動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-11-20 23:55

  什么是掃描電鏡（SEM）？

  

  掃描電子顯微鏡（SEM）掃描電子顯微鏡（SEM）是現(xiàn)代科學(xué)探索微觀世界的一把關(guān)鍵鑰匙。它通過高分辨率的電子成像技術(shù)，使我們能夠洞察物質(zhì)的微觀構(gòu)造，從而在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中發(fā)揮著不可替代的作用。金鑒實驗室作為行業(yè)領(lǐng)先的檢測機構(gòu)，擁有先進的SEM設(shè)備，能夠為客戶提供高分辨率的微觀結(jié)構(gòu)分析服務(wù)。SEM：微觀構(gòu)造的關(guān)鍵工具SEM通過高能電子束掃描樣品表面，收集電子

  SEM 掃描電鏡 顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-11-20 23:55

  LED汽車前大燈的散熱挑戰(zhàn)：光源設(shè)計中的關(guān)鍵議題

  

  半導(dǎo)體材料在汽車照明中的應(yīng)用在現(xiàn)代汽車照明系統(tǒng)中，半導(dǎo)體材料的性能對車輛的安全性和效率至關(guān)重要。特別是大功率LED（發(fā)光二極管）在汽車前大燈中的應(yīng)用，其光電轉(zhuǎn)換效率雖然相對較低，僅有50%至75%的電能轉(zhuǎn)化為光能，其余則轉(zhuǎn)化為熱能。這種熱能的產(chǎn)生，加之汽車發(fā)動機艙內(nèi)的高溫環(huán)境，如高溫水箱、引擎和排氣系統(tǒng)，使得LED前大燈在極端條件下工作，對其性能和壽命構(gòu)成了

  led 汽車 汽車照明

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• 發(fā)布了文章 2024-11-20 23:53

  氬離子拋光技術(shù)：揭示材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的精密樣品制備方法

  

  材料微觀結(jié)構(gòu)分析的精加工利器在材料科學(xué)研究中，揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)對于理解其物理和化學(xué)性質(zhì)至關(guān)重要。氬離子束拋光技術(shù)，作為一種高效的材料表面處理方法，通過精確控制工藝參數(shù)，能夠有效去除樣品表面的損傷層，為高質(zhì)量的成像和分析提供了理想的樣品表面。金鑒實驗室作為一家提供檢測、鑒定、認證和研發(fā)服務(wù)的第三方檢測與分析機構(gòu)，在氬離子拋光制樣方面擁有豐富的經(jīng)驗和卓越的技術(shù)

  材料 檢測 測試設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2024-11-20 23:52

  一文了解氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS）

  

  氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)是一種綜合了氣相色譜的高效分離能力和質(zhì)譜的高靈敏度定性分析能力的分析技術(shù)。金鑒實驗室配備了先進的氣相色譜質(zhì)譜儀，憑借其卓越的性能和專業(yè)的技術(shù)團隊，為眾多行業(yè)提供了精準(zhǔn)、可靠的檢測服務(wù)。該技術(shù)通過將待測樣品氣化后，利用毛細管柱進行分離，隨后在離子源中轉(zhuǎn)化為正離子。這些離子在電子轟擊電離源（EI）的作用下產(chǎn)生，并在推斥

  檢測器 色譜儀

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• 發(fā)布了文章 2024-11-18 17:56

  硫化氫試驗（H2S）

  

  一應(yīng)用原理當(dāng)產(chǎn)品在大氣中使用時，大氣環(huán)境會導(dǎo)致產(chǎn)品金屬表面形成水膜，而大氣中存在的硫化氫、二氧化硫、二氧化氮、氯氣等有害氣體會溶入金屬表面的水膜中，產(chǎn)生腐蝕性離子加速腐蝕的發(fā)生。近年來，環(huán)境的不斷惡化，使得腐蝕的發(fā)生幾率大大增加，每年電子、電器、通訊、計算機、LED等行業(yè)都因為產(chǎn)品在大氣中被腐蝕而損失慘重。為了減少損失，各行業(yè)積極應(yīng)對，致力于提高產(chǎn)品的耐腐蝕

  H2S氣體 led 燈珠

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• 發(fā)布了文章 2024-11-18 17:54

  車規(guī)電子-AEC-Q認證

  

  汽車電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：AEC-Q認證在汽車行業(yè)中，隨著電子技術(shù)的應(yīng)用日益廣泛，對汽車電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性要求也越來越高。為了確保汽車電子部件能夠在各種復(fù)雜多變的環(huán)境下穩(wěn)定工作，AEC-Q認證應(yīng)運而生，成為汽車電子行業(yè)的重要標(biāo)準(zhǔn)。AEC-Q認證概述：AEC-Q認證是由汽車電子協(xié)會（AutomotiveElectronicsCouncil,AEC）制定的一系列針對

  AEC 汽車電子 認證

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• 發(fā)布了文章 2024-11-18 17:52

  電子背散射衍射（EBSD）：揭示材料晶體學(xué)信息的窗口

  

  什么是電子背散射衍射（EBSD）？電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)在材料科學(xué)中扮演著至關(guān)重要的角色，尤其是在掃描電子顯微鏡（SEM）中，它為研究者提供了一種獲取材料晶體學(xué)信息的有效手段。EBSD揭示的關(guān)鍵信息1.物相鑒定：EBSD能夠?qū)γ總€分析點進行物相的識別和確認，這一過程基于晶體學(xué)的差異，并可結(jié)合化學(xué)信息（如能譜儀EDS提供的數(shù)據(jù)）。2.晶體取向：EBSD

  SEM 晶體學(xué) 材料

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• 發(fā)布了文章 2024-11-18 17:46

  ICP元素分析

  

  ICP：電感耦合等離子體。可用“ICP”來代替“ICP-OES，和ICP-AES”。兩者都是指電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜，是一樣的。因為俄歇電子能譜的縮寫也是AES，所以后來ICP-AES通常都被叫做ICP-OES。一、工作原理待測試樣經(jīng)噴霧器形成氣溶膠進入石英炬管等離子體中心通道中，經(jīng)光源激發(fā)以后所輻射的譜線，經(jīng)入射狹縫到色散系統(tǒng)光柵，分光后的待測元素特

  ICP 光譜 電感耦合

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• 發(fā)布了文章 2024-11-15 11:11

  LED的TEM分析

  

  透射電子顯微鏡TEM在LED芯片研究中可以提供有關(guān)LED芯片結(jié)構(gòu)、膜層厚度、位錯缺陷等方面的詳細信息。金鑒實驗室具備先進的TEM設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團隊，能夠為客戶提供高精度的LED芯片分析服務(wù)，確保每一項測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。不同類型的芯片結(jié)構(gòu)在工藝設(shè)計上有所不同，金屬電極與外延各層成分分析與厚度測量常常需要通過TEM分析才能獲得更加精確的信息。電極結(jié)構(gòu)是

  led TEM 芯片

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• 發(fā)布了文章 2024-11-15 11:10

  IP等級外殼：防護性能試驗全解析

  

  一IP等級外殼的防護性能試驗IP等級外殼防護性能試驗是一套用來衡量產(chǎn)品外殼對固體顆粒和水分侵入的防護效果的標(biāo)準(zhǔn)化測試程序。這些測試遵循一系列國際和國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，如GB/T4208-2017、IEC60529:2013（適用于民用產(chǎn)品），GB7000.1-2015、IEC60598-1:2014（專門針對燈具），以及GB/T30038-2013、ISO20653:

  IP防護 試驗 防護等級

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