? ? ? 在電子電路設(shè)計(jì)中，安規(guī)電容是保障設(shè)備安全與電磁兼容性（EMC）的關(guān)鍵元件。這類電容不僅具備常規(guī)電容的儲(chǔ)能特性，更重要的是在失效時(shí)能避免對(duì)人體造成觸電風(fēng)險(xiǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于開關(guān)電源的輸入
2026-01-04 11:14:23
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質(zhì)量的可靠性。這些領(lǐng)域往往要求界面結(jié)合強(qiáng)度達(dá)到特定標(biāo)準(zhǔn)，而拉力測(cè)試無(wú)法提供這樣的準(zhǔn)確評(píng)估。
失效分析與故障診斷
當(dāng)產(chǎn)品出現(xiàn)鍵合相關(guān)的質(zhì)量問(wèn)題時(shí)，剪切測(cè)試能夠幫助工程師準(zhǔn)確定位失效原因。通過(guò)分析剪切
2025-12-31 09:09:40
Utility軟件下載會(huì)出現(xiàn)“Can not read memory！Disable Read Out Protection and retry” 可以看到能讀出芯片ID，但是依然會(huì)報(bào)錯(cuò) 出現(xiàn)的原因 讀保護(hù)：是由于CH340亂觸發(fā)DTR和RTS導(dǎo)致寫入的時(shí)候異常，進(jìn)入讀保護(hù)的
2025-12-30 10:10:18287 
一、讀寫均衡失效引發(fā)的核心問(wèn)題 讀寫均衡（磨損均衡，Wear Leveling）是SD卡固件通過(guò)算法將數(shù)據(jù)均勻分配到閃存芯片各單元，避免局部單元過(guò)度擦寫的關(guān)鍵機(jī)制。瀚海微SD卡出現(xiàn)讀寫均衡失效后，會(huì)
2025-12-29 15:08:0798 
今天結(jié)合電子整流器的核心原理，帶大家拆解整流器內(nèi)部器件，從結(jié)構(gòu)、失效原因到檢測(cè)方法逐一講透，文末還附上實(shí)操修復(fù)案例，新手也能看懂。
2025-12-28 15:24:43997 
發(fā)光二極管（LED）作為現(xiàn)代照明和顯示技術(shù)的核心元件，其可靠性直接關(guān)系到最終產(chǎn)品的性能與壽命。與所有半導(dǎo)體器件相似，LED在早期使用階段可能出現(xiàn)失效現(xiàn)象，對(duì)這些失效案例進(jìn)行科學(xué)分析，不僅能夠定位
2025-12-24 11:59:35172 
電解電容的失效模式多樣，主要涵蓋漏液、爆裂、容量衰減、等效串聯(lián)電阻(ESR)增大、電壓擊穿及壽命終止等類型，以下為具體分析： 漏液 原因 ：電解電容的密封結(jié)構(gòu)若存在缺陷，或長(zhǎng)期在高溫、高濕度環(huán)境下工
2025-12-23 16:17:49134
圖片是我的全橋LLC的波形，為什么沒(méi)有在死區(qū)時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)對(duì)電容的放電，電流波形疑似小平臺(tái)處出現(xiàn)在開管導(dǎo)通后，根本就沒(méi)實(shí)現(xiàn)LLC的ZVS，我想請(qǐng)問(wèn)下是什么原因，變壓器勵(lì)磁電感164uH,諧振電感26uH,諧振電容150nF。
我的這個(gè)LLC的諧振電流平臺(tái)出現(xiàn)的太滯后了，不知道是什么原因造成的。
2025-12-21 22:51:15
電子領(lǐng)域，鋁電解電容是極為常見且關(guān)鍵的電子元件，被廣泛應(yīng)用于各類電子設(shè)備中。
2025-12-11 17:32:42695 SYSCTRL_IER.HSEFAULT或者SYSCTRL_IER.LSEFAULT 設(shè)置為1），則CPU 會(huì)執(zhí)行中斷服務(wù)程序進(jìn)行時(shí)鐘運(yùn)行中失效處理。
如果當(dāng)前系統(tǒng)時(shí)鐘來(lái)源為HSE，則當(dāng)HSE 出現(xiàn)運(yùn)行中失效時(shí)系統(tǒng)時(shí)鐘源會(huì)自動(dòng)切換到HSI 時(shí)鐘。
