動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-01-10 10:02
拋磚引玉，教你學(xué)習(xí)各種總線(xiàn)技術(shù)
如果一座只能容一個(gè)人來(lái)往的獨(dú)木橋，兩端的人都想要過(guò)橋，為了不擁擠、阻塞，那我們就得采取有效的辦法。比如規(guī)定某段時(shí)間哪端的人過(guò)橋，另一端的人就等著該他過(guò)橋的時(shí)間段的到來(lái)，同時(shí)也還可以規(guī)定人多時(shí)要按先來(lái)后到或年齡長(zhǎng)幼的次序過(guò)橋。在這不經(jīng)意間，我們就體會(huì)到了現(xiàn)代電子信息數(shù)據(jù)通過(guò)總線(xiàn)按時(shí)分系統(tǒng)傳輸?shù)淖钤嫉乃枷搿，F(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)信息的發(fā)展，特別是對(duì)于成本和空間而言，總線(xiàn)傳輸 -
發(fā)布了文章 2025-01-03 10:03
芯片行業(yè)，怎么看？
剛過(guò)去的2024年，半導(dǎo)體行業(yè)喜憂(yōu)參半。但恭喜大家，我們都順利跨入了2025年。回到去年的半導(dǎo)體行業(yè)，喜的是，在A(yíng)I的推動(dòng)下，類(lèi)似英偉達(dá)、博通、Marvell等大廠(chǎng)能夠憑借在數(shù)據(jù)中心相關(guān)芯片上的優(yōu)勢(shì)，獲得了很多的機(jī)會(huì)。但除了AI以外，似乎所有市場(chǎng)都不盡如人意。無(wú)論是之前高歌猛進(jìn)的汽車(chē)產(chǎn)業(yè)，還是早已陷入了低潮的消費(fèi)電子。這就讓芯片市場(chǎng)在2024年，愁容滿(mǎn)面。展 -
發(fā)布了文章 2024-12-27 10:03
半導(dǎo)體，最新預(yù)測(cè)
人工智能技術(shù)讓半導(dǎo)體領(lǐng)導(dǎo)者對(duì)2025年更加樂(lè)觀(guān)，但阻力可能來(lái)自地緣政治和人才保留問(wèn)題。這些是美國(guó)審計(jì)、稅務(wù)和咨詢(xún)公司畢馬威(KPMG)和全球半導(dǎo)體聯(lián)盟(GSA)發(fā)布的第20份年度全球半導(dǎo)體展望報(bào)告中的一些預(yù)測(cè)。接受調(diào)查的半導(dǎo)體高管中約有92%預(yù)測(cè)2025年整個(gè)行業(yè)將實(shí)現(xiàn)增長(zhǎng)。由于人工智能、云、數(shù)據(jù)中心、無(wú)線(xiàn)通信和汽車(chē)應(yīng)用的發(fā)展，對(duì)芯片的需求將持續(xù)增長(zhǎng)，畢馬威 -
發(fā)布了文章 2024-12-20 10:02
芯片的失效性分析與應(yīng)對(duì)方法
在汽車(chē)、數(shù)據(jù)中心和人工智能等關(guān)鍵領(lǐng)域，半導(dǎo)體芯片的可靠性成為系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的核心要素。隨著技術(shù)發(fā)展，芯片面臨著更為復(fù)雜的使用環(huán)境與性能需求，其失效問(wèn)題愈發(fā)凸顯。本文將深入探討芯片失效的根源，剖析芯片老化的內(nèi)在機(jī)理，揭示芯片失效問(wèn)題的復(fù)雜性，并提出針對(duì)性的應(yīng)對(duì)策略，為提升芯片可靠性提供全面的分析與解決方案，助力相關(guān)行業(yè)在芯片應(yīng)用中有效應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)，保障系統(tǒng)的高效穩(wěn)定 -
發(fā)布了文章 2024-12-13 10:01
【漢通達(dá)科技】引領(lǐng)未來(lái)測(cè)試技術(shù)，ATX中國(guó)區(qū)獨(dú)家呈現(xiàn)高端夾具與設(shè)備
在這個(gè)日新月異的科技時(shí)代，每一個(gè)細(xì)微的精準(zhǔn)都決定了產(chǎn)品的卓越與否。作為德國(guó)ATX公司在中國(guó)區(qū)的獨(dú)家代理商，北京漢通達(dá)科技有限公司攜手ATX，為您帶來(lái)一場(chǎng)前所未有的測(cè)試技術(shù)盛宴。ATX，以其卓越的創(chuàng)新能力和對(duì)品質(zhì)的不懈追求，為全球客戶(hù)提供了一系列領(lǐng)先業(yè)界的測(cè)試夾具與生產(chǎn)設(shè)備。今天，就讓我們一起探索ATX如何助力您的生產(chǎn)線(xiàn)邁向更高效、更安全的未來(lái)。一、產(chǎn)品介紹1 -
