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電子發(fā)燒友網(wǎng)>模擬技術(shù)>接口/時(shí)鐘/PLL>時(shí)鐘信號(hào)測(cè)試有回溝怎么辦?測(cè)試點(diǎn)位置與芯片DIE分析

時(shí)鐘信號(hào)測(cè)試有回溝怎么辦?測(cè)試點(diǎn)位置與芯片DIE分析

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關(guān)鍵性元件需要在PCB上預(yù)設(shè)測(cè)試點(diǎn)。用于焊接外貌組裝元件的焊盤不容許兼作檢測(cè)點(diǎn),必須另外預(yù)設(shè)專用的測(cè)試焊盤,以保證焊點(diǎn)檢測(cè)和生產(chǎn)調(diào)試的沒(méi)事了進(jìn)行。用于測(cè)試的焊盤盡可能的安排于PCB的統(tǒng)一側(cè)面上,即便
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。4.由于板子越來(lái)越小,測(cè)試點(diǎn)多寡的存廢屢屢被拿出來(lái)討論,現(xiàn)在已經(jīng)了一些減少測(cè)試點(diǎn)的方法出現(xiàn),如Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG等;也有其它的測(cè)試方法想要取代原本
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。測(cè)試點(diǎn)的外觀通常是圓形,因?yàn)樘结樢彩菆A形,比較好生產(chǎn),也比較容易讓相鄰探針靠得近一點(diǎn),這樣才可以增加針床的植針密度。 1.使用針床來(lái)做電路測(cè)試會(huì)有一些機(jī)構(gòu)上的先天上限制,比如說(shuō):探針的最小直徑一定
2018-11-21 11:09:56

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2012-06-07 22:09:52

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2017-01-13 22:21:03

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關(guān)于ALLEGRO自動(dòng)添加測(cè)試點(diǎn)

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2012-04-05 09:05:23

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2017-11-15 10:35:09

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2021-09-17 06:30:00

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添加測(cè)試點(diǎn)會(huì)不會(huì)影響高速信號(hào)的質(zhì)量?

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2009-04-26 15:42:567868

如何在PADS中添加表面型測(cè)試點(diǎn)

在PCB 設(shè)計(jì)中,我們經(jīng)常需要對(duì)某些信號(hào)線增加一些測(cè)試點(diǎn),以便在產(chǎn)品調(diào)試中對(duì)其信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。在PADS Layout(POWERPCB)中添
2010-06-21 14:37:178858

在PAD中添加表面型測(cè)試點(diǎn)

在PCB設(shè)計(jì)中,我們經(jīng)常需要對(duì)某些信號(hào)線增加一些測(cè)試點(diǎn),以便在產(chǎn)品調(diào)試中對(duì)其信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。在PADSLayout(PowerPCB)中添加測(cè)試點(diǎn)時(shí),默認(rèn)的是以標(biāo)準(zhǔn)過(guò)孔STANDARDVIA作為測(cè)試點(diǎn),但
2010-07-08 10:55:105490

電子產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)優(yōu)化綜述

電子產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)優(yōu)化綜
2011-01-10 11:16:5653

測(cè)試中遇到的25MHz時(shí)鐘信號(hào)問(wèn)題匯總

本文結(jié)合實(shí)際測(cè)試中遇到的時(shí)鐘信號(hào)問(wèn)題介紹了高速信號(hào)的概念,進(jìn)一步闡述了高速信號(hào)與高頻信號(hào)的區(qū)別,分析了25MHz時(shí)鐘信號(hào)沿上的等細(xì)節(jié)的測(cè)試準(zhǔn)確度問(wèn)題,并給出了高速信號(hào)測(cè)試時(shí)合理選擇示波器的一些建議。
2017-09-19 07:41:0024339

基于測(cè)試點(diǎn)覆蓋和離散粒子群優(yōu)化算法

測(cè)試用例優(yōu)先排序技術(shù)能夠有效提高回歸測(cè)試效率,是軟件測(cè)試的熱點(diǎn)研究課題之一。針對(duì)基于需求的測(cè)試用例優(yōu)先排序方法可操作性差的問(wèn)題,提出了一種改進(jìn)的基于測(cè)試點(diǎn)覆蓋和離散粒子群優(yōu)化算法的求解方法
2017-12-07 11:04:310

