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• 發(fā)布了文章 2024-12-13 10:01

  【漢通達(dá)科技】引領(lǐng)未來測試技術(shù)，ATX中國區(qū)獨家呈現(xiàn)高端夾具與設(shè)備

  

  在這個日新月異的科技時代，每一個細(xì)微的精準(zhǔn)都決定了產(chǎn)品的卓越與否。作為德國ATX公司在中國區(qū)的獨家代理商，北京漢通達(dá)科技有限公司攜手ATX，為您帶來一場前所未有的測試技術(shù)盛宴。ATX，以其卓越的創(chuàng)新能力和對品質(zhì)的不懈追求，為全球客戶提供了一系列領(lǐng)先業(yè)界的測試夾具與生產(chǎn)設(shè)備。今天，就讓我們一起探索ATX如何助力您的生產(chǎn)線邁向更高效、更安全的未來。一、產(chǎn)品介紹1

  漢通達(dá) 夾具 測試

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• 發(fā)布了文章 2024-12-07 01:04

  北京漢通達(dá)科技有限公司正式簽約德國ATX公司，成為中國獨家代理商

  

  近日，北京漢通達(dá)科技有限公司（以下簡稱“漢通達(dá)”）與德國ATX公司達(dá)成戰(zhàn)略合作，正式成為ATX公司在中國地區(qū)的獨家代理商。這一里程碑式的合作不僅標(biāo)志著漢通達(dá)在測試夾具及自動化技術(shù)領(lǐng)域的進一步拓展，也意味著中國客戶將能夠更便捷地接觸到ATX公司的卓越產(chǎn)品和一流服務(wù)。ATX公司，作為歐洲市場的領(lǐng)導(dǎo)者，自1997年成立以來，始終致力于為客戶提供高質(zhì)量的測試夾具和自

  漢通達(dá) ATX 測試

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• 發(fā)布了文章 2024-11-23 01:02

  IC芯片老化測試以及方案詳解

  

  芯片老化試驗是一種對芯片進行長時間運行和負(fù)載測試的方法，以模擬芯片在實際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗的目的是評估芯片在長時間使用和負(fù)載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性，以確定其壽命和可靠性指標(biāo)。2.測試方案設(shè)計：-選擇適當(dāng)?shù)臏y試負(fù)載：根據(jù)芯片的應(yīng)用場景和預(yù)期使用條件，確定合適的測試負(fù)載，包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設(shè)計測試持續(xù)時間：根據(jù)芯片的預(yù)期使用

  漢通達(dá) IC芯片 模擬芯片 老化測試

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• 發(fā)布了文章 2024-11-16 01:03

  芯片測試程序

  

  一、測試程序的基本概念測試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動測試設(shè)備）識別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測試的核心。測試程序的主要功能是指引ATE在測試中如何與被測器件（DUT）交互，具體包括如何對DUT施加不同的輸入激勵，如何測量其響應(yīng)信號，以及將測量結(jié)果與設(shè)定的門限值（Limit）進行比較，最終判定測試結(jié)果為“通過”（Pas

  漢通達(dá) ATE 測試程序 芯片測試

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• 發(fā)布了文章 2024-11-02 08:03

  CP測試與FT測試的區(qū)別

  

  在集成電路（IC）制造與測試過程中，CP（ChipProbing，晶圓探針測試）和FT（FinalTest，最終測試）是兩個重要的環(huán)節(jié)，它們承擔(dān)了不同的任務(wù)，使用不同的設(shè)備和方法，但都是為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。1.CP測試與FT測試的基礎(chǔ)概念要理解CP和FT的區(qū)別，我們可以將整個芯片制造和測試過程比喻成“篩選和包裝水果”的過程。CP測試：相當(dāng)于在水果采摘

  漢通達(dá) 晶圓 測試 芯片制造 集成電路

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• 發(fā)布了文章 2024-10-25 13:00

  芯片大廠們：不好意思，明年也已售罄

  