發(fā)布了文章 2024-12-07 01:04
北京漢通達(dá)科技有限公司正式簽約德國(guó)ATX公司，成為中國(guó)獨(dú)家代理商
近日，北京漢通達(dá)科技有限公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“漢通達(dá)”）與德國(guó)ATX公司達(dá)成戰(zhàn)略合作，正式成為ATX公司在中國(guó)地區(qū)的獨(dú)家代理商。這一里程碑式的合作不僅標(biāo)志著漢通達(dá)在測(cè)試夾具及自動(dòng)化技術(shù)領(lǐng)域的進(jìn)一步拓展，也意味著中國(guó)客戶(hù)將能夠更便捷地接觸到ATX公司的卓越產(chǎn)品和一流服務(wù)。ATX公司，作為歐洲市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)者，自1997年成立以來(lái)，始終致力于為客戶(hù)提供高質(zhì)量的測(cè)試夾具和自 -
發(fā)布了文章 2024-11-23 01:02
IC芯片老化測(cè)試以及方案詳解
芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法，以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗(yàn)的目的是評(píng)估芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用和負(fù)載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性，以確定其壽命和可靠性指標(biāo)。2.測(cè)試方案設(shè)計(jì)：-選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試負(fù)載：根據(jù)芯片的應(yīng)用場(chǎng)景和預(yù)期使用條件，確定合適的測(cè)試負(fù)載，包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設(shè)計(jì)測(cè)試持續(xù)時(shí)間：根據(jù)芯片的預(yù)期使用 -
發(fā)布了文章 2024-11-16 01:03
芯片測(cè)試程序
一、測(cè)試程序的基本概念測(cè)試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）識(shí)別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測(cè)試的核心。測(cè)試程序的主要功能是指引ATE在測(cè)試中如何與被測(cè)器件（DUT）交互，具體包括如何對(duì)DUT施加不同的輸入激勵(lì)，如何測(cè)量其響應(yīng)信號(hào)，以及將測(cè)量結(jié)果與設(shè)定的門(mén)限值（Limit）進(jìn)行比較，最終判定測(cè)試結(jié)果為“通過(guò)”（Pas -
發(fā)布了文章 2024-11-02 08:03
CP測(cè)試與FT測(cè)試的區(qū)別
在集成電路（IC）制造與測(cè)試過(guò)程中，CP（ChipProbing，晶圓探針測(cè)試）和FT（FinalTest，最終測(cè)試）是兩個(gè)重要的環(huán)節(jié)，它們承擔(dān)了不同的任務(wù)，使用不同的設(shè)備和方法，但都是為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。1.CP測(cè)試與FT測(cè)試的基礎(chǔ)概念要理解CP和FT的區(qū)別，我們可以將整個(gè)芯片制造和測(cè)試過(guò)程比喻成“篩選和包裝水果”的過(guò)程。CP測(cè)試：相當(dāng)于在水果采摘 -
發(fā)布了文章 2024-10-25 13:00
芯片大廠(chǎng)們：不好意思，明年也已售罄
最近，芯片大廠(chǎng)頻頻傳出售罄的消息。芯片出現(xiàn)售罄的情況并不常見(jiàn)，但在一些特定情況下會(huì)發(fā)生。比如2021年全球芯片缺貨潮，在這一年，全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)面臨著嚴(yán)重的芯片短缺問(wèn)題，多家芯片公司的產(chǎn)品都出現(xiàn)了供應(yīng)緊張甚至售罄的情況。與疫情時(shí)期的大多數(shù)芯片缺貨不同，這次是缺的是細(xì)分領(lǐng)域的AI芯片。01售罄的芯片大廠(chǎng)們最近，英偉達(dá)的BlackwellGPU未來(lái)12個(gè)月的供應(yīng)量