如何正確的對(duì)DDR3總線進(jìn)行信號(hào)完整性測(cè)試

針對(duì)嵌入式系統(tǒng),建議在PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中,做可測(cè)性設(shè)計(jì),即規(guī)劃好準(zhǔn)備測(cè)試那些信號(hào),然后留出測(cè)試點(diǎn)(包括測(cè)試點(diǎn)附近的接地點(diǎn)),測(cè)試點(diǎn)要盡量靠近DRAM IC管腳處,因?yàn)镴edec規(guī)范的位置是BGA焊球
2019-06-24 15:04:1611349

利用PADS可測(cè)試性設(shè)計(jì)優(yōu)化PCB測(cè)試點(diǎn)和DFT審核

PADS 可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 審核可以縮短上市時(shí)間。了解如何盡早在設(shè)計(jì)流程中利用 PCB 測(cè)試點(diǎn)和 DFT 審核優(yōu)化設(shè)計(jì)。
2019-05-14 06:26:004768

設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的及設(shè)計(jì)要求

基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性,比如說(shuō)想檢查一顆電路板上的電阻有沒(méi)有問(wèn)題,最簡(jiǎn)單的方法就是拿萬(wàn)用電表量測(cè)其兩頭就可以知道了。
2019-05-23 14:26:047629

pcb上測(cè)試點(diǎn)的意義是什么

其實(shí)經(jīng)過(guò)波峰焊的測(cè)試點(diǎn)也會(huì)有探針接觸不良的問(wèn)題。 后來(lái)SMT盛行之后,測(cè)試誤判的情形就得到了很大的改善
2020-01-03 17:37:073563

如何在設(shè)計(jì)過(guò)程的早期使用pcb測(cè)試點(diǎn)來(lái)優(yōu)化設(shè)計(jì)

墊設(shè)計(jì)測(cè)試(DFT)可以改善你的上市時(shí)間。了解如何使用PCB測(cè)試點(diǎn)優(yōu)化設(shè)計(jì)在設(shè)計(jì)流程的早期。
2019-10-14 07:00:003728

PCB設(shè)計(jì)中如何創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)

測(cè)試點(diǎn)的小型金屬觸點(diǎn)。這里是什么是PCB測(cè)試點(diǎn)以及您作為設(shè)計(jì)師應(yīng)該如何使用它們的簡(jiǎn)要概述。 PCB測(cè)試點(diǎn)的目的 為了驗(yàn)證組件組裝過(guò)程的完整性,一個(gè)完整的印刷電路板將經(jīng)歷一個(gè)自動(dòng)測(cè)試周期。這樣做的目的是查找沒(méi)有通過(guò)良好焊
2020-12-15 16:36:0811217

如何找準(zhǔn)PCB設(shè)計(jì)中的測(cè)試點(diǎn)位置

作者:周偉 一博科技高速先生團(tuán)隊(duì)成員 測(cè)試點(diǎn)對(duì)于測(cè)試人員來(lái)說(shuō)非常重要,也是非常熟悉,測(cè)試的準(zhǔn)確性和測(cè)試點(diǎn)位置密切相關(guān),而不對(duì)的測(cè)試點(diǎn)將會(huì)帶來(lái)不對(duì)的測(cè)試結(jié)果,從而影響對(duì)信號(hào)質(zhì)量的判斷。那是不是所有
2021-01-14 10:54:028152

電路板的設(shè)計(jì)為什么要設(shè)置測(cè)試點(diǎn)

來(lái)源:羅姆半導(dǎo)體社區(qū) 對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了,可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō),測(cè)試點(diǎn)是什么? 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有
2023-02-01 16:48:371160

時(shí)鐘?什么原因會(huì)導(dǎo)致信號(hào)波形邊沿的

什么原因會(huì)導(dǎo)致信號(hào)波形邊沿的? 信號(hào)傳輸過(guò)程中遇到阻抗不連續(xù)會(huì)產(chǎn)生反射,反射信號(hào)疊加在工作電平的高電平或低電平容易產(chǎn)生過(guò)沖或振鈴,疊加在波形的邊沿則容易產(chǎn)生或臺(tái)階。時(shí)鐘信號(hào)有誤
2020-12-18 15:14:4025334

