動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:34

  EBSD分析中的荷電效應(yīng)控制：導(dǎo)電鍍膜技術(shù)的應(yīng)用

  

  導(dǎo)電膜技術(shù)的應(yīng)用在電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)的應(yīng)用過程中，絕緣材料的樣品經(jīng)常會遇到電荷積聚問題，這不僅會降低圖像質(zhì)量，還會影響衍射數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。為了有效減少或消除這種電荷積聚效應(yīng)，采取適當(dāng)?shù)念A(yù)防措施是十分必要的。樣品表面處理的要點1.表面平整性：確保樣品表面盡可能地平整，減少因表面不均勻引起的電荷積聚。2.表面精拋光：對樣品表面進行精細(xì)拋光，以降低由于表

  導(dǎo)電 電荷

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:33

  什么是AEC-Q102的恒定加速度測試？

  

  恒定加速度測試是一種關(guān)鍵的實驗性方法，用于評估電子元件在模擬高速動態(tài)條件下的性能。這種測試通過施加恒定的加速度來評估元件的結(jié)構(gòu)強度和機械穩(wěn)定性，旨在揭示那些在標(biāo)準(zhǔn)測試中可能未被發(fā)現(xiàn)的潛在缺陷。這對于確保電子設(shè)備在關(guān)鍵應(yīng)用中的可靠性和安全性至關(guān)重要。測試機制恒定加速度測試模擬了電子元件在實際使用中可能遇到的離心力影響。在受控環(huán)境中，對元件施加恒定的加速度，以模

  機械 測試 電子元件

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:31

  三防測試：揭秘電子產(chǎn)品的可靠性檢測

  

  什么是三防測試？在電子產(chǎn)品的設(shè)計和制造過程中，確保其能夠在各種惡劣環(huán)境下穩(wěn)定運行是至關(guān)重要的。三防試驗，包括濕熱試驗、霉菌試驗和鹽霧試驗，正是為了模擬這些極端條件而設(shè)計的，用以評估電子產(chǎn)品的環(huán)境耐受性。這些測試對于保證產(chǎn)品在實際應(yīng)用中的長期穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要，尤其是在要求極高的軍事和航空航天領(lǐng)域。三防試驗的詳細(xì)實施方法1.濕熱試驗：該試驗用于評估電工、電

  三防 可靠性測試 電子產(chǎn)品

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:29

  透射電子顯微鏡（TEM）：基礎(chǔ)知識概覽

  

  透射電子顯微鏡（TEM）概述透射電子顯微鏡（TEM）是材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中不可或缺的研究工具。對于新接觸TEM的科研人員而言，理解其基礎(chǔ)原理和操作對于高效利用這一設(shè)備至關(guān)重要。本文將詳細(xì)介紹TEM的基礎(chǔ)知識，以幫助新手快速掌握這一技術(shù)。TEM檢測的關(guān)鍵點TEM檢測主要關(guān)注材料的微觀結(jié)構(gòu)特征，包括元素分布、相組成、晶體缺陷等。這些特征在微觀層面上表現(xiàn)為不

  TEM 顯微鏡 電子顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:27

  LED封裝用膠無氯檢測與驗證

  

  LED封裝膠水的關(guān)鍵作用在LED產(chǎn)品的制造過程中，LED封裝膠水發(fā)揮著核心作用，它不僅關(guān)系到光線的傳輸和熱量的釋放，還負(fù)責(zé)保護LED芯片不受外部環(huán)境的侵害。因此，封裝膠水的優(yōu)劣直接決定了LED產(chǎn)品的耐用性和穩(wěn)定性。LED制造商在挑選封裝膠水時，需要基于產(chǎn)品的性能指標(biāo)和實際應(yīng)用環(huán)境，精心選擇能夠滿足LED產(chǎn)品特別需求的膠水。氯含量控制的重要性在LED封裝膠水的

  led LED封裝 檢測

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:22

  高分辨透射電鏡粉末樣品制備技術(shù)解析

  

  透射電子顯微鏡（TEM）簡介透射電子顯微鏡（TEM）能夠通過電子束穿透樣品，揭示材料的微觀世界。這種顯微鏡通過電子與樣品原子的相互作用，捕捉到不同密度和厚度的圖像，從而展現(xiàn)樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)。TEM具備極高的分辨率，達到0.1至0.2納米，并且能夠提供數(shù)萬至百萬倍的放大能力，專門用于觀察小于0.2微米的微觀結(jié)構(gòu)。金鑒實驗室擁有先進的TEM設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團隊，能

  TEM 顯微鏡 電鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:20

  背散射電子衍射（EBSD）的原理與應(yīng)用領(lǐng)域

  

  No.1EBSD從原理到應(yīng)用電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域中扮演著重要角色，特別是在掃描電子顯微鏡（SEM）中，它為研究者提供了一種獲取樣品晶體學(xué)信息的強大工具。EBSD技術(shù)不僅能夠測量晶體取向、分析晶界取向差異，還能鑒別物相和評估局部晶體的完整性。與傳統(tǒng)的金相、投射、XRD、掃描等表征方法相比，EBSD提供了更為豐富和直觀的晶粒取向信息。金鑒

  SEM 顯微鏡 設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:19

  X射線檢測與C-SAM檢測的區(qū)別

  

  在失效分析領(lǐng)域，X射線檢測和超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）是兩種重要的無損檢測技術(shù)，它們各自具有獨特的特點和應(yīng)用場景。失效分析技術(shù)對比：X射線檢測（X-RAY）與超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）。檢測目標(biāo)的區(qū)分X射線檢測：這種技術(shù)在電子行業(yè)中的應(yīng)用非常廣泛，主要用于檢測印刷電路板（PCB）的焊接質(zhì)量，包括但不限于表面貼裝技術(shù)（SMT）和插件孔技術(shù)（PTH）的組

  X射線 半導(dǎo)體芯片 顯微鏡 檢測

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:17

  AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)中的靜電放電（ESD）測試

  

  什么是靜電放電（ESD）lectro-StaticDischarge，是指在特定環(huán)境下，由于靜電的積累到達一定程度后，電荷以迅速釋放的方式恢復(fù)電平衡的現(xiàn)象。這種放電可能由接觸、摩擦或感應(yīng)等多種方式引發(fā)。ESD的特點是電荷積累時間長、放電電壓高、涉及電量少、電流小且作用時間極短。金鑒實驗室擁有先進的設(shè)備和專業(yè)的團隊，能夠為客戶提供全面的ESD測試服務(wù)，確保電子

  ESD 半導(dǎo)體 靜電放電

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:15

  離子污染評估：揭秘LED燈具中的離子污染測試

  

  離子污染物的定義與影響附著在產(chǎn)品表層、未經(jīng)過徹底清潔處理的殘留物被叫做離子污染物。當(dāng)這些殘留物暴露于潮濕環(huán)境時，它們會轉(zhuǎn)化為帶電的離子。這些殘留物可能來源于多種源頭，包括電鍍所用的化學(xué)藥水、焊接過程中使用的助焊劑、用于清潔產(chǎn)品的溶劑，以及人體接觸時留下的汗液等?？刂齐x子污染的重要性控制離子污染度對于保證電子產(chǎn)品的可靠性至關(guān)重要。殘留的離子污染物在環(huán)境變化時可

  LED燈具 測試 測試儀

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