動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-02-14 10:04
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發(fā)布了文章 2025-02-07 10:02
DeepSeek對(duì)芯片算力的影響
DeepSeek模型，尤其是其基于MOE（混合專家）架構(gòu)的DeepSeek-V3，對(duì)芯片算力的要求產(chǎn)生了深遠(yuǎn)影響。為了更好地理解這一影響，我們可以從幾個(gè)方面進(jìn)行分析。一.MOE架構(gòu)對(duì)算力的優(yōu)化MOE架構(gòu)的核心理念是將整個(gè)模型劃分為多個(gè)子模型（專家），每個(gè)子模型負(fù)責(zé)特定的任務(wù)，且在實(shí)際推理時(shí)并非激活所有專家，而是根據(jù)輸入數(shù)據(jù)選擇性激活需要的專家。對(duì)于芯片算力的 -
發(fā)布了文章 2025-01-17 10:03
非常詳細(xì)的BUCK電路 PCB layout建議
在DC-DC芯片的應(yīng)用設(shè)計(jì)中，PCB布板是否合理對(duì)于芯片能否表現(xiàn)出其最優(yōu)性能有著至關(guān)重要的影響。不合理的PCB布板會(huì)造成芯片性能變差如線性度下降（包括輸入線性度以及輸出線性度）、帶載能力下降、工作不穩(wěn)定、EMI輻射增加、輸出噪聲增加等，更嚴(yán)重的可能會(huì)直接造成芯片損壞。一般DC-DC芯片的使用手冊(cè)中都會(huì)有其對(duì)應(yīng)的PCB布板設(shè)計(jì)要求以及布板示意圖，本次我們就以同1.6k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-01-10 10:02
拋磚引玉，教你學(xué)習(xí)各種總線技術(shù)
如果一座只能容一個(gè)人來(lái)往的獨(dú)木橋，兩端的人都想要過(guò)橋，為了不擁擠、阻塞，那我們就得采取有效的辦法。比如規(guī)定某段時(shí)間哪端的人過(guò)橋，另一端的人就等著該他過(guò)橋的時(shí)間段的到來(lái)，同時(shí)也還可以規(guī)定人多時(shí)要按先來(lái)后到或年齡長(zhǎng)幼的次序過(guò)橋。在這不經(jīng)意間，我們就體會(huì)到了現(xiàn)代電子信息數(shù)據(jù)通過(guò)總線按時(shí)分系統(tǒng)傳輸?shù)淖钤嫉乃枷搿，F(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)信息的發(fā)展，特別是對(duì)于成本和空間而言，總線傳輸933瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-01-03 10:03
芯片行業(yè)，怎么看？
剛過(guò)去的2024年，半導(dǎo)體行業(yè)喜憂參半。但恭喜大家，我們都順利跨入了2025年?；氐饺ツ甑陌雽?dǎo)體行業(yè)，喜的是，在AI的推動(dòng)下，類(lèi)似英偉達(dá)、博通、Marvell等大廠能夠憑借在數(shù)據(jù)中心相關(guān)芯片上的優(yōu)勢(shì)，獲得了很多的機(jī)會(huì)。但除了AI以外，似乎所有市場(chǎng)都不盡如人意。無(wú)論是之前高歌猛進(jìn)的汽車(chē)產(chǎn)業(yè)，還是早已陷入了低潮的消費(fèi)電子。這就讓芯片市場(chǎng)在2024年，愁容滿面。展 -
發(fā)布了文章 2024-12-27 10:03
半導(dǎo)體，最新預(yù)測(cè)
人工智能技術(shù)讓半導(dǎo)體領(lǐng)導(dǎo)者對(duì)2025年更加樂(lè)觀，但阻力可能來(lái)自地緣政治和人才保留問(wèn)題。這些是美國(guó)審計(jì)、稅務(wù)和咨詢公司畢馬威(KPMG)和全球半導(dǎo)體聯(lián)盟(GSA)發(fā)布的第20份年度全球半導(dǎo)體展望報(bào)告中的一些預(yù)測(cè)。接受調(diào)查的半導(dǎo)體高管中約有92%預(yù)測(cè)2025年整個(gè)行業(yè)將實(shí)現(xiàn)增長(zhǎng)。由于人工智能、云、數(shù)據(jù)中心、無(wú)線通信和汽車(chē)應(yīng)用的發(fā)展，對(duì)芯片的需求將持續(xù)增長(zhǎng)，畢馬威 -