2025-11-27 06:37:44
SOT-23封裝的AO3400型號(hào)MOS管擊穿失效的案例，過(guò)程中梳理出MOS管最常見的失效原因，以及如何從原理層面規(guī)避這些問(wèn)題。
2025-11-26 09:47:34615 
今天蓬生電子給大家介紹一下連接器的電性能，連接器的電性能直接決定電子系統(tǒng)中作業(yè)的可靠性與穩(wěn)定性。那么正常情況下會(huì)考慮到如果電性能不過(guò)關(guān)可能導(dǎo)致設(shè)備出現(xiàn)故障、信號(hào)中斷甚至?xí)邪踩[患。那么今天本文就從電性能指標(biāo)、失效原因及防范措施三方面展開分析，幫助大家在日常生活中加以防范安全使用連接器。
2025-11-19 10:16:48220 
;Run Behavioral Simulation之后，會(huì)出現(xiàn)如下圖界面，此時(shí)，在Tcl Console中并沒(méi)有出現(xiàn)仿真結(jié)果。
沒(méi)有出現(xiàn)仿真結(jié)果的原因是沒(méi)有給Vivado時(shí)間進(jìn)行仿真，解決方法
2025-10-31 06:24:20
電子設(shè)備可靠性的一大隱患。為什么金鋁鍵合會(huì)失效金鋁鍵合失效主要表現(xiàn)為鍵合點(diǎn)電阻增大和機(jī)械強(qiáng)度下降，最終導(dǎo)致電路性能退化或開路。其根本原因源于金和鋁兩種金屬的物理與化
2025-10-24 12:20:57444 
? 有源晶振（AXO）是設(shè)備時(shí)鐘信號(hào)核心，不起振會(huì)導(dǎo)致設(shè)備死機(jī)、功能失效。以下從 4 大維度總結(jié)關(guān)鍵原因，附 3 步排查方案。 一、4 大核心不起振原因 1. 硬件連接問(wèn)題（占比 40%+） 供電
2025-10-23 17:58:3116468 
電解電容鼓包是電容器外殼因內(nèi)部壓力升高而發(fā)生膨脹變形的現(xiàn)象，通常伴隨漏液、性能下降甚至爆炸風(fēng)險(xiǎn)。其成因復(fù)雜，涉及材料、設(shè)計(jì)、使用環(huán)境等多方面因素。以下從原因分析和預(yù)防措施兩方面展開詳細(xì)說(shuō)明： 一
2025-10-20 16:31:311016 電子元器件失效可能導(dǎo)致電路功能異常，甚至整機(jī)損毀，耗費(fèi)大量調(diào)試時(shí)間。部分半導(dǎo)體器件存在外表完好但性能劣化的“軟失效”，進(jìn)一步增加了問(wèn)題定位的難度。電阻器失效1.開路失效：最常見故障。由過(guò)電流沖擊導(dǎo)致
2025-10-17 17:38:52900 
接到反饋：電源輸出異常、波形畸變或設(shè)備無(wú)法啟動(dòng)。經(jīng)排查后發(fā)現(xiàn)，根本原因多是橋堆出現(xiàn)了開路失效或單向?qū)ǖ膯?wèn)題。這類故障雖然常見，但診斷難度較大，若處理不當(dāng)可能導(dǎo)致
2025-10-16 10:08:32331 
失效和封裝失效的原因，并分析其背后的物理機(jī)制。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu)，致力于改善LED品質(zhì)，服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個(gè)環(huán)節(jié)，使LED產(chǎn)業(yè)健康
2025-10-14 12:09:44242 
斷點(diǎn)的作用失效，該怎么處理
出現(xiàn)這種情況的時(shí)候是因?yàn)榈窃赿ebug的時(shí)候?qū)link拔出來(lái)了，再恢復(fù)的時(shí)候出現(xiàn)這個(gè)問(wèn)題，已經(jīng)將軟件重新安裝了一邊，還是很會(huì)出現(xiàn)這個(gè)問(wèn)題。
2025-10-14 06:12:36
用rt thread studio 創(chuàng)建了K210工程，創(chuàng)建成功后編譯時(shí)，出現(xiàn)很多警告，這是什么原因？？
2025-10-13 06:25:23
國(guó)巨電容出現(xiàn)漏液現(xiàn)象，可能是由密封結(jié)構(gòu)失效、電化學(xué)腐蝕、機(jī)械損傷、材料老化、環(huán)境應(yīng)力以及制造缺陷等多種因素導(dǎo)致的，以下是對(duì)這些原因的詳細(xì)分析： 密封結(jié)構(gòu)失效 焊接不良 ：國(guó)巨電容的金屬外殼與密封蓋
