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LED電源無(wú)硫檢測(cè)失效分析

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2023-09-16 12:43:226283

滾動(dòng)軸承的失效原因及措施

滾動(dòng)軸承的可靠性與滾動(dòng)軸承的失效形式有著密切的關(guān)系,要提高軸承的可靠性,就必須從軸承的失效形式著手,仔細(xì)分析滾動(dòng)軸承的失效原因,才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過(guò)PPT來(lái)了解一下軸承失效
2023-09-15 11:28:51212

各種材料失效分析檢測(cè)方法

失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及,它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過(guò)分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
2023-09-12 09:51:47291

功率分析儀在LED驅(qū)動(dòng)電源測(cè)試方案

相比傳統(tǒng)節(jié)能燈,LED照明燈具具有光效更高,更環(huán)保的特性。LED驅(qū)動(dòng)電源是把交流供電或者其它直流電源轉(zhuǎn)換為LED燈具可用的恒壓或恒流的特定電源,LED驅(qū)動(dòng)電源LED照明燈具的核心組件之一,其性能
2023-09-11 15:53:37754

集成電路為什么要做失效分析?失效分析流程?

失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過(guò)分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051331

led恒流驅(qū)動(dòng)電源更換怎么操作?

led恒流驅(qū)動(dòng)電源更換怎么操作? LED恒流驅(qū)動(dòng)電源是一種特殊的電源設(shè)備,常用于LED燈的控制,確保LED燈的穩(wěn)定工作和長(zhǎng)壽命。然而,隨著時(shí)間的推移,可能會(huì)出現(xiàn)電源故障,這時(shí)候需要更換LED恒流驅(qū)動(dòng)
2023-09-05 09:19:113223

led恒流驅(qū)動(dòng)電源壞了有什么表現(xiàn)?

led恒流驅(qū)動(dòng)電源壞了有什么表現(xiàn)?? 隨著LED燈具的普及,led恒流驅(qū)動(dòng)電源已成為led燈具中的重要組成部分,它可以使燈具的亮度穩(wěn)定,延長(zhǎng)燈具的使用壽命,提高燈具的安全性能等。但是在使用過(guò)程中
2023-09-05 09:19:093018

集成電路失效分析

集成電路失效分析 隨著現(xiàn)代社會(huì)的快速發(fā)展,人們對(duì)集成電路(Integrated Circuit,簡(jiǎn)稱IC)的需求越來(lái)越大,IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位,如手機(jī)、電腦、汽車等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展,各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而,在使用過(guò)程中,芯片的失效是非常常見(jiàn)的問(wèn)題。芯片失效分析是解決這個(gè)問(wèn)題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800

半導(dǎo)體失效分析

半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展,電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分,而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736

并聯(lián)電源模塊為什么會(huì)失效

電源系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,當(dāng)一個(gè)電源模塊的功率無(wú)法滿足系統(tǒng)的需求時(shí),往往會(huì)考慮多個(gè)模塊的并聯(lián)使用。如果并聯(lián)設(shè)計(jì)不合理,就會(huì)導(dǎo)致并聯(lián)模塊輸出均流失效,會(huì)有燒壞電源模塊、甚至損壞后級(jí)系統(tǒng)的風(fēng)險(xiǎn)。目前電源系統(tǒng)
2023-08-26 08:26:44537

鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實(shí)、細(xì)致的最少1500字的文

鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件,通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn),因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133

半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析

本文通過(guò)對(duì)典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當(dāng),以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過(guò)對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析,以及對(duì)各種失效模式總結(jié),闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良,造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理;并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930

LED驅(qū)動(dòng)電路圖分享 LED驅(qū)動(dòng)電路的工作原理和失效機(jī)理分析

隨著市場(chǎng)需求的不斷增加,近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長(zhǎng)。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多,其技術(shù)水平參 差不齊,研發(fā)出來(lái)的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生,阻礙了LED照明的市場(chǎng)推廣。
2023-07-25 09:12:046864

Linux Led子系統(tǒng)代碼框架分析

代碼框架分析 led-class.c (led 子系統(tǒng)框架的入口) 維護(hù) LED 子系統(tǒng)的所有 LED 設(shè)備,為 LED 設(shè)備提供注冊(cè)操作函數(shù): led
2023-07-20 10:36:46382

新材料檢測(cè)必備實(shí)驗(yàn)室資源:表面檢測(cè)

新材料表面檢測(cè),多會(huì)面臨表面缺陷檢測(cè)、表面瑕疵檢測(cè)、表面污染物成分分析、表面粗糙度測(cè)試、表面失效分析等需求,以下為常備實(shí)驗(yàn)室資源這是Amanda王莉的第57篇文章,點(diǎn)這里關(guān)注我,記得標(biāo)星01表面檢測(cè)
2023-07-07 10:02:45567