  最近，芯片大廠頻頻傳出售罄的消息。芯片出現(xiàn)售罄的情況并不常見，但在一些特定情況下會發(fā)生。比如2021年全球芯片缺貨潮，在這一年，全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)面臨著嚴(yán)重的芯片短缺問題，多家芯片公司的產(chǎn)品都出現(xiàn)了供應(yīng)緊張甚至售罄的情況。與疫情時期的大多數(shù)芯片缺貨不同，這次是缺的是細(xì)分領(lǐng)域的AI芯片。01售罄的芯片大廠們最近，英偉達(dá)的BlackwellGPU未來12個月的供應(yīng)量

  漢通達(dá) AI 臺積電 芯片 英偉達(dá)

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• 發(fā)布了文章 2024-10-12 08:03

  IC測試基本原理與ATE測試向量生成

  

  IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對電路的質(zhì)量與可靠性要求進一步提高，集成電路的測試方法也變得越來越困難。因此，研究和發(fā)展IC測試，有著重要的意義。而測試向量作為IC測試中的重要部分，研究其生成方法也日漸重要。1IC測試1.1IC測試原理IC測試是指依據(jù)被測器件（DUT）特點

  漢通達(dá) ATE IC測試 功能測試 芯片

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• 發(fā)布了文章 2024-09-28 08:02

  聚焦‘芯’科技，第12屆半導(dǎo)體設(shè)備展圓滿落幕，漢通達(dá)與業(yè)內(nèi)同仁共繪產(chǎn)業(yè)藍(lán)圖"

  

  隨著“第12屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件展示會”的圓滿閉幕，北京漢通達(dá)科技有限公司在此向所有關(guān)注和支持我們的朋友致以最誠摯的感謝！經(jīng)過數(shù)日的精彩展示與深入交流，我們滿載而歸，不僅展示了公司的最新科技成果，更與眾多行業(yè)精英建立了深厚的友誼與合作橋梁。展會亮點回顧：尖端技術(shù)，震撼亮相：我們精心策劃的展示內(nèi)容，涵蓋了半導(dǎo)體設(shè)備的最新進展與核心部件的創(chuàng)新突破。無論是高精度

  漢通達(dá) 半導(dǎo)體設(shè)備 總線

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• 發(fā)布了文章 2024-09-20 08:05

  【展會盛事，邀您共鑒】共赴CSEAC 2024，引領(lǐng)半導(dǎo)體新未來！

  

  在這個充滿機遇與挑戰(zhàn)的半導(dǎo)體行業(yè)新時代，北京漢通達(dá)科技有限公司始終與您并肩前行，共同探索技術(shù)創(chuàng)新與市場拓展的新路徑。我們非常榮幸地受邀參加“第12屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件展示會”，作為中國半導(dǎo)體行業(yè)的年度盛會，本次展會不僅匯聚了行業(yè)精英，更是技術(shù)交流與合作的絕佳平臺,借此機會誠摯地邀請您及貴公司團隊一同蒞臨展會現(xiàn)場。展會時間：2024年9月25日至9月27日展

  漢通達(dá) 半導(dǎo)體 芯片測試 設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2024-08-30 12:17

  攜手共進二十載，筑夢前行再遠(yuǎn)航

  

  北京漢通達(dá)科技有限公司自2003年成為德國AIM公司中國區(qū)的獨家總代理至今已超過20年，AIM非常重視與漢通達(dá)的合作關(guān)系并認(rèn)可我們20年來對AIM公司在中國市場發(fā)展所做的努力與貢獻，AIM公司最近特別在官網(wǎng)發(fā)布新聞強調(diào)AIM公司與漢通達(dá)的緊密合作關(guān)系并認(rèn)可漢通達(dá)公司為中國區(qū)客戶所提供的所有技術(shù)支持服務(wù)。北京漢通達(dá)科技有限公司與德國AIM公司長達(dá)20余年的獨家

  漢通達(dá) 仿真 測試

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