2025-09-29 14:21:40419 
低空飛行汽車電控系統(tǒng)在飛行中常因高頻振動(dòng)導(dǎo)致電容失效，表現(xiàn)為控制系統(tǒng)響應(yīng)異常、濾波性能下降，甚至引發(fā)飛行事故。傳統(tǒng)電容抗震能力不足（5-10g），難以滿足極端環(huán)境下的可靠性要求。根本原因技術(shù)分析振動(dòng)
2025-09-13 08:28:20535 
LED壽命雖被標(biāo)稱5萬(wàn)小時(shí)，但那只是25℃下的理論值。高溫、高濕、粉塵、電流沖擊等現(xiàn)場(chǎng)條件會(huì)迅速放大缺陷，使產(chǎn)品提前失效。統(tǒng)計(jì)表明，現(xiàn)場(chǎng)失效多集中在投運(yùn)前三年，且呈批次性，直接推高售后成本。把常見
2025-09-12 14:36:55641 
，成功破解了這一行業(yè)難題，其產(chǎn)品在連續(xù)工作12年后仍保持90%以上容量穩(wěn)定性，創(chuàng)造了家用設(shè)備鋁電解電容的"長(zhǎng)壽紀(jì)錄"。 **電解液技術(shù)突破：從分子結(jié)構(gòu)到長(zhǎng)效穩(wěn)定** 合粵研發(fā)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)，傳統(tǒng)電解液失效的核心原因是乙二醇溶劑在高溫
2025-09-03 17:32:56689 電解電容鼓包是常見的失效現(xiàn)象，通常由內(nèi)部壓力積聚導(dǎo)致外殼變形，其根本原因與電解電容的結(jié)構(gòu)特性、工作條件及材料老化密切相關(guān)。以下是具體原因分析及預(yù)防措施： 一、電解電容鼓包的核心原因 1. 過(guò)電壓
2025-08-29 16:19:441345 MDD穩(wěn)壓二極管（ZenerDiode）作為電子電路中常見的電壓基準(zhǔn)與保護(hù)元件，因其反向擊穿時(shí)能夠提供相對(duì)穩(wěn)定的電壓而被廣泛應(yīng)用。然而，在實(shí)際使用過(guò)程中，穩(wěn)壓管并不是“永不失效”的器件，它也會(huì)出現(xiàn)
2025-08-28 09:39:37555 
風(fēng)華高科作為國(guó)內(nèi)電子元器件領(lǐng)域的龍頭企業(yè)，其貼片電感產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子、通信設(shè)備及工業(yè)控制領(lǐng)域。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，貼片電感可能因設(shè)計(jì)缺陷、材料缺陷或工藝問(wèn)題導(dǎo)致失效。本文結(jié)合行業(yè)實(shí)踐與技術(shù)文獻(xiàn)
2025-08-27 16:38:26658 高溫導(dǎo)致電容性能衰減，電解液蒸發(fā)、界面裂紋、紋波電流引發(fā)失效，需嚴(yán)格散熱管理。
2025-08-26 09:16:00558 
為內(nèi)部因素與外部因素兩大類。內(nèi)部原因內(nèi)部失效通常源于元器件在材料、結(jié)構(gòu)或工藝層面的固有缺陷，或在長(zhǎng)期工作過(guò)程中因內(nèi)部物理化學(xué)變化導(dǎo)致的性能衰退。主要包括以下幾類：
2025-08-21 14:09:32983 
短路失效網(wǎng)上已經(jīng)有很多很詳細(xì)的解釋和分類了，但就具體工作中而言，我經(jīng)常遇到的失效情況主要還是發(fā)生在脈沖階段和關(guān)斷階段以及關(guān)斷完畢之后的，失效的模式主要為熱失效和動(dòng)態(tài)雪崩失效以及電場(chǎng)尖峰過(guò)高失效(電流分布不均勻)。理論上還有其他的一些失效情況，但我工作中基本不怎么遇到了。
2025-08-21 11:08:544038 