關(guān)于ESD靜電浪涌測(cè)試在連接器端子失效分析中的應(yīng)用啟示

信號(hào)板HDMI連接器接地pin腳出現(xiàn)燒毀不良圖源:華南檢測(cè)中心本文案例,從信號(hào)板HDMI連接器接地pin腳出現(xiàn)燒毀不良現(xiàn)象展開(kāi),通過(guò)第三方實(shí)驗(yàn)室提供失效分析報(bào)告,可以聚焦失效可能原因,比如,可能輸入
2023-07-05 10:04:23238

芯片失效分析程序的基本原則

與開(kāi)封前測(cè)試結(jié)果加以比較,是否有改變,管殼內(nèi)是否有水汽的影響。進(jìn)一步可將表面氧化層、鋁條去掉,用機(jī)械探針扎在有關(guān)節(jié)點(diǎn)上進(jìn)行靜態(tài)(動(dòng)態(tài))測(cè)試、判斷被隔離部分是否性能正常,分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317

DC電源模塊低溫試驗(yàn)檢測(cè)詳細(xì)分析

。因此,對(duì)DC電源模塊的低溫試驗(yàn)檢測(cè)應(yīng)用較為廣泛。本文將從試驗(yàn)環(huán)境、測(cè)試設(shè)備、試驗(yàn)步驟、試驗(yàn)評(píng)估等方面對(duì)DC電源模塊低溫試驗(yàn)檢測(cè)進(jìn)行詳細(xì)分析
2023-06-29 10:56:49340

集成電路封裝失效的原因、分類和分析方法

與外界的連接。然而,在使用過(guò)程中,封裝也會(huì)出現(xiàn)失效的情況,給產(chǎn)品的可靠性帶來(lái)一定的影響。因此,對(duì)于封裝失效分析和解決方法具有很重要的意義。
2023-06-28 17:32:001779

請(qǐng)問(wèn)芯片檢測(cè)中的非破壞分析有哪些?

芯片檢測(cè)中的非破壞分析有哪些?
2023-06-27 15:20:08

BGA失效分析與改善對(duì)策

BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-06-26 10:47:41438

集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過(guò)程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理,封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315

集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學(xué)過(guò)程(失效機(jī)理),為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生,提升
2023-06-21 08:53:40572

一種電源極性檢測(cè)電路

如圖所示的電源極性測(cè)試電路,通過(guò)LED1和LED2的亮滅指示被測(cè)電源輸入端的極性。
2023-06-13 17:18:28695

講一下失效分析中最常用的輔助實(shí)驗(yàn)手段:亮點(diǎn)分析(EMMI)

EMMI:Emission microscopy 。與SEM,F(xiàn)IB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310

LED驅(qū)動(dòng)電源電路分析

今天給大家簡(jiǎn)單分析一個(gè)LED驅(qū)動(dòng)電路,供大家學(xué)習(xí)。
2023-05-24 17:07:081653

LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因分析

LED驅(qū)動(dòng)電源作為LED照明中不可或缺的一部分,對(duì)其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛,不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能,同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動(dòng)電源的使用中,導(dǎo)致LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來(lái)看看吧!
2023-05-18 11:21:19851

使用SIMULINK生成代碼時(shí),EVB的MCU LED不亮,現(xiàn)在檢測(cè)不到3.3V電源怎么解決?

當(dāng)我使用SIMULINK生成代碼時(shí),EVB的MCU LED不亮,現(xiàn)在檢測(cè)不到3.3V電源
2023-05-18 07:28:05

淺談抗靜電指標(biāo)差的LED失效分析案例

紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu),它兩個(gè)電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍(lán)綠光LED不一樣,所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423

怎樣進(jìn)行芯片失效分析?

失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì),使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365

TVS二極管失效機(jī)理與失效分析

。 通過(guò)對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征.結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678

電阻、電容、電感的常見(jiàn)失效分析

失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
2023-05-11 14:39:113227

進(jìn)口芯片失效怎么辦?做個(gè)失效分析查找源頭

芯片對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)非常的重要,進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下,生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來(lái)越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來(lái),那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548

簡(jiǎn)單分析照明LED失效模式問(wèn)題及改善措施

LED是一種直接將電能轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光和輻射能的發(fā)光器件,具有耗電量小、發(fā)光效率高、體積小等優(yōu)點(diǎn),目前已經(jīng)逐漸成為了一種新型高效節(jié)能產(chǎn)品,并且被廣泛應(yīng)用于顯示、照明、背光等諸多領(lǐng)域。近年來(lái),隨著LED
2023-04-26 14:45:59544

