Ω差分傳輸線。 ? ? ? 2.傳輸?shù)臑槲覀冎澳M的DDR3信號(hào),由三次諧波構(gòu)成。 ? ? ? 3.測(cè)試點(diǎn)位置離接收端距離為500mil。 ? ? ? 好的,現(xiàn)在開(kāi)始讓我們分析,首先,如同大家在之前文章中看到的,我們接收端信號(hào)與測(cè)試點(diǎn)信號(hào)的區(qū)別是這樣的
2021-04-19 11:58:15
5147 
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
本帖最后由 劍俠蜀山 于 2019-10-16 22:31 編輯
1 為什么中間測(cè)試點(diǎn)波形有回溝或臺(tái)階問(wèn)題描述:測(cè)試時(shí),通道中間測(cè)試到的波形有回溝,而終端測(cè)試的波形卻沒(méi)問(wèn)題,如圖1。原因:信號(hào)
2019-10-16 22:29:23
的沉痛心情找到高速先生時(shí),高速先生絲毫不敢大意,一番分析確認(rèn)之后,給出的答復(fù)卻讓客戶喜出望外:測(cè)試點(diǎn)的時(shí)鐘回溝是真實(shí)存在的,但是芯片得到的時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量卻沒(méi)有問(wèn)題,簡(jiǎn)而言之,單板的時(shí)鐘信號(hào)沒(méi)問(wèn)題,可以
2020-11-25 19:42:36
門電路中斷反饋回路了;中斷內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)以便從外部施加時(shí)鐘信號(hào)。(3)有源和無(wú)源測(cè)試點(diǎn)。它主要用在數(shù)字總線結(jié)構(gòu)中,在測(cè)試期間,設(shè)備作為一個(gè)總線器件連接到總線本身。這些測(cè)試點(diǎn)對(duì)測(cè)試過(guò)程中既有有源影響也有無(wú)源
2018-01-11 11:16:01
飛針測(cè)試時(shí)要看板的測(cè)試點(diǎn)多少怎么看?
2015-07-01 17:31:27
在PCB設(shè)計(jì)中,我們經(jīng)常需要對(duì)某些信號(hào)線增加一些測(cè)試點(diǎn),以便在產(chǎn)品調(diào)試中對(duì)其信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。在PADSLayout(PowerPCB)中添加測(cè)試點(diǎn)時(shí),默認(rèn)的是以標(biāo)準(zhǔn)過(guò)孔STANDARDVIA作為測(cè)試點(diǎn)
2019-06-10 09:16:20
MIPI DSI測(cè)試的時(shí)候?yàn)槭裁床煌?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試點(diǎn)測(cè)試波形不一樣,為什么更靠近RX端接收波形更準(zhǔn)確?在傳輸線中間打線測(cè)信號(hào)上升沿會(huì)有回勾呢,探頭使用的有源探頭。
2019-06-17 17:56:30
PCB測(cè)試點(diǎn)制作的一般要求 關(guān)鍵性元件需要在PCB上預(yù)設(shè)測(cè)試點(diǎn)。用于焊接外貌組裝元件的焊盤不容許兼作檢測(cè)點(diǎn),必須另外預(yù)設(shè)專用的測(cè)試焊盤,以保證焊點(diǎn)檢測(cè)和生產(chǎn)調(diào)試的沒(méi)事了進(jìn)行。用于測(cè)試的焊盤盡可能
2013-02-27 09:15:12
關(guān)鍵性元件需要在PCB上預(yù)設(shè)測(cè)試點(diǎn)。用于焊接外貌組裝元件的焊盤不容許兼作檢測(cè)點(diǎn),必須另外預(yù)設(shè)專用的測(cè)試焊盤,以保證焊點(diǎn)檢測(cè)和生產(chǎn)調(diào)試的沒(méi)事了進(jìn)行。用于測(cè)試的焊盤盡可能的安排于PCB的統(tǒng)一側(cè)面上,即便
2011-10-24 11:46:27
。4.由于板子越來(lái)越小,測(cè)試點(diǎn)多寡的存廢屢屢被拿出來(lái)討論,現(xiàn)在已經(jīng)有了一些減少測(cè)試點(diǎn)的方法出現(xiàn),如Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG等;也有其它的測(cè)試方法想要取代原本
2016-08-24 14:46:05
。測(cè)試點(diǎn)的外觀通常是圓形,因?yàn)樘结樢彩菆A形,比較好生產(chǎn),也比較容易讓相鄰探針靠得近一點(diǎn),這樣才可以增加針床的植針密度。 1.使用針床來(lái)做電路測(cè)試會(huì)有一些機(jī)構(gòu)上的先天上限制,比如說(shuō):探針的最小直徑有一定
2018-11-21 11:09:56
,另外因?yàn)榱慵^高,通常還要在測(cè)試治具針床座上開(kāi)孔避開(kāi),也間接造成無(wú)法植針。電路板上越來(lái)越難容納的下所有零件的測(cè)試點(diǎn)。 由于板子越來(lái)越小,測(cè)試點(diǎn)多寡的存廢屢屢被拿出來(lái)討論,現(xiàn)在已經(jīng)有了一些減少測(cè)試點(diǎn)
2018-09-17 17:44:02
請(qǐng)問(wèn)如何在ad09中自動(dòng)或批量給NET添加1mm的測(cè)試點(diǎn)啊,望高手賜教?。?!
