手機(jī)天線(xiàn)，即手機(jī)上用于接收信號(hào)的設(shè)備，舊式手機(jī)有外凸式天線(xiàn)，新式手機(jī)多數(shù)已隱藏在機(jī)身內(nèi)。這類(lèi)天線(xiàn)主要都在手機(jī)內(nèi)部，手機(jī)外觀上看不到里面的東西。

手機(jī)天線(xiàn)是一種駐波天線(xiàn)，天線(xiàn)的阻抗不匹配，將導(dǎo)致大量的信號(hào)反射，使天線(xiàn)的輻射效率降低，同時(shí)由于反射的影響使得天線(xiàn)在寬頻帶內(nèi)的增益有抖動(dòng)，如果天線(xiàn)的駐波為6，手機(jī)前端的擊穿電壓將降為原來(lái)的1/6，而功率容量就會(huì)下降。手機(jī)天線(xiàn)駐波對(duì)天線(xiàn)效率的影響不可不慎。天線(xiàn)的駐波要求，我們目前統(tǒng)一要求為小于3。

手機(jī)天線(xiàn)要測(cè)的參數(shù)

1． 有源（Active）

TRP（Total Radiated Power）/總發(fā)射功率；

TIS（Total Isotopic Sensitivity）/接收靈敏度；

NHPRP（Near Horizon Partial Radiated Power）/近水平面發(fā)射功率；

NHPIS（Near Horizon Isotropic Sensitivity）/近水平面接收靈敏度；

EIRP（Effective Isotropic Radiated Power）/ERP（Effective Radiated Power）/等效全向輻射功率；

PEIRP（Peak Effective Isotropic Radiated Power）/峰值等效全向輻射功率。

2.無(wú)源（Passive）

Gain（dBi）： Gain（dBd）/增益；

Radiation Pattern/天線(xiàn)方向圖測(cè)試；

Input Impedance /天線(xiàn)接口阻抗測(cè)試；

VSWR/RL/天線(xiàn)駐波比/回波損耗測(cè)試；

3D/3D場(chǎng)強(qiáng)圖；

3dB BW/FB Ratio波束寬度，前后比；

Cross polar/Isolation交叉極化比，隔離度；

Directivity/方向性；

Efficiency效率。

手機(jī)天線(xiàn)測(cè)試方法

1、微波暗室（Anechonic chamber）

微波暗室、吸波室、電波暗室。當(dāng)電磁波入射到墻面、天棚、地面時(shí)，絕大部分電磁波被吸收，而透射、反射極少。微波也有光的某些特性，借助光學(xué)暗室的含義，故取名為微波暗室。 微波暗室是SA作和金屬屏蔽體組建的特殊房間，它提供人為空曠的“自由空間”條件。在暗室內(nèi)做天線(xiàn)、雷達(dá)等無(wú)線(xiàn)通訊產(chǎn)品和電子產(chǎn)品測(cè)試可以免受雜波干擾，提高被測(cè)設(shè)備的測(cè)試精度和效率。隨著電子技術(shù)的日益發(fā)展，微波暗室被更多的人了解和應(yīng)用。

微波暗室就是用吸波材料來(lái)制造一個(gè)封閉空間，這樣就可在暗室內(nèi)制造出一個(gè)純凈的電磁環(huán)境。微波暗室材料可以是一切吸波材料，主要材料是聚氨酯吸波海綿SA（高頻使用），另外測(cè)試電子產(chǎn)品電磁兼容性時(shí)，由于頻率過(guò)低也會(huì)采用鐵氧體吸波材料。

微波暗室的主要工作原理是根據(jù)電磁波在介質(zhì)中從低磁導(dǎo)向高磁導(dǎo)方向傳播的規(guī)律，利用高磁導(dǎo)率吸波材料引導(dǎo)電磁波，通過(guò)共振，大量吸收電磁波的輻射能量，再通過(guò)耦合把電磁波的能量轉(zhuǎn)變成熱能。

2、TEM CELL測(cè)試

用TEM CELL測(cè)試天線(xiàn)有源指標(biāo)，因?yàn)槲⒉ò凳液吞炀€(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)造價(jià)比較昂貴，一般要百萬(wàn)以上，一般的手機(jī)設(shè)計(jì)和研發(fā)公司沒(méi)有這種設(shè)備，而用TEM CELL（也較三角錐）來(lái)代替測(cè)試。和微波暗室的測(cè)試目的一樣，TEM CELL也是一個(gè)模擬理想空間的天線(xiàn)測(cè)試環(huán)境，金屬箱能夠提供足夠的屏蔽功能來(lái)消除外部干擾對(duì)天線(xiàn)的影響，而內(nèi)部的吸波材料也能吸收入射波，減小反射波。TEM CELL不能對(duì)天線(xiàn)進(jìn)行無(wú)源測(cè)試，只能對(duì)有源指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。由于空間限制，TEM CELL的吸波材料比較薄，而對(duì)于劈狀吸波材料，是通過(guò)劈尖間的多次反射增加對(duì)入射波進(jìn)行吸收，因此微波暗室里的吸波材料都比較厚，而TEM CELL的吸波材料都不購(gòu)厚，因此對(duì)入射波的吸收都不是很充分，因此會(huì)導(dǎo)致測(cè)試的結(jié)果不精確。