環(huán)旭電子發(fā)展先進(jìn)失效分析技術(shù)

為了將制程問(wèn)題降至最低,環(huán)旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置,利用激光去層和重植球技術(shù)提取SiP 模組中的主芯片。同時(shí),利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機(jī)污染物的源頭,持續(xù)強(qiáng)化SiP模組失效分析領(lǐng)域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357

X-Ray檢測(cè)設(shè)備在LED生產(chǎn)中的應(yīng)用

也越來(lái)越復(fù)雜。為了保證LED質(zhì)量,保障產(chǎn)品安全,X-ray檢測(cè)設(shè)備在LED生產(chǎn)中應(yīng)用越來(lái)越廣泛。 X-ray檢測(cè)設(shè)備是一種應(yīng)用X射線技術(shù)的檢測(cè)儀器,可對(duì)LED芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和外部尺寸進(jìn)行檢測(cè),特別是可以檢測(cè)LED芯片的封裝層是否存在缺陷,檢測(cè)LED芯片的外形及內(nèi)部
2023-04-21 14:05:28452

LED燈條x-ray檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)都有哪些?

LED燈條x-ray檢測(cè)是一種常用的電子元件檢測(cè)方法,它可以檢測(cè)LED燈條的外觀、內(nèi)部結(jié)構(gòu)和電路圖。它使用X射線來(lái)檢測(cè)LED燈條的電路,以及LED燈條內(nèi)部的電子組件。 LED燈條x-ray檢測(cè)
2023-04-20 12:01:28669

壓接型與焊接式IGBT的失效模式與失效機(jī)理

失效率是可靠性最重要的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn),所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對(duì)提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041117

LED驅(qū)動(dòng)電源的設(shè)計(jì)與應(yīng)用

技術(shù) 7、常用LED燈具系統(tǒng)方案及電路分析; 8、LED路燈驅(qū)動(dòng)基本方案; 9、AC直接驅(qū)動(dòng)LED光源技術(shù)。
2023-04-18 16:16:2011

半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見(jiàn)失效分析方法介紹!

失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過(guò)分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開(kāi)發(fā)
2023-04-18 09:11:211360

X-Ray檢測(cè)用于LED芯片封裝的無(wú)損檢測(cè)有哪些步驟?-智誠(chéng)精展

X-Ray檢測(cè)用于LED芯片封裝的無(wú)損檢測(cè)的實(shí)施步驟如下: 1、準(zhǔn)備檢測(cè)設(shè)備:首先準(zhǔn)備X射線檢測(cè)設(shè)備,包括X射線攝像機(jī)、X射線儀器、X射線照相機(jī)等設(shè)備。 2、設(shè)置檢測(cè)參數(shù):其次,設(shè)置檢測(cè)參數(shù),包括
2023-04-14 14:48:24480

X-Ray檢測(cè)用于LED芯片封裝的無(wú)損檢測(cè)優(yōu)勢(shì)

X-Ray檢測(cè)是一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù),其應(yīng)用于LED芯片封裝的無(wú)損檢測(cè)尤為重要。本文主要介紹X-Ray檢測(cè)用于LED芯片封裝的無(wú)損檢測(cè)的原理、優(yōu)勢(shì)、實(shí)施步驟及其有效性等問(wèn)題,以期為LED芯片封裝的無(wú)損
2023-04-13 14:04:58975

BGA失效分析與改善對(duì)策

BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-04-11 10:55:48577

PCB失效分析技術(shù)總結(jié)

程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。 對(duì)于這種失效問(wèn)題,我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù),來(lái)使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù),供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749

X-ray在線檢測(cè)設(shè)備在LED燈條檢測(cè)中的應(yīng)用

X-ray在線檢測(cè)是一種非常有效的電子元件檢測(cè)技術(shù),它可以用來(lái)檢測(cè)LED燈條。X-ray在線檢測(cè)可以實(shí)現(xiàn)快速和準(zhǔn)確的檢測(cè),而且它也可以檢測(cè)LED燈條中隱藏的缺陷。 X-ray在線檢測(cè)通過(guò)將X射線
2023-04-10 12:00:00396

否有任何LED驅(qū)動(dòng)器可以讓LED使用PWM信號(hào)工作?

我想知道 NXP 是否有任何 LED驅(qū)動(dòng)器可以讓 LED 使用 PWM 信號(hào)工作,并具有故障檢測(cè)功能以關(guān)閉所有 LED。將有大約 50-60 個(gè)正向電壓為 3.0 v @ 30mA 的單色 LED
2023-03-28 06:12:42

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