2012-03-21 14:30:09
`pads分割后測(cè)試點(diǎn)怎么和覆銅有距離呢?我的板分割后測(cè)試點(diǎn)怎么就和覆銅有間距呢?怎么樣才能讓測(cè)試點(diǎn)和覆銅連一起呢?`
2012-06-07 22:09:52
`pads分割后測(cè)試點(diǎn)怎么和覆銅有距離呢?我的板分割后測(cè)試點(diǎn)怎么就和覆銅有間距呢?怎么樣才能讓測(cè)試點(diǎn)和覆銅連一起呢?`
2012-06-07 22:14:12
pcb的測(cè)試點(diǎn)的設(shè)計(jì)規(guī)范,僅供大家參考
2012-05-16 11:03:21
越來(lái)越難容納的下所有零件的測(cè)試點(diǎn)?! ?.由于板子越來(lái)越小,測(cè)試點(diǎn)多寡的存廢屢屢被拿出來(lái)討論,現(xiàn)在已經(jīng)有了一些減少測(cè)試點(diǎn)的方法出現(xiàn),如Net test、Test Jet、Boundary Scan
2017-01-13 22:21:03
,上面沒(méi)有防焊(mask),可以讓測(cè)試用的探針接觸到這些小點(diǎn),而不用直接接觸到那些被量測(cè)的電子零件,這樣就無(wú)需擔(dān)心零件被破壞了。了解了測(cè)試點(diǎn)的重要性,那么制作測(cè)試點(diǎn)的時(shí)候,有哪些工藝要求呢?金百澤跟大家
2017-02-06 17:33:20
請(qǐng)教一下哪位高手知道如何給PCB自動(dòng)添加測(cè)試點(diǎn),菜單欄目錄下是有自動(dòng)添加測(cè)試點(diǎn)的,可是我執(zhí)行了命令就是顯示不出來(lái)測(cè)試點(diǎn),還望各位指點(diǎn)一下,謝了
2012-04-05 09:05:23
關(guān)鍵電子元器件的溫升測(cè)試:測(cè)試點(diǎn)選擇和最大溫升限制
2019-10-24 10:07:17
~12.75GHz全頻段的寬帶定向耦合器。從上述分析我們可以得出以下結(jié)論:發(fā)射系統(tǒng)自帶的監(jiān)測(cè)端口不能作為雜散測(cè)量的依據(jù),要準(zhǔn)確測(cè)量—個(gè)發(fā)射系統(tǒng)的雜散信號(hào),唯一可取的測(cè)試點(diǎn)就是發(fā)射天饋系統(tǒng)的主饋線
2017-11-15 10:35:09
。4. 由于板子越來(lái)越小,測(cè)試點(diǎn)多寡的存廢屢屢被拿出來(lái)討論,現(xiàn)在已經(jīng)有了一些減少測(cè)試點(diǎn)的方法出現(xiàn),如 Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG.。 等;也有其它的測(cè)試方法
2021-09-17 06:30:00
如何在PADS中添加表面型測(cè)試點(diǎn),希望對(duì)大家有點(diǎn)幫助。
2011-04-17 10:35:43
文章主要講解示波器測(cè)試點(diǎn)的選擇。例如,測(cè)試點(diǎn)為PWM控制芯片的輸出引腳時(shí),可用示波器同時(shí)測(cè)量驅(qū)動(dòng)脈沖的幅度和占空比這兩個(gè)重要參數(shù)。 測(cè)試點(diǎn)的選擇非常重要,測(cè)試點(diǎn)選擇合理,既可以保證調(diào)試安全,又可以反映出開(kāi)關(guān)電源的工作狀態(tài),能夠簡(jiǎn)化調(diào)試過(guò)程。下載資料:
2016-01-27 15:34:00
怎么在PCB中添加測(cè)試點(diǎn)?
