文章
-
AEC-Q之回流焊接2025-05-15 16:06
-
AEC-Q102之高加速壽命試驗(yàn)2025-05-14 14:40
在當(dāng)今快速發(fā)展的電子行業(yè),產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性是決定其市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵因素之一。為了確保電子產(chǎn)品能夠在各種復(fù)雜環(huán)境條件下長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行,可靠性測(cè)試成為了研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中不可或缺的重要環(huán)節(jié)。其中,高加速壽命試驗(yàn)(HALT)作為一種高效的測(cè)試手段,憑借其能夠在短時(shí)間內(nèi)模擬極端環(huán)境條件并加速產(chǎn)品老化過(guò)程的優(yōu)勢(shì),受到了廣泛關(guān)注。高加速壽命試驗(yàn)機(jī)的設(shè)備功能高加速壽命試驗(yàn) -
深入剖析典型潮敏元器件分層問(wèn)題2025-05-14 14:37
潮敏物料主要是指非密封封裝的IC,受潮后主要失效模式為內(nèi)部分層。在電子組裝領(lǐng)域,潮敏元器件一直是影響產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵因素之一。這些元器件受潮后容易出現(xiàn)各種失效問(wèn)題,給生產(chǎn)過(guò)程帶來(lái)了諸多挑戰(zhàn)。潮敏元器件失效現(xiàn)象描述1.QFN元器件內(nèi)部分層QFN(無(wú)引腳四方扁平封裝)元器件是一種常見(jiàn)的潮敏元器件。在某次生產(chǎn)中,發(fā)現(xiàn)某單板上的QFN元器件出現(xiàn)內(nèi)部分層現(xiàn)象。該 -
電子元器件的定義、選用與控制要點(diǎn)解析2025-05-13 17:55
-
詳細(xì)解析AEC-Q102認(rèn)證2025-05-13 17:54
AEC-Q102是由汽車(chē)電子委員會(huì)(AEC)制定的車(chē)用光電器件可靠性標(biāo)準(zhǔn),于2017年首次發(fā)布,并在2020年更新至RevA版本。該標(biāo)準(zhǔn)的核心目標(biāo)是驗(yàn)證LED、激光二極管、光耦等光電器件在極端汽車(chē)環(huán)境(如溫度、濕度、振動(dòng))下的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和安全性,確保這些器件能夠滿足車(chē)載環(huán)境15年的使用壽命要求。AEC-Q102認(rèn)證已成為汽車(chē)供應(yīng)鏈的準(zhǔn)入門(mén)檻,通過(guò)該認(rèn)證的產(chǎn)品 -
RoHS與ELV有什么差異?2025-05-12 15:44
RoHS的標(biāo)準(zhǔn)RoHS(RestrictionofHazardousSubstances)是一項(xiàng)由歐盟立法制定的強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn),全稱(chēng)為《關(guān)于限制在電子電氣設(shè)備中使用某些有害成分的指令》。該標(biāo)準(zhǔn)的核心目標(biāo)是限制在電子電氣產(chǎn)品制造過(guò)程中使用特定的有害物質(zhì),以減少對(duì)環(huán)境和人類(lèi)健康的潛在危害。RoHS標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用范圍RoHS指令涵蓋了廣泛的產(chǎn)品類(lèi)別,包括但不限于大型家用電 -
案例解析||照明LED的失效模式問(wèn)題及改善措施2025-05-09 16:51
LED是一種直接將電能轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光和輻射能的發(fā)光器件,具有耗電量小、發(fā)光效率高、體積小等優(yōu)點(diǎn),目前已經(jīng)逐漸成為了一種新型高效節(jié)能產(chǎn)品,并且被廣泛應(yīng)用于顯示、照明、背光等諸多領(lǐng)域。近年來(lái),隨著LED技術(shù)的不斷進(jìn)步,其發(fā)光效率也有了顯著的提升,現(xiàn)有的藍(lán)光LED系統(tǒng)效率可以達(dá)到60%,而白光LED的光效已經(jīng)超過(guò)150lm/W,這些特點(diǎn)都使得LED受到越來(lái)越多的關(guān)注 -
AEC-Q102之推拉力測(cè)試2025-05-09 16:49
在汽車(chē)智能化與電動(dòng)化的浪潮中,光電半導(dǎo)體器件(如LED、激光雷達(dá)、光傳感器等)的可靠性直接決定了車(chē)輛的安全性與性能。AEC-Q102作為汽車(chē)電子領(lǐng)域針對(duì)分立光電半導(dǎo)體的核心測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),其推拉力測(cè)試是評(píng)估器件機(jī)械強(qiáng)度的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。推拉力測(cè)試的技術(shù)原理與標(biāo)準(zhǔn)要求推拉力測(cè)試旨在評(píng)估半導(dǎo)體器件內(nèi)部連接結(jié)構(gòu)(如鍵合線、焊點(diǎn)、端子)的機(jī)械強(qiáng)度,防止因振動(dòng)、沖擊或組裝應(yīng)力導(dǎo)致 -
透射電子顯微鏡(TEM)與聚焦離子束技術(shù)(FIB)在材料分析中的應(yīng)用2025-05-09 16:47
-
元器件失效分析有哪些方法?2025-05-08 14:30
失效分析的定義與目標(biāo)失效分析是對(duì)失效電子元器件進(jìn)行診斷的過(guò)程。其核心目標(biāo)是確定失效模式和失效機(jī)理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式,例如開(kāi)路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等;而失效機(jī)理則是指導(dǎo)致失效的物理或化學(xué)過(guò)程,如疲勞、腐蝕、過(guò)應(yīng)力等。通過(guò)失效分析,我們能夠提出有效的糾正措施,防止同類(lèi)問(wèn)題再次出現(xiàn),從而提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。失效分析的程序1.收集