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，電氣過(guò)應(yīng)力（EOS）和靜電放電（ESD）是導(dǎo)致芯片失效的兩大主要因素，約占現(xiàn)場(chǎng)失效器件總數(shù)的50%。它們不僅直接造成器件損壞，還會(huì)引發(fā)長(zhǎng)期性能衰退和可靠性問(wèn)題，對(duì)生產(chǎn)效率與產(chǎn)品質(zhì)量構(gòu)成嚴(yán)重威脅。
2025-08-21 09:23:051497 一前言在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中可能會(huì)出現(xiàn)一些使用了屏蔽罩但是未能達(dá)到屏蔽效果的情況。主打一個(gè)我以為我罩了就無(wú)敵了，其實(shí)啥用沒(méi)有。那么今天我們就分享一下失效的相關(guān)原因。二電磁屏蔽的基本原理電磁屏蔽的原理主要是依據(jù)
2025-08-19 11:34:02602 
激光錫焊有很多優(yōu)點(diǎn)，高效，快速等等。但是在激光錫焊的過(guò)程中，可能因?yàn)檫@樣或者那樣的原因，造成焊接點(diǎn)存在氣孔。松盛光電來(lái)給大家介紹一下激光錫焊焊點(diǎn)氣孔存在的原因及相應(yīng)的解決方案，來(lái)了解一下吧。
2025-08-18 09:22:161052 限制，PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用中常出現(xiàn)失效，引發(fā)質(zhì)量糾紛。為查明原因、解決問(wèn)題并明確責(zé)任，失效分析成為必不可少的環(huán)節(jié)。失效分析流程1.失效定位失效分析的首要任務(wù)是基于失效
2025-08-15 13:59:15630 
軸承作為機(jī)械設(shè)備中的關(guān)鍵部件，其性能直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。磨損失效是軸承常見的失效模式之一，是軸承滾道、滾動(dòng)體、保持架、座孔或安裝軸承的軸徑，由于機(jī)械原因引起的表面磨損，對(duì)機(jī)械設(shè)備
2025-08-05 17:52:39995 
高溫振動(dòng)傳感器在600°C環(huán)境下工作時(shí)，輸出信號(hào)出現(xiàn)周期性噪聲干擾，可能的原因有哪些？如何解決？
2025-08-05 10:13:45821 
你的電子設(shè)備突然失靈，罪魁禍?zhǔn)卓赡苁且粋€(gè)不起眼的電解電容。這種藍(lán)色或黑色的圓柱體元件，就像電子設(shè)備的"計(jì)時(shí)炸彈"，它的壽命究竟由什么決定？ 規(guī)格/系列齊全-詳情請(qǐng)關(guān)注我們 電解電容的壽命計(jì)算遵循阿列
2025-08-02 18:22:073853 LED技術(shù)因其高效率和長(zhǎng)壽命在現(xiàn)代照明領(lǐng)域扮演著關(guān)鍵角色。然而，LED封裝的失效問(wèn)題可能影響其性能，甚至導(dǎo)致整個(gè)照明系統(tǒng)的故障。以下是一些常見的問(wèn)題原因及其預(yù)防措施：1.固晶膠老化和芯片脫落：LED
2025-07-29 15:31:37452 
環(huán)氧底部填充膠固化后出現(xiàn)氣泡是一個(gè)常見的工藝問(wèn)題，不僅影響美觀，更嚴(yán)重的是會(huì)降低產(chǎn)品的機(jī)械強(qiáng)度、熱可靠性、防潮密封性和長(zhǎng)期可靠性，尤其在微電子封裝等高要求應(yīng)用中可能導(dǎo)致器件失效。以下是對(duì)氣泡產(chǎn)生原因
2025-07-25 13:59:12787 
電解電容(如鋁電解電容、鉭電解電容)因內(nèi)部結(jié)構(gòu)特殊，在長(zhǎng)期使用或不當(dāng)操作下易出現(xiàn)鼓包現(xiàn)象，輕則性能下降，重則漏液、爆炸。其核心原因與材料老化、環(huán)境應(yīng)力及電路設(shè)計(jì)相關(guān)，以下是詳細(xì)分析及預(yù)防方案： 一
2025-07-21 15:22:081971 
安規(guī)電容通常用于抑制噪聲、濾波或電氣隔離等。安規(guī)電容在設(shè)計(jì)時(shí)必須具備一定的安全標(biāo)準(zhǔn)，以保證在故障情況下不會(huì)對(duì)使用者造成電擊或火災(zāi)等危險(xiǎn)。然而，安規(guī)電容也有可能因各種原因發(fā)生損壞，常見的原因包括： 一