2013-05-21 18:26:08
添加測(cè)試點(diǎn)會(huì)不會(huì)影響高速信號(hào)的質(zhì)量?
2009-09-06 08:40:20
問(wèn):添加測(cè)試點(diǎn)會(huì)不會(huì)影響高速信號(hào)的質(zhì)量?答:至于會(huì)不會(huì)影響信號(hào)質(zhì)量就要看加測(cè)試點(diǎn)的方式和信號(hào)到底多快而定。基本上外加的測(cè)試點(diǎn)(不用線上既有的穿孔(via or DIP pin)當(dāng)測(cè)試點(diǎn))可能加在
2019-08-30 00:45:16
由于板子越來(lái)越小,測(cè)試點(diǎn)多寡的存廢屢屢被拿出來(lái)討論,現(xiàn)在已經(jīng)有了一些減少測(cè)試點(diǎn)的方法出現(xiàn),如 Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG.。等;也有其它的測(cè)試方法想要
2019-11-11 07:00:00
植針。電路板上越來(lái)越難容納的下所有零件的測(cè)試點(diǎn)?! ?. 由于板子越來(lái)越小,測(cè)試點(diǎn)多寡的存廢屢屢被拿出來(lái)討論,現(xiàn)在已經(jīng)有了一些減少測(cè)試點(diǎn)的方法出現(xiàn),如 Net test、Test Jet
2018-09-18 15:26:17
。電路板上越來(lái)越難容納的下所有零件的測(cè)試點(diǎn)?! ?. 由于板子越來(lái)越小,測(cè)試點(diǎn)多寡的存廢屢屢被拿出來(lái)討論,現(xiàn)在已經(jīng)有了一些減少測(cè)試點(diǎn)的方法出現(xiàn),如 Net test、Test Jet、Boundary
2018-11-28 11:42:31
電路板設(shè)計(jì):測(cè)試點(diǎn)的重要性
對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是再自然不過(guò)的事了。
有多少人沒(méi)聽(tīng)說(shuō)測(cè)試點(diǎn)?知道測(cè)試點(diǎn)但不了解測(cè)試點(diǎn)用途的人又有多少呢?
基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)
2024-02-27 08:57:17
自編主板關(guān)鍵測(cè)試點(diǎn)供大家參考
2011-02-23 00:19:30
時(shí)鐘信號(hào)回溝與測(cè)試點(diǎn)位置有關(guān)嗎?
2020-12-15 06:07:11
在AD中有幾種方法可以放置測(cè)試點(diǎn)的???
2019-03-15 06:29:35
有人能以AD9為例,能較詳細(xì)的說(shuō)一步驟如何放置測(cè)試點(diǎn)嗎??
2019-04-11 03:06:59
那里下載370 CPU插座測(cè)試點(diǎn)呀
2009-05-22 10:58:45
摩托羅拉手機(jī)測(cè)試點(diǎn)圖集,非常全面,幾乎包含所有motorola的手機(jī)機(jī)型,對(duì)你的維修有很大的幫助。
2008-10-16 19:11:34
153 1.PCB上可設(shè)置若干個(gè)測(cè)試點(diǎn),這些測(cè)試點(diǎn)可以是孔或焊盤。  
2006-04-16 20:20:55
4309 摩托羅拉手機(jī)V80測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:17:37
1116
摩托羅拉手機(jī)A630維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:29:53
908
摩托羅拉手機(jī)L6維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:32:58
852
摩托羅拉手機(jī)V3維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:34:13
987
摩托羅拉手機(jī)E770維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 19:36:39
1416
摩托羅拉手機(jī)C65X維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 20:21:17
1153
摩托羅拉手機(jī)C65X維修測(cè)試點(diǎn)圖
2008-10-16 20:23:20
1148 AGP插槽及測(cè)試點(diǎn)
一、AGP簡(jiǎn)介
AGP(Accelerated Graphics Port)即加速圖形端口。它用于連接顯示設(shè)備的接口,是為了提高視頻帶寬而設(shè)計(jì)的一種接口規(guī)范。
2009-04-26 08:49:56
3505 
478 CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖就是478CPU和478 插座的實(shí)物圖
2009-04-26 15:25:32
948 
939 CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖
2009-04-26 15:27:01
793 
775 CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖
2009-04-26 15:28:53
3321 
478CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖就是478CPU和478 插座的實(shí)物圖
2009-04-26 15:30:15
984 
462 CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖就是462CPU和462插座的實(shí)物圖
2009-04-26 15:31:16
1055 
370 CPU插座測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖就是370CPU和370插座的實(shí)物圖
2009-04-26 15:33:48
1134 
ATX電源插座測(cè)試點(diǎn)
一、測(cè)試點(diǎn)
上圖為2
2009-04-26 15:34:48
6218 
DDR內(nèi)存插槽及測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖就是DDR內(nèi)存插槽實(shí)物圖
2009-04-26 15:36:51
6424 
SD內(nèi)存插槽及測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖中,黑色插槽就是SD內(nèi)存插槽
2009-04-26 15:37:58
2056 
ISA插槽及測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖上圖中,黑色插槽就是ISA槽
2009-04-26 15:39:00
2411 
pci Express插槽及測(cè)試點(diǎn):PCI-E實(shí)物圖在PCI插槽及測(cè)試點(diǎn)
2009-04-26 15:40:09
1756 
PCI插槽及測(cè)試點(diǎn)
一、實(shí)物圖
上圖為主板上的PCI插槽實(shí)物圖,左邊
2009-04-26 15:42:56
7868 
在PCB 設(shè)計(jì)中,我們經(jīng)常需要對(duì)某些信號(hào)線增加一些測(cè)試點(diǎn),以便在產(chǎn)品調(diào)試中對(duì)其信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。在PADS Layout(POWERPCB)中添
2010-06-21 14:37:17
8858 
在PCB設(shè)計(jì)中,我們經(jīng)常需要對(duì)某些信號(hào)線增加一些測(cè)試點(diǎn),以便在產(chǎn)品調(diào)試中對(duì)其信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。在PADSLayout(PowerPCB)中添加測(cè)試點(diǎn)時(shí),默認(rèn)的是以標(biāo)準(zhǔn)過(guò)孔STANDARDVIA作為測(cè)試點(diǎn),但
2010-07-08 10:55:10
5490 
電子產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)優(yōu)化綜
2011-01-10 11:16:56
53 本文結(jié)合實(shí)際測(cè)試中遇到的時(shí)鐘信號(hào)回溝問(wèn)題介紹了高速信號(hào)的概念,進(jìn)一步闡述了高速信號(hào)與高頻信號(hào)的區(qū)別,分析了25MHz時(shí)鐘信號(hào)沿上的回溝等細(xì)節(jié)的測(cè)試準(zhǔn)確度問(wèn)題,并給出了高速信號(hào)測(cè)試時(shí)合理選擇示波器的一些建議。
2017-09-19 07:41:00
24339 
測(cè)試用例優(yōu)先排序技術(shù)能夠有效提高回歸測(cè)試效率,是軟件測(cè)試的熱點(diǎn)研究課題之一。針對(duì)基于需求的測(cè)試用例優(yōu)先排序方法可操作性差的問(wèn)題,提出了一種改進(jìn)的基于測(cè)試點(diǎn)覆蓋和離散粒子群優(yōu)化算法的求解方法
2017-12-07 11:04:31
0 針對(duì)嵌入式系統(tǒng),建議在PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中,做可測(cè)性設(shè)計(jì),即規(guī)劃好準(zhǔn)備測(cè)試那些信號(hào),然后留出測(cè)試點(diǎn)(包括測(cè)試點(diǎn)附近的接地點(diǎn)),測(cè)試點(diǎn)要盡量靠近DRAM IC管腳處,因?yàn)镴edec規(guī)范的位置是BGA焊球
2019-06-24 15:04:16
11349 
PADS 可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 審核可以縮短上市時(shí)間。了解如何盡早在設(shè)計(jì)流程中利用 PCB 測(cè)試點(diǎn)和 DFT 審核優(yōu)化設(shè)計(jì)。
2019-05-14 06:26:00
4768 
基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性,比如說(shuō)想檢查一顆電路板上的電阻有沒(méi)有問(wèn)題,最簡(jiǎn)單的方法就是拿萬(wàn)用電表量測(cè)其兩頭就可以知道了。
2019-05-23 14:26:04
7629 其實(shí)經(jīng)過(guò)波峰焊的測(cè)試點(diǎn)也會(huì)有探針接觸不良的問(wèn)題。 后來(lái)SMT盛行之后,測(cè)試誤判的情形就得到了很大的改善
2020-01-03 17:37:07