技術(shù)分析時(shí)鐘還有救嗎

信號(hào),即波形邊緣的非單調(diào)性,是時(shí)鐘的大忌,尤其是出現(xiàn)在信號(hào)的門限電平范圍內(nèi)時(shí),由于容易導(dǎo)致誤觸發(fā),更是兇險(xiǎn)無(wú)比。
2021-03-17 23:22:3840

探究PCB電路板上測(cè)試點(diǎn)多重要

對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了,可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō),測(cè)試點(diǎn)是什么? 可能多還有點(diǎn)一頭霧水了。我記得我第一次進(jìn)PCBA加工廠工作當(dāng)制程工程師的時(shí)候
2021-03-27 09:38:413993

電路板設(shè)計(jì)為什么要加測(cè)試點(diǎn)

接下來(lái)為大家介紹電路板設(shè)計(jì)為什么要加測(cè)試點(diǎn)
2021-05-01 16:27:006541

電路板上怎么知道是測(cè)試點(diǎn)

為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性,我們?cè)陔娐钒迳闲枰?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試點(diǎn),如果想檢查一個(gè)電路板上的電阻正不正常,最基礎(chǔ)的方法就是拿萬(wàn)用電表量測(cè)其兩頭,那么電路板上怎么知道是測(cè)試點(diǎn)呢? 在故障維修
2021-08-22 15:08:0111768

再好的電路板,哪能沒(méi)有測(cè)試點(diǎn)

基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性。
2022-02-08 16:09:3113

電路板設(shè)計(jì)為什么要設(shè)置測(cè)試點(diǎn)?

對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了,可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō),測(cè)試點(diǎn)是什么?
2022-02-10 09:32:5925

測(cè)試點(diǎn)對(duì)高速信號(hào)質(zhì)量的影響

至于會(huì)不會(huì)影響信號(hào)質(zhì)量就要看加測(cè)試點(diǎn)的方式和信號(hào)到底多快而定。基本上外加的測(cè)試點(diǎn)(不用在線既有的穿孔(via or DIP pin)當(dāng)測(cè)試點(diǎn))能加在在線或是從在線拉一小段線出來(lái)。前者相當(dāng)于是加上一個(gè)很小的電容在在線,后者則是多了一段分支。
2022-09-16 08:55:353679

為什么要在PCB中使用測(cè)試點(diǎn)?

測(cè)試點(diǎn)被定義為PCB中的端子,它允許用戶將測(cè)試信號(hào)傳輸?shù)絇CB以測(cè)試其功能或監(jiān)控PCB中的參數(shù)以驗(yàn)證其完整性。簡(jiǎn)單地說(shuō),這些測(cè)試點(diǎn)可以是從銅墊到螺釘?shù)娜魏螙|西,這將為用戶提供一種插入探針并測(cè)試電路板
2023-05-11 18:10:114539

電路板設(shè)計(jì)為什么要設(shè)置測(cè)試點(diǎn)?

對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了,可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō),測(cè)試點(diǎn)是什么?
2023-06-06 11:01:192868

一個(gè)25MHZ時(shí)鐘信號(hào)的單調(diào)性問(wèn)題測(cè)試分析

本文結(jié)合實(shí)際測(cè)試中遇到的時(shí)鐘信號(hào)問(wèn)題介紹了高速信號(hào)的概念,進(jìn)一步闡述了高速信號(hào)與高頻信號(hào)的區(qū)別,分析了25MHz時(shí)鐘信號(hào)沿上的等細(xì)節(jié)的測(cè)試準(zhǔn)確度問(wèn)題,并給出了高速信號(hào)測(cè)試時(shí)合理選擇示波器的一些建議。
2023-06-13 11:02:523671

電路板上為什么要設(shè)計(jì)測(cè)試點(diǎn)?

對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(testpoint)是再自然不過(guò)的事了。多少人沒(méi)聽(tīng)說(shuō)測(cè)試點(diǎn)?知道測(cè)試點(diǎn)但不了解測(cè)試點(diǎn)用途的人又有多少呢?基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件
2024-03-09 08:10:042042

為什么要進(jìn)行芯片測(cè)試?芯片測(cè)試在什么環(huán)節(jié)進(jìn)行?

WAT需要標(biāo)注出測(cè)試未通過(guò)的裸片(die),只需要封裝測(cè)試通過(guò)的die。 FT是測(cè)試已經(jīng)封裝好的芯片(chip),不合格品檢出。WAT和FT很多項(xiàng)目是重復(fù)的,F(xiàn)T多一些功能性測(cè)試。WAT需要探針接觸測(cè)試點(diǎn)(pad)
2024-04-17 11:37:202054

PCB引腳通孔與測(cè)試點(diǎn)間距評(píng)估

在PCB設(shè)計(jì)中,測(cè)試點(diǎn)和引腳通孔之間的間隙是一個(gè)重要的參數(shù)。根據(jù)您提供的信息,以下是測(cè)試點(diǎn)和引腳通孔之間間隙的相關(guān)內(nèi)容。
2024-04-30 10:59:071753

接口測(cè)試測(cè)試點(diǎn)哪些類型

接口測(cè)試是軟件測(cè)試的一個(gè)重要組成部分,主要用于驗(yàn)證系統(tǒng)各模塊之間的接口是否按照預(yù)期工作。接口測(cè)試測(cè)試點(diǎn)類型繁多,以下是一些常見(jiàn)的測(cè)試點(diǎn)類型,以及對(duì)它們的詳細(xì)分析。 功能性測(cè)試 功能性測(cè)試是接口測(cè)試
2024-05-30 15:04:323359

不容忽視的PCB測(cè)試點(diǎn),關(guān)鍵時(shí)刻可以避免批量事故哦!

it Test Point in English. NOKIA手機(jī)的測(cè)試點(diǎn)什么用? 為什么要留這兩排測(cè)試點(diǎn)? 我雖然不知道NOKIA手機(jī)這些測(cè)試點(diǎn)的具體作用,但我大概可以猜測(cè)出來(lái): 供電:包括至少一個(gè)Vbat
2024-10-08 06:58:31806

PCB上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的基本原則

線路板PCB測(cè)試點(diǎn)設(shè)置的原則是確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和高效性,同時(shí)避免對(duì)PCB板造成不必要的損害。以下是一些關(guān)鍵的設(shè)置原則:
2024-10-22 10:57:412826

測(cè)試點(diǎn)的直徑參數(shù)

這個(gè)直徑是測(cè)試點(diǎn)的最小尺寸,用于確保測(cè)試探針可以準(zhǔn)確地與測(cè)試點(diǎn)接觸。如果測(cè)試點(diǎn)直徑小于這個(gè)值,可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試探針無(wú)法正確接觸到測(cè)試點(diǎn),從而影響測(cè)試的準(zhǔn)確性。
2024-10-28 10:31:071966

測(cè)試點(diǎn)之間的間距范圍

測(cè)試點(diǎn)之間的間距決定了使用何種樣式的測(cè)試探針。以下是幾種常見(jiàn)的測(cè)試探針樣式和其適用的間距范圍。
2024-10-29 09:50:152150

測(cè)試點(diǎn)到電路板邊緣間隙

測(cè)試點(diǎn)和邊緣之間所需的最小間隙D:板或任何大孔板為40mil。但是,建議間距為125mil。
2024-10-30 10:33:47934

PCB板設(shè)計(jì)測(cè)試點(diǎn)的基本原則

線路板PCB測(cè)試點(diǎn)設(shè)置的原則是確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和高效性,同時(shí)避免對(duì)PCB板造成不必要的損害。以下是一些關(guān)鍵的設(shè)置原則: 1.測(cè)試點(diǎn)的分布?: 測(cè)試點(diǎn)應(yīng)均勻分布在PCB板上,避免集中在某個(gè)小區(qū)域內(nèi),以
2025-02-08 11:35:291990

測(cè)試點(diǎn)氧化或污濁時(shí)的應(yīng)急技巧:點(diǎn)對(duì)點(diǎn)對(duì)地電阻測(cè)試如何獲得真實(shí)數(shù)據(jù)

簡(jiǎn)單有效的應(yīng)急處理與操作調(diào)整,即可消除干擾,獲取可靠數(shù)據(jù)。? 一、現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)急清潔:快速去除表面干擾層? 針對(duì)氧化測(cè)試點(diǎn),可采用物理打磨法處理。若現(xiàn)場(chǎng)砂紙、鋼絲刷等工具,用其輕輕打磨測(cè)試點(diǎn)表面,直至露出金屬本色
2025-10-30 09:33:36128

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