2025-07-13 11:03:59999 芯片失效分析的主要步驟芯片開封：去除IC封膠，同時(shí)保持芯片功能的完整無(wú)損，保持die，bondpads，bondwires乃至lead-frame不受損傷，為下一步芯片失效分析實(shí)驗(yàn)做準(zhǔn)備。SEM
2025-07-11 10:01:152706 
法拉電容因其高能量密度和快速充放電特性，成為新能源和儲(chǔ)能領(lǐng)域的明星組件。然而，因其潛在風(fēng)險(xiǎn)——爆炸，引發(fā)的安全事故屢見報(bào)端。法拉電容短路、設(shè)計(jì)缺陷、人為失誤是其爆炸誘因。
2025-07-11 09:39:001843 
，為了弄清楚各類異常所導(dǎo)致的失效根本原因，IC失效分析也同樣在行業(yè)內(nèi)扮演著越來(lái)越重要的角色。一塊芯片上集成的器件可達(dá)幾千萬(wàn)，因此進(jìn)行集成電路失效分析必須具備先進(jìn)、準(zhǔn)確的技術(shù)和設(shè)備，并由具有相關(guān)專業(yè)知識(shí)的半導(dǎo)體分析人員開展分析工作。
2025-07-10 11:14:34591 
在電子封裝領(lǐng)域，各類材料因特性與應(yīng)用場(chǎng)景不同，失效模式和分析檢測(cè)方法也各有差異。
2025-07-09 09:40:52999 本文介紹了芯片封裝失效的典型現(xiàn)象：金線偏移、芯片開裂、界面開裂、基板裂紋和再流焊缺陷。
2025-07-09 09:31:361505 電解電容作為電子電路中關(guān)鍵的儲(chǔ)能與濾波元件，其可靠性直接影響設(shè)備性能與壽命。然而，受材料、工藝、環(huán)境等因素影響，電解電容易發(fā)生多種失效模式。本文將系統(tǒng)梳理其失效因素，并提出針對(duì)性預(yù)防措施。 一、核心
2025-07-08 15:17:38783 芯片失效和封裝失效的原因，并分析其背后的物理機(jī)制。金鑒實(shí)驗(yàn)室是一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu)，致力于改善LED品質(zhì)，服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個(gè)環(huán)節(jié)，使LED產(chǎn)業(yè)健康
2025-07-07 15:53:25765 
作為電子電路中應(yīng)用最廣的儲(chǔ)能元件，鋁電解電容在電源濾波、能量轉(zhuǎn)換等領(lǐng)域占據(jù)核心地位。然而，其失效問(wèn)題始終是制約設(shè)備可靠性的關(guān)鍵因素——據(jù)統(tǒng)計(jì)，消費(fèi)電子故障中35%源于電容失效，工業(yè)電源系統(tǒng)中這一
2025-07-03 16:09:13614 UPS(不間斷電源)確保在電力中斷時(shí)，關(guān)鍵設(shè)備如服務(wù)器、工作站等仍能持續(xù)運(yùn)行。然而，當(dāng)UPS電源警報(bào)聲持續(xù)響起時(shí)，這可能意味著系統(tǒng)出現(xiàn)了某種故障或異常情況，需要及時(shí)排查和處理。
2025-07-02 17:09:383001 
連接器失效可能由電氣、機(jī)械、環(huán)境、材料、設(shè)計(jì)、使用不當(dāng)或壽命到期等多種原因引起。通過(guò)電氣、機(jī)械、外觀和功能測(cè)試，可以判斷連接器是否失效。如遇到失效的情況需要及時(shí)更新，保證工序的正常進(jìn)行。
2025-06-27 17:00:56654 ，請(qǐng)分析死燈真實(shí)原因。檢測(cè)結(jié)論燈珠死燈失效死燈現(xiàn)象為支架鍍銀層脫落導(dǎo)致是由二焊引線鍵合工藝造成。焊點(diǎn)剝離的過(guò)程相當(dāng)于一次“百格試驗(yàn)”，如果切口邊緣有剝落的鍍銀層，證
2025-06-25 15:43:48742 
本文介紹了三種主流測(cè)量電容的方法：萬(wàn)用表直接測(cè)量法、指針式萬(wàn)用表、差動(dòng)式直流充電法。其中，萬(wàn)用表直接測(cè)量法操作簡(jiǎn)單、成本低，適合現(xiàn)場(chǎng)維修等場(chǎng)景；指針式萬(wàn)用表精度較低，更適合快速判斷電容是否失效；差動(dòng)式直流充電法高精度測(cè)量，適合對(duì)電容值...