3563 墊設(shè)計(jì)測(cè)試(DFT)可以改善你的上市時(shí)間。了解如何使用PCB測(cè)試點(diǎn)優(yōu)化設(shè)計(jì)在設(shè)計(jì)流程的早期。
2019-10-14 07:00:00
3728 測(cè)試點(diǎn)的小型金屬觸點(diǎn)。這里是什么是PCB測(cè)試點(diǎn)以及您作為設(shè)計(jì)師應(yīng)該如何使用它們的簡(jiǎn)要概述。 PCB測(cè)試點(diǎn)的目的 為了驗(yàn)證組件組裝過(guò)程的完整性,一個(gè)完整的印刷電路板將經(jīng)歷一個(gè)自動(dòng)測(cè)試周期。這樣做的目的是查找沒(méi)有通過(guò)良好焊
2020-12-15 16:36:08
11217 作者:周偉 一博科技高速先生團(tuán)隊(duì)成員 測(cè)試點(diǎn)對(duì)于測(cè)試人員來(lái)說(shuō)非常重要,也是非常熟悉,測(cè)試的準(zhǔn)確性和測(cè)試點(diǎn)的位置密切相關(guān),而不對(duì)的測(cè)試點(diǎn)將會(huì)帶來(lái)不對(duì)的測(cè)試結(jié)果,從而影響對(duì)信號(hào)質(zhì)量的判斷。那是不是所有
2021-01-14 10:54:02
8152 
來(lái)源:羅姆半導(dǎo)體社區(qū) 對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了,可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō),測(cè)試點(diǎn)是什么? 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有
2023-02-01 16:48:37
1160 什么原因會(huì)導(dǎo)致信號(hào)波形邊沿的回溝? 信號(hào)傳輸過(guò)程中遇到阻抗不連續(xù)會(huì)產(chǎn)生反射,反射信號(hào)疊加在工作電平的高電平或低電平容易產(chǎn)生過(guò)沖或振鈴,疊加在波形的邊沿則容易產(chǎn)生回溝或臺(tái)階。時(shí)鐘信號(hào)的回溝有誤
2020-12-18 15:14:40
25334 信號(hào)回溝,即波形邊緣的非單調(diào)性,是時(shí)鐘的大忌,尤其是出現(xiàn)在信號(hào)的門限電平范圍內(nèi)時(shí),由于容易導(dǎo)致誤觸發(fā),更是兇險(xiǎn)無(wú)比。
2021-03-17 23:22:38
40 對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了,可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō),測(cè)試點(diǎn)是什么? 可能多還有點(diǎn)一頭霧水了。我記得我第一次進(jìn)PCBA加工廠工作當(dāng)制程工程師的時(shí)候
2021-03-27 09:38:41
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接下來(lái)為大家介紹電路板設(shè)計(jì)為什么要加測(cè)試點(diǎn)?
2021-05-01 16:27:00
6541 為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性,我們?cè)陔娐钒迳闲枰?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試點(diǎn),如果想檢查一個(gè)電路板上的電阻正不正常,最基礎(chǔ)的方法就是拿萬(wàn)用電表量測(cè)其兩頭,那么電路板上怎么知道是測(cè)試點(diǎn)呢? 在故障維修
2021-08-22 15:08:01
11768 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性。
2022-02-08 16:09:31
13 對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了,可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō),測(cè)試點(diǎn)是什么?
2022-02-10 09:32:59
25 至于會(huì)不會(huì)影響信號(hào)質(zhì)量就要看加測(cè)試點(diǎn)的方式和信號(hào)到底多快而定。基本上外加的測(cè)試點(diǎn)(不用在線既有的穿孔(via or DIP pin)當(dāng)測(cè)試點(diǎn))能加在在線或是從在線拉一小段線出來(lái)。前者相當(dāng)于是加上一個(gè)很小的電容在在線,后者則是多了一段分支。
2022-09-16 08:55:35
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測(cè)試點(diǎn)被定義為PCB中的端子,它允許用戶將測(cè)試信號(hào)傳輸?shù)絇CB以測(cè)試其功能或監(jiān)控PCB中的參數(shù)以驗(yàn)證其完整性。簡(jiǎn)單地說(shuō),這些測(cè)試點(diǎn)可以是從銅墊到螺釘?shù)娜魏螙|西,這將為用戶提供一種插入探針并測(cè)試電路板
2023-05-11 18:10:11
4539 對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了,可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō),測(cè)試點(diǎn)是什么?
