SN54AS885 8 位幅度比較器

數(shù)據(jù)： 8-Bit Magnitude Comparators 數(shù)據(jù)表

描述

這些先進(jìn)的肖特基器件能夠?qū)蓚€8位二進(jìn)制或二進(jìn)制補(bǔ)碼字執(zhí)行高速算術(shù)或邏輯比較。關(guān)于字P和Q的兩個完全解碼的決定在兩個輸出處可從外部獲得。這些器件可完全擴(kuò)展到任意數(shù)量的位，無需外部門。為了比較較長長度的單詞，P> 1。 QOUT和P＆lt;處理較低有效位的級的QOUT輸出可以連接到P> 1。 QIN和P <處理更多有效位的下一級的QIN輸入。級聯(lián)路徑僅使用雙門級延遲來實(shí)現(xiàn)，以減少長字的總體比較時間。應(yīng)用信息中顯示了兩種可選的級聯(lián)方法。

當(dāng)P鎖存使能（PLE）輸入為高電平時，鎖存器是透明的;當(dāng)PLE為低電平時，P輸入端口被鎖存

。這為設(shè)計(jì)人員提供了P數(shù)據(jù)字的臨時存儲。使用最小延遲時間實(shí)現(xiàn)使能電路，以在級聯(lián)更長字時增強(qiáng)性能。 PLE，P和Q數(shù)據(jù)輸入利用pnp輸入晶體管