2025-06-22 09:52:001796 
設(shè)計(jì)了一個(gè)如圖所示的電容三點(diǎn)式振蕩電路，但是電路無(wú)法起振，想請(qǐng)問(wèn)一下原因是什么呢。
2025-06-19 17:06:46
電容作為電子電路中的核心元件，其可靠性直接影響系統(tǒng)性能。然而，鼓包、漏液、擊穿等失效模式卻成為制約電容壽命的「隱形殺手」。本文將從失效機(jī)理、誘因分析及預(yù)防策略三個(gè)維度，深度解析這些故障的根源與應(yīng)對(duì)
2025-06-19 10:21:153123 中圖儀器SEM掃描電鏡斷裂失效分析采用鎢燈絲電子槍，其電子槍發(fā)射電流大、穩(wěn)定性好，以及對(duì)真空度要求不高，使得鎢燈絲臺(tái)式掃描電鏡能夠在較短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測(cè)效率
2025-06-17 15:02:09
的PCB板。當(dāng)我嘗試生成BOM和CPL文件時(shí)，在使用JLCPCB進(jìn)行制造時(shí)會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤。
原因是Fortior Tech使用了其內(nèi)部組件庫(kù)來(lái)制作此PCB，但我們沒(méi)有該庫(kù)，因此Altium Designer
2025-06-04 17:07:33
同軸產(chǎn)品在使用中總會(huì)碰到問(wèn)題，可能涉及到連接器也可能涉及到安裝的電纜，本期將圍繞總結(jié)3個(gè)大點(diǎn)8種同軸連接的失效原因，并對(duì)不同問(wèn)題分別進(jìn)行解析。
2025-06-04 10:00:551607 系統(tǒng)壓力測(cè)試發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題通常都比較復(fù)雜，作者最近解決了一個(gè)有意思的系統(tǒng)穩(wěn)定性問(wèn)題，也想請(qǐng)各位讀者一起思考下，想想問(wèn)題的原因是什么。
2025-05-24 14:52:00823 
部分IGBT模塊廠商失效報(bào)告作假的根本原因及其對(duì)中國(guó)功率模塊市場(chǎng)的深遠(yuǎn)影響，可以從技術(shù)、商業(yè)、行業(yè)競(jìng)爭(zhēng)等多維度分析，并結(jié)合中國(guó)功率模塊市場(chǎng)的動(dòng)態(tài)變化進(jìn)行綜合評(píng)估： 一、失效報(bào)告作假的根本原因 技術(shù)
2025-05-23 08:37:56801 
電容作為電子設(shè)備中的重要元件，其穩(wěn)定性和可靠性直接關(guān)系到整個(gè)系統(tǒng)的運(yùn)行安全。然而，在某些情況下，電容可能會(huì)突然爆炸，給設(shè)備帶來(lái)嚴(yán)重的損害，甚至威脅到人員的安全。那么，電容為什么會(huì)爆炸呢?原因可能比你
2025-05-22 15:18:243911 
HDMI接口芯片 失效原因分析和改善措施 ? ? HDMI，全稱 High Definition Multimedia Interface， 即高清多媒體接口。自問(wèn)世以來(lái)，HDMI 歷經(jīng)了多次版本
2025-05-09 11:16:1330885 
致失效的物理或化學(xué)過(guò)程，如疲勞、腐蝕、過(guò)應(yīng)力等。通過(guò)失效分析，我們能夠提出有效的糾正措施，防止同類問(wèn)題再次出現(xiàn)，從而提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。失效分析的程序1.收集
2025-05-08 14:30:23910 
國(guó)巨貼片電容作為電子電路中的關(guān)鍵元件，其引腳斷裂失效會(huì)直接影響電路性能。要找出此類失效原因，需從機(jī)械應(yīng)力、焊接工藝、材料特性及電路設(shè)計(jì)等多維度展開系統(tǒng)性分析。 一、機(jī)械應(yīng)力損傷的排查 在電路板組裝
2025-05-06 14:23:30641 在電子設(shè)計(jì)中，MDD-TVS管是保護(hù)電路免受瞬態(tài)電壓沖擊的重要器件。然而，TVS管本身在惡劣環(huán)境或選型、應(yīng)用不當(dāng)時(shí)，也可能出現(xiàn)失效問(wèn)題。作為FAE，本文將系統(tǒng)梳理TVS管常見的三大失效模式——熱擊穿
2025-04-28 13:37:05954 
LED光源發(fā)黑現(xiàn)象LED光源以其高效、節(jié)能、環(huán)保的特性，在照明領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。然而，LED光源在使用過(guò)程中出現(xiàn)的發(fā)黑現(xiàn)象，卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED
2025-04-27 15:47:072224 
一、主要失效原因分類MOSFET 失效可分為外部應(yīng)力損傷、電路設(shè)計(jì)缺陷、制造工藝缺陷三大類，具體表現(xiàn)如下：1. 外部應(yīng)力損傷（1）靜電放電（ESD）擊穿· 成因· MOSFET 柵源極（G-S）間
2025-04-23 14:49:27
