隨著移動(dòng)通信的飛速發(fā)展和應(yīng)用，中國(guó)的手機(jī)行業(yè)也不斷發(fā)展壯大，當(dāng)然中國(guó)的手機(jī)用戶(hù)也在迅猛增長(zhǎng)。而手機(jī)的射頻器件中，手機(jī)天線(xiàn)是無(wú)源器件，手機(jī) 天線(xiàn)作為手機(jī)上面唯一的一個(gè)“量身定做”的器件，它的特殊性和重要性必然要求其研發(fā)過(guò)程對(duì)天線(xiàn)性能的測(cè)試要求非常嚴(yán)格，這樣才能確保手機(jī)的正常使用?，F(xiàn)在 就簡(jiǎn)單的介紹一下手機(jī)天線(xiàn)的研發(fā)過(guò)程中的幾種常見(jiàn)的手機(jī)天線(xiàn)測(cè)試方法：
　　1、微波暗室（Anechonic chamber）
　　波暗室又叫無(wú)反射室、吸波暗室簡(jiǎn)稱(chēng)暗室。微波暗室由電磁屏蔽室、濾波與隔離、接地裝置、通風(fēng)波導(dǎo)、室內(nèi)配電系統(tǒng)、監(jiān)控系統(tǒng)、吸波材料等部分組成。它 是以吸波材料作為襯面的屏蔽房間，它可以吸收射到六個(gè)壁上的大部分電磁能量較好的模擬空間自由條件。暗室是天線(xiàn)設(shè)計(jì)公司都需要建造的測(cè)試設(shè)備，因?yàn)閷?duì)于手 機(jī)天線(xiàn)的測(cè)試比較精確而且比較系統(tǒng)，其測(cè)試指標(biāo)可以用來(lái)衡量一個(gè)手機(jī)天線(xiàn)的性能的好與壞。主要是天線(xiàn)公司使用，但其造價(jià)昂貴。
　　2、TEM CELL測(cè)試
　　用TEM CELL測(cè)試天線(xiàn)有源指標(biāo)，因?yàn)槲⒉ò凳液吞炀€(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)造價(jià)比較昂貴，一般要百萬(wàn)以上，一般的手機(jī)設(shè)計(jì)和研發(fā)公司沒(méi)有這種設(shè)備，而用TEM CELL（也較三角錐）來(lái)代替測(cè)試。和微波暗室的測(cè)試目的一樣，TEM CELL也是一個(gè)模擬理想空間的天線(xiàn)測(cè)試環(huán)境，金屬箱能夠提供足夠的屏蔽功能來(lái)消除外部干擾對(duì)天線(xiàn)的影響，而內(nèi)部的吸波材料也能吸收入射波，減小反射波。 TEM CELL不能對(duì)天線(xiàn)進(jìn)行無(wú)源測(cè)試，只能對(duì)有源指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。由于空間限制，TEM CELL的吸波材料比較薄，而對(duì)于劈狀吸波材料，是通過(guò)劈尖間的多次反射增加對(duì)入射波進(jìn)行吸收，因此微波暗室里的吸波材料都比較厚，而TEM CELL的吸波材料都不購(gòu)厚，因此對(duì)入射波的吸收都不是很充分，因此會(huì)導(dǎo)致測(cè)試的結(jié)果不精確。
　　另外，TEM CELL的高度也不夠，這也是TEM CELL不能進(jìn)行定量測(cè)試的一個(gè)原因。根據(jù)天線(xiàn)輻射的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試分析，對(duì)于EGSM/DCS頻段的手機(jī)天線(xiàn)，被測(cè)手機(jī)與天線(xiàn)的距離至少大于1米;因此，我們 可以看幾乎所有的2D暗室都是遠(yuǎn)大于這個(gè)距離。而TEM CELL比這個(gè)距離小一些，所以這也是TEM CELL相對(duì)于微波暗室來(lái)講測(cè)量不準(zhǔn)的一個(gè)原因。
　　所以，TEM CELL只能對(duì)天線(xiàn)做定性的分析而不能做定量的分析。在實(shí)驗(yàn)室可以定性分析幾種樣機(jī)的差異，比較其性能的優(yōu)劣，但不能作為準(zhǔn)確的標(biāo)準(zhǔn)值來(lái)衡量天線(xiàn)的性能， 只能通過(guò)與其他的“金雞”（Golden sample ） 對(duì)比，大致來(lái)判斷手機(jī)天線(xiàn)的性能。TEM CELL一般只找最佳方值，使測(cè)試結(jié)果對(duì)手機(jī)擺放的位置比較敏感。
　　另外，還有一種測(cè)試工具較屏蔽箱，有的設(shè)計(jì)公司用來(lái)對(duì)手機(jī)天線(xiàn)進(jìn)行有源測(cè)試，這種方法很不可行。一方面由于測(cè)試距離太近，另一方面由于沒(méi)有足夠的吸 波材料，外部干擾對(duì)天線(xiàn)的測(cè)試影響比較大，這樣導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果對(duì)位置比較敏感，稍微改變一下位置測(cè)試結(jié)果就有比較大的改變，因此這種測(cè)試方法對(duì)手機(jī)天線(xiàn)的性 能沒(méi)有多少的參考意義。
　　3、用耦合測(cè)試板測(cè)試天線(xiàn)性能
　　在生產(chǎn)過(guò)程中為了保證產(chǎn)品的生產(chǎn)品質(zhì)，往往要進(jìn)行天線(xiàn)的耦合測(cè)試。要用到的測(cè)試裝置是：耦合測(cè)試夾具與綜合測(cè)試儀相連，手機(jī)固定在夾具上。在生產(chǎn)前 期根據(jù)幾只樣機(jī)的測(cè)試結(jié)果，給出一個(gè)合理的耦合補(bǔ)償值，確定一個(gè)功率標(biāo)準(zhǔn)，然后對(duì)手機(jī)的最大功率進(jìn)行測(cè)試，高于這個(gè)功率標(biāo)準(zhǔn)表示產(chǎn)品符合生產(chǎn)要求，低于這 個(gè)要求說(shuō)明天線(xiàn)與相關(guān)器件有問(wèn)題。通過(guò)天線(xiàn)耦合測(cè)試可以發(fā)現(xiàn)以下問(wèn)題：
　?。?）天線(xiàn)匹配電路虛焊和缺件等。
　?。?）天線(xiàn)周?chē)?a target='_blank' class='arckwlink_none'>電子/結(jié)構(gòu)件有問(wèn)題。