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LED燈需要做哪些檢測2025-08-25 15:28
在如今的照明領(lǐng)域,LED燈以其節(jié)能、環(huán)保、長壽命等優(yōu)勢被廣泛應(yīng)用。然而,只有經(jīng)過嚴(yán)格檢測的LED燈才能在眾多產(chǎn)品中脫穎而出,為消費(fèi)者帶來真正的優(yōu)質(zhì)體驗(yàn)。LED燈具檢測涉及眾多關(guān)鍵項(xiàng)目,涵蓋力學(xué)測試、電性能參數(shù)、光學(xué)參數(shù)、可靠性試驗(yàn)以及結(jié)構(gòu)與外觀等多個(gè)方面。測試時(shí)的檢驗(yàn)項(xiàng)目1、力學(xué)測試:拉力試驗(yàn)、壓力試驗(yàn)、插拔力試驗(yàn)、耐磨擦試驗(yàn)、模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)。2、電性能參 -
無鹵與鹵素含量測試2025-08-25 15:25
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FIB原理及常見應(yīng)用2025-08-21 14:13
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AEC-Q102之板彎曲試驗(yàn)2025-08-21 14:11
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PCB線路板離子污染度—原理、測試與標(biāo)準(zhǔn)2025-08-21 14:10
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電子元器件為什么會失效2025-08-21 14:09
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潮熱試驗(yàn)+聲掃高可靠用途的篩選(MSL+SAT)2025-08-20 15:47
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車燈設(shè)計(jì):基于 LED 光源的汽車車燈設(shè)計(jì)與優(yōu)化2025-08-20 15:44
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LED車燈因高溫引起的光衰問題2025-08-20 15:42
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聚焦離子束(FIB)技術(shù)介紹2025-08-19 21:35
聚焦離子束(FIB)技術(shù)因液態(tài)金屬離子源突破而飛速發(fā)展。1970年初期,多國科學(xué)家研發(fā)多種液態(tài)金屬離子源。1978年,美國加州休斯研究所搭建首臺Ga+基FIB加工系統(tǒng),推動(dòng)技術(shù)實(shí)用化。80至90年代,F(xiàn)IB技術(shù)在多領(lǐng)域取得顯著進(jìn)步,商用系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于研究及工業(yè)。如今,F(xiàn)IB已成為微電子行業(yè)關(guān)鍵技術(shù),提升材料、工藝及器件分析與修補(bǔ)精度。FIB系統(tǒng)的工作原理聚焦