:34
鴻蒙5開發(fā)寶藏案例分享---Grid性能優(yōu)化案例
發(fā)現(xiàn)鴻蒙寶藏：優(yōu)化Grid組件性能的實(shí)戰(zhàn)技巧！
大家好呀！最近在鴻蒙開發(fā)者社區(qū)挖到一個(gè)超實(shí)用的性能優(yōu)化案例—— 解決Grid組件加載慢、滾動(dòng)卡頓的問題 。官方其實(shí)藏了不少寶藏案例，但很
發(fā)表于 06-12 17:47
鴻蒙5開發(fā)寶藏案例分享---性能優(yōu)化案例解析
鴻蒙性能優(yōu)化寶藏指南：實(shí)戰(zhàn)工具與代碼案例解析
大家好呀！今天在翻鴻蒙開發(fā)者文檔時(shí)，意外挖到一個(gè) 性能優(yōu)化寶藏庫 ——原來官方早就提供了超多實(shí)用工具和案例，但很多小伙伴可能沒發(fā)現(xiàn)！這篇就
發(fā)表于 06-12 16:36
VirtualLab：光柵的優(yōu)化與分析
光柵是光學(xué)工程師使用的最基本的工具。為了設(shè)計(jì)和分析這類組件，快速物理光學(xué)建模和設(shè)計(jì)軟件VirtualLab Fusion為用戶提供了許多有用的工具。其中包括參數(shù)優(yōu)化，以輕松優(yōu)化系統(tǒng)，以及參數(shù)運(yùn)行，它
發(fā)表于 05-23 08:49
PDN阻抗仿真方法解析
PDN（Power Delivery Network）阻抗表征電源分配網(wǎng)絡(luò)在頻域內(nèi)的動(dòng)態(tài)響應(yīng)特性，定義為從負(fù)載端觀察到的電源分配系統(tǒng)輸入阻抗。
HarmonyOS NEXT 原生應(yīng)用/元服務(wù)-DevEco Profiler性能優(yōu)化過程
流程概覽
在開發(fā)應(yīng)用時(shí)，開發(fā)者會(huì)對應(yīng)用的運(yùn)行情況有一個(gè)預(yù)期的指標(biāo)，當(dāng)應(yīng)用在某些方面不能滿足預(yù)期的指標(biāo)或者表現(xiàn)不佳時(shí)，意味著您的應(yīng)用可能存在性能問題，需要對應(yīng)用進(jìn)行性能優(yōu)化以達(dá)到您的預(yù)期。應(yīng)用的
發(fā)表于 02-19 15:28
如何通過直流負(fù)載箱優(yōu)化電源測試效率？
減少、階躍變化等，以全面評估電源在不同負(fù)載條件下的性能表現(xiàn)。這樣在一次測試中就能獲取更多有效數(shù)據(jù)，提高了測試效率。
高效數(shù)據(jù)采集與分析
實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集：直流負(fù)載箱可以實(shí)時(shí)采集負(fù)載電流、電壓、功率等關(guān)鍵
發(fā)表于 02-13 13:45
快恢復(fù)二極管的導(dǎo)通壓降與溫度的關(guān)系
開關(guān)損耗。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，快恢復(fù)二極管的導(dǎo)通壓降（ForwardVoltageDrop，Vf）與溫度的關(guān)系是一個(gè)值得關(guān)注的問題。導(dǎo)通壓降的基本特性導(dǎo)通
華為云 X 實(shí)例 CPU 性能測試詳解與優(yōu)化策略
? 3.2 CPU性能瓶頸分析 ? 4. CPU性能優(yōu)化策略 ? 4.1 優(yōu)化CPU性能的常用
工商網(wǎng)監(jiān)
評論