GUOCI(國(guó)瓷電容)系一家專注于新材料、新技術(shù)研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的技術(shù)型企業(yè);產(chǎn)品主要針對(duì)客戶在電路設(shè)計(jì)中遇到的實(shí)際應(yīng)用難題，如:失效、可靠性、噪音、壽命等;我們的使命是:新材料改變新生活，致力于為客戶提供全面解決方案。
新材料改變新生活，致力于為客戶提供全面解決方案。
2025-04-17 11:23:32
LTC3350電容充電上升電流很慢，而規(guī)格書上寫的是電流從0上升到設(shè)置的滿電流只需要2ms，實(shí)際測(cè)試遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于2ms，而且電流峰值也達(dá)不到設(shè)置值。請(qǐng)問(wèn)是什么原因？
橙色波形為VIN處電流波形，原理圖見附件。
PDF
2025-04-17 07:54:03
獲取三星貼片電容的批次號(hào)信息。 一、批次號(hào)的核心價(jià)值與標(biāo)識(shí)位置 為何需要批次號(hào)？ 批次號(hào)是追溯電容生產(chǎn)時(shí)間、工廠來(lái)源及質(zhì)量批次的關(guān)鍵標(biāo)識(shí)，對(duì)故障分析、召回處理或兼容性驗(yàn)證至關(guān)重要。例如，某醫(yī)療設(shè)備出現(xiàn)電容失效，通過(guò)批次號(hào)可快
2025-04-11 14:28:481346 
本資料共分兩篇,第一篇為基礎(chǔ)篇，主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術(shù)及儀器設(shè)備;第二篇為案例篇，主要介紹了九類元器件的失效特點(diǎn)、失效模式和失效機(jī)理以及有效的預(yù)防和控制措施,并給出九類
2025-04-10 17:43:54
貼片電容作為現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的元件，其容值的準(zhǔn)確性對(duì)于電路的性能和穩(wěn)定性至關(guān)重要。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，我們常常會(huì)遇到貼片電容容值出現(xiàn)較大偏差的情況。這種偏差不僅可能源于電容本身的制造和材料
2025-03-28 14:40:291320 
半導(dǎo)體集成電路失效機(jī)理中除了與封裝有關(guān)的失效機(jī)理以外，還有與應(yīng)用有關(guān)的失效機(jī)理。
2025-03-25 15:41:371791 
高密度互聯(lián)（HDI）板的激光盲孔技術(shù)是5G、AI芯片的關(guān)鍵工藝，但孔底開路失效卻讓無(wú)數(shù)工程師頭疼！SGS微電子實(shí)驗(yàn)室憑借在失效分析領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn)，總結(jié)了一些失效分析經(jīng)典案例，旨在為工程師提供更優(yōu)
2025-03-24 10:45:391271 
信號(hào)邊沿由100ns變成了1us。
請(qǐng)問(wèn)運(yùn)放壓擺率變小的可能原因是什么呢？?jī)?nèi)部什么結(jié)構(gòu)被燒壞了嗎？并且目前只發(fā)現(xiàn)壓擺率下來(lái)了，其他電壓擺幅等指標(biāo)還未發(fā)現(xiàn)異常，有沒(méi)有可能冷卻恢復(fù)呢？
2025-03-24 08:12:37
貼片電容作為現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的元件，廣泛應(yīng)用于各類電路中，發(fā)揮著濾波、儲(chǔ)能、耦合和去耦等關(guān)鍵作用。然而，在使用過(guò)程中，貼片電容有時(shí)會(huì)出現(xiàn)短路故障，這不僅會(huì)影響電路的正常工作，甚至可能導(dǎo)致整個(gè)
2025-03-19 15:28:282911 
在現(xiàn)代電子信息產(chǎn)業(yè)中，PCB（印刷電路板）作為元器件的載體和電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~，其質(zhì)量與可靠性水平直接決定了整機(jī)設(shè)備的性能表現(xiàn)。然而，由于成本控制和技術(shù)限制，PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過(guò)程中常常出現(xiàn)各種失效
2025-03-17 16:30:54935 
本文將深度剖析整流橋的4類典型失效模式，并提出相應(yīng)的防護(hù)設(shè)計(jì)方案，以幫助工程師提高整流電路的可靠性和安全性。1.過(guò)電流擊穿失效原因：過(guò)流可能是由于負(fù)載短路、突加負(fù)載
2025-03-14 10:25:101594 
本文首先介紹了器件失效的定義、分類和失效機(jī)理的統(tǒng)計(jì)，然后詳細(xì)介紹了封裝失效分析的流程、方法及設(shè)備。
2025-03-13 14:45:411819 
太誘電容的失效分析，特別是針對(duì)裂紋與短路問(wèn)題，需要從多個(gè)角度進(jìn)行深入探討。以下是對(duì)這兩個(gè)問(wèn)題的詳細(xì)分析： 一、裂紋問(wèn)題 裂紋成因 ： 熱膨脹系數(shù)差異 ：電容器的各個(gè)組成部分(如陶瓷介質(zhì)、端電極