發(fā)布了文章 2024-12-20 10:02
芯片的失效性分析與應(yīng)對(duì)方法
在汽車(chē)、數(shù)據(jù)中心和人工智能等關(guān)鍵領(lǐng)域，半導(dǎo)體芯片的可靠性成為系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的核心要素。隨著技術(shù)發(fā)展，芯片面臨著更為復(fù)雜的使用環(huán)境與性能需求，其失效問(wèn)題愈發(fā)凸顯。本文將深入探討芯片失效的根源，剖析芯片老化的內(nèi)在機(jī)理，揭示芯片失效問(wèn)題的復(fù)雜性，并提出針對(duì)性的應(yīng)對(duì)策略，為提升芯片可靠性提供全面的分析與解決方案，助力相關(guān)行業(yè)在芯片應(yīng)用中有效應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)，保障系統(tǒng)的高效穩(wěn)定 -
發(fā)布了文章 2024-12-13 10:01
【漢通達(dá)科技】引領(lǐng)未來(lái)測(cè)試技術(shù)，ATX中國(guó)區(qū)獨(dú)家呈現(xiàn)高端夾具與設(shè)備
在這個(gè)日新月異的科技時(shí)代，每一個(gè)細(xì)微的精準(zhǔn)都決定了產(chǎn)品的卓越與否。作為德國(guó)ATX公司在中國(guó)區(qū)的獨(dú)家代理商，北京漢通達(dá)科技有限公司攜手ATX，為您帶來(lái)一場(chǎng)前所未有的測(cè)試技術(shù)盛宴。ATX，以其卓越的創(chuàng)新能力和對(duì)品質(zhì)的不懈追求，為全球客戶提供了一系列領(lǐng)先業(yè)界的測(cè)試夾具與生產(chǎn)設(shè)備。今天，就讓我們一起探索ATX如何助力您的生產(chǎn)線邁向更高效、更安全的未來(lái)。一、產(chǎn)品介紹1 -
發(fā)布了文章 2024-12-07 01:04
北京漢通達(dá)科技有限公司正式簽約德國(guó)ATX公司，成為中國(guó)獨(dú)家代理商
近日，北京漢通達(dá)科技有限公司（以下簡(jiǎn)稱“漢通達(dá)”）與德國(guó)ATX公司達(dá)成戰(zhàn)略合作，正式成為ATX公司在中國(guó)地區(qū)的獨(dú)家代理商。這一里程碑式的合作不僅標(biāo)志著漢通達(dá)在測(cè)試夾具及自動(dòng)化技術(shù)領(lǐng)域的進(jìn)一步拓展，也意味著中國(guó)客戶將能夠更便捷地接觸到ATX公司的卓越產(chǎn)品和一流服務(wù)。ATX公司，作為歐洲市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)者，自1997年成立以來(lái)，始終致力于為客戶提供高質(zhì)量的測(cè)試夾具和自 -
發(fā)布了文章 2024-11-23 01:02
IC芯片老化測(cè)試以及方案詳解
芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法，以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗(yàn)的目的是評(píng)估芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用和負(fù)載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性，以確定其壽命和可靠性指標(biāo)。2.測(cè)試方案設(shè)計(jì)：-選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試負(fù)載：根據(jù)芯片的應(yīng)用場(chǎng)景和預(yù)期使用條件，確定合適的測(cè)試負(fù)載，包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設(shè)計(jì)測(cè)試持續(xù)時(shí)間：根據(jù)芯片的預(yù)期使用