另外，TEM CELL的高度也不夠，這也是TEM CELL不能進(jìn)行定量測(cè)試的一個(gè)原因。根據(jù)天線(xiàn)輻射的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試分析，對(duì)于EGSM/DCS頻段的手機(jī)天線(xiàn)，被測(cè)手機(jī)與天線(xiàn)的距離至少大于1米;因此，我們可以看幾乎所有的2D暗室都是遠(yuǎn)大于這個(gè)距離。而TEM CELL比這個(gè)距離小一些，所以這也是TEM CELL相對(duì)于微波暗室來(lái)講測(cè)量不準(zhǔn)的一個(gè)原因。

所以，TEM CELL只能對(duì)天線(xiàn)做定性的分析而不能做定量的分析。在實(shí)驗(yàn)室可以定性分析幾種樣機(jī)的差異，比較其性能的優(yōu)劣，但不能作為準(zhǔn)確的標(biāo)準(zhǔn)值來(lái)衡量天線(xiàn)的性能，只能通過(guò)與其他的“金雞”（Golden sample ） 對(duì)比，大致來(lái)判斷手機(jī)天線(xiàn)的性能。TEM CELL一般只找最佳方值，使測(cè)試結(jié)果對(duì)手機(jī)擺放的位置比較敏感。

另外，還有一種測(cè)試工具較屏蔽箱，有的設(shè)計(jì)公司用來(lái)對(duì)手機(jī)天線(xiàn)進(jìn)行有源測(cè)試，這種方法很不可行。一方面由于測(cè)試距離太近，另一方面由于沒(méi)有足夠的吸波材料，外部干擾對(duì)天線(xiàn)的測(cè)試影響比較大，這樣導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果對(duì)位置比較敏感，稍微改變一下位置測(cè)試結(jié)果就有比較大的改變，因此這種測(cè)試方法對(duì)手機(jī)天線(xiàn)的性能沒(méi)有多少的參考意義。

3、用耦合測(cè)試板測(cè)試天線(xiàn)性能

在生產(chǎn)過(guò)程中為了保證產(chǎn)品的生產(chǎn)品質(zhì)，往往要進(jìn)行天線(xiàn)的耦合測(cè)試。要用到的測(cè)試裝置是：耦合測(cè)試夾具與綜合測(cè)試儀相連，手機(jī)固定在夾具上。在生產(chǎn)前期根據(jù)幾只樣機(jī)的測(cè)試結(jié)果，給出一個(gè)合理的耦合補(bǔ)償值，確定一個(gè)功率標(biāo)準(zhǔn)，然后對(duì)手機(jī)的最大功率進(jìn)行測(cè)試，高于這個(gè)功率標(biāo)準(zhǔn)表示產(chǎn)品符合生產(chǎn)要求，低于這個(gè)要求說(shuō)明天線(xiàn)與相關(guān)器件有問(wèn)題。通過(guò)天線(xiàn)耦合測(cè)試可以發(fā)現(xiàn)以下問(wèn)題：

（1）天線(xiàn)匹配電路虛焊和缺件等。

（2）天線(xiàn)周?chē)娮?結(jié)構(gòu)件有問(wèn)題。

（3）天線(xiàn)沒(méi)有裝配好。

（4）天線(xiàn)本身品質(zhì)有問(wèn)題。

需要指出的是天線(xiàn)耦合測(cè)試是產(chǎn)品的一致性測(cè)試，并不是對(duì)產(chǎn)品性能進(jìn)行測(cè)試。前面所提到的天線(xiàn)指標(biāo)都是針對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)進(jìn)行的測(cè)試，天線(xiàn)耦合測(cè)試是針對(duì)近場(chǎng)進(jìn)行的測(cè)試，被測(cè)手機(jī)的天線(xiàn)與耦合夾具天線(xiàn)相距非常近。近場(chǎng)是天線(xiàn)本身客觀存在的，一但整個(gè)手機(jī)的結(jié)構(gòu)和天線(xiàn)確定，近場(chǎng)也就可以確定，因此可以根據(jù)測(cè)試結(jié)果是否在一定范圍內(nèi)，判斷天線(xiàn)部分是否有問(wèn)題。天線(xiàn)耦合測(cè)試只針對(duì)天線(xiàn)的最大功率進(jìn)行測(cè)試，不進(jìn)行其他項(xiàng)目的測(cè)試，即使測(cè)試了，也沒(méi)有意義。