2025-03-12 15:40:021222 
裝機(jī)后發(fā)現(xiàn)有些DMD用著用著就出現(xiàn)黑線，而且好像是不可逆的（不確定有沒(méi)有方法修復(fù)）。不知道Ti那邊有沒(méi)有相關(guān)經(jīng)驗(yàn)?zāi)軌蚪忉屜?b class="flag-6" style="color: red">出現(xiàn)黑線的原因。
2025-02-26 08:31:53
沖擊。如果防雷濾波板的設(shè)計(jì)或元件選型不當(dāng)，或者防雷元件（如壓敏電阻、壓敏電容等）老化失效，就可能導(dǎo)致防雷濾波板損壞。特別是在雷電頻繁的地區(qū)，這種損壞情況更為常見。 2、高電壓應(yīng)力 變頻器在工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生高頻脈沖電壓，
2025-02-23 07:36:521350 
部分板子，在無(wú)法實(shí)現(xiàn)第4步，始終無(wú)法顯示系統(tǒng)輸出的DSI，接入后，仍然是馬賽克圖案。
我們可以確保我們輸出的DSI沒(méi)有問(wèn)題，因?yàn)檎０遄邮强梢暂敵鐾暾腄SI視頻信息，同時(shí)我們是同一批生產(chǎn)的板子，目前出現(xiàn)不一致的情況。
請(qǐng)求幫助：
分析DLPC3433部分DSI失效的原因，以及改進(jìn)的措施
2025-02-21 07:24:24
? 本文介紹了芯片失效分析的方法和流程，舉例了典型失效案例流程，總結(jié)了芯片失效分析關(guān)鍵技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)和對(duì)策，并總結(jié)了芯片失效分析的注意事項(xiàng)。 ? ? 芯片失效分析是一個(gè)系統(tǒng)性工程，需要結(jié)合電學(xué)測(cè)試
2025-02-19 09:44:162908
ADC的諧波產(chǎn)生的原因是什么
2025-02-08 08:25:33
，還可能對(duì)設(shè)備造成損害。本文將從多個(gè)角度探討變頻器無(wú)法進(jìn)行調(diào)速的原因，并提供相應(yīng)的解決方法，以幫助技術(shù)人員快速定位問(wèn)題并恢復(fù)變頻器的正常工作。 ? ? ? 首先，變頻器無(wú)法進(jìn)行調(diào)速的一個(gè)常見原因是其輸出的最大扭矩小于負(fù)載
2025-02-07 15:50:572867 
變頻器啟動(dòng)不足故障的原因和解決方法兩個(gè)方面進(jìn)行詳細(xì)探討，以期為電氣工程師和操作人員提供有益的參考。 ? 變頻器啟動(dòng)不足故障原因分析 ? ? ? 變頻器啟動(dòng)不足故障的原因復(fù)雜多樣，涉及電源、變頻器內(nèi)部組件、連接線路、
2025-01-23 17:20:351902 
PCB失效分析：步驟與技術(shù)作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~PCB（PrintedCircuitBoard，印刷電路板）已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定
2025-01-20 17:47:011692 
直線導(dǎo)軌測(cè)量誤差的原因是多方面的，需要綜合考慮各種因素并采取相應(yīng)的措施來(lái)減小誤差。
2025-01-18 17:45:01888 
整流二極管失效分析方法主要包括對(duì)失效原因的分析以及具體的檢測(cè)方法。 一、失效原因分析 防雷、過(guò)電壓保護(hù)措施不力 ： 整流裝置未設(shè)置防雷、過(guò)電壓保護(hù)裝置，或保護(hù)裝置工作不可靠，可能因雷擊或過(guò)電壓而損壞
2025-01-15 09:16:581589 打靜電數(shù)字端口出現(xiàn)死機(jī)或采樣率變快并且ad失效，復(fù)位ad后，數(shù)據(jù)正常，AD和mcu用ADUM2402隔離
2025-01-15 06:21:29
僅會(huì)影響電容本身的壽命和性能，還可能對(duì)整個(gè)電路系統(tǒng)造成不良影響。那么，貼片電容發(fā)熱的原因究竟是什么呢? 貼片電容(MLCC)發(fā)熱的原因有多種，以下是一些主要因素： 電流過(guò)大：當(dāng)貼片電容所在的電路中電流過(guò)大時(shí)，尤其是紋波電流超過(guò)
2025-01-13 14:23:451762
故障現(xiàn)象：xtr111芯片及電路板表面無(wú)異常，無(wú)異味，正常電源電壓輸入為12Vdc，4,5引腳配置5.6k和8.2k電阻，上電5腳輸出電平為0V，電路電流端無(wú)輸出，正常應(yīng)該是4-20mA輸出才對(duì)，更換芯片后一切正常。
請(qǐng)問(wèn)是哪些原因導(dǎo)致的芯片失效呢？
2025-01-10 08:25:27
失效分析的重要性失效分析其核心任務(wù)是探究產(chǎn)品或構(gòu)件在服役過(guò)程中出現(xiàn)的各種失效形式。這些失效形式涵蓋了疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開裂、環(huán)境應(yīng)力開裂引發(fā)的脆性斷裂等諸多類型。深入剖析失效機(jī)理，有助于工程師
2025-01-09 11:01:46995 
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