2023-06-06 11:01:19
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本文結(jié)合實(shí)際測(cè)試中遇到的時(shí)鐘信號(hào)回溝問(wèn)題介紹了高速信號(hào)的概念,進(jìn)一步闡述了高速信號(hào)與高頻信號(hào)的區(qū)別,分析了25MHz時(shí)鐘信號(hào)沿上的回溝等細(xì)節(jié)的測(cè)試準(zhǔn)確度問(wèn)題,并給出了高速信號(hào)測(cè)試時(shí)合理選擇示波器的一些建議。
2023-06-13 11:02:52
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對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō),在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(testpoint)是再自然不過(guò)的事了。有多少人沒(méi)聽(tīng)說(shuō)測(cè)試點(diǎn)?知道測(cè)試點(diǎn)但不了解測(cè)試點(diǎn)用途的人又有多少呢?基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件
2024-03-09 08:10:04
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WAT需要標(biāo)注出測(cè)試未通過(guò)的裸片(die),只需要封裝測(cè)試通過(guò)的die。
FT是測(cè)試已經(jīng)封裝好的芯片(chip),不合格品檢出。WAT和FT很多項(xiàng)目是重復(fù)的,F(xiàn)T多一些功能性測(cè)試。WAT需要探針接觸測(cè)試點(diǎn)(pad)
2024-04-17 11:37:20
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在PCB設(shè)計(jì)中,測(cè)試點(diǎn)和引腳通孔之間的間隙是一個(gè)重要的參數(shù)。根據(jù)您提供的信息,以下是測(cè)試點(diǎn)和引腳通孔之間間隙的相關(guān)內(nèi)容。
2024-04-30 10:59:07
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接口測(cè)試是軟件測(cè)試的一個(gè)重要組成部分,主要用于驗(yàn)證系統(tǒng)各模塊之間的接口是否按照預(yù)期工作。接口測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)類型繁多,以下是一些常見(jiàn)的測(cè)試點(diǎn)類型,以及對(duì)它們的詳細(xì)分析。 功能性測(cè)試 功能性測(cè)試是接口測(cè)試
2024-05-30 15:04:32
3359 it Test Point in English. NOKIA手機(jī)的測(cè)試點(diǎn)有什么用? 為什么要留這兩排測(cè)試點(diǎn)? 我雖然不知道NOKIA手機(jī)這些測(cè)試點(diǎn)的具體作用,但我大概可以猜測(cè)出來(lái): 供電:包括至少一個(gè)Vbat
2024-10-08 06:58:31
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線路板PCB測(cè)試點(diǎn)設(shè)置的原則是確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和高效性,同時(shí)避免對(duì)PCB板造成不必要的損害。以下是一些關(guān)鍵的設(shè)置原則:
2024-10-22 10:57:41
2826 這個(gè)直徑是測(cè)試點(diǎn)的最小尺寸,用于確保測(cè)試探針可以準(zhǔn)確地與測(cè)試點(diǎn)接觸。如果測(cè)試點(diǎn)直徑小于這個(gè)值,可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試探針無(wú)法正確接觸到測(cè)試點(diǎn),從而影響測(cè)試的準(zhǔn)確性。
2024-10-28 10:31:07
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測(cè)試點(diǎn)之間的間距決定了使用何種樣式的測(cè)試探針。以下是幾種常見(jiàn)的測(cè)試探針樣式和其適用的間距范圍。
2024-10-29 09:50:15
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測(cè)試點(diǎn)和邊緣之間所需的最小間隙D:板或任何大孔板為40mil。但是,建議間距為125mil。
2024-10-30 10:33:47
934 線路板PCB測(cè)試點(diǎn)設(shè)置的原則是確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和高效性,同時(shí)避免對(duì)PCB板造成不必要的損害。以下是一些關(guān)鍵的設(shè)置原則: 1.測(cè)試點(diǎn)的分布?: 測(cè)試點(diǎn)應(yīng)均勻分布在PCB板上,避免集中在某個(gè)小區(qū)域內(nèi),以
2025-02-08 11:35:29
1990 簡(jiǎn)單有效的應(yīng)急處理與操作調(diào)整,即可消除干擾,獲取可靠數(shù)據(jù)。? 一、現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)急清潔:快速去除表面干擾層? 針對(duì)氧化測(cè)試點(diǎn),可采用物理打磨法處理。若現(xiàn)場(chǎng)有砂紙、鋼絲刷等工具,用其輕輕打磨測(cè)試點(diǎn)表面,直至露出金屬本色
2025-10-30 09:33:36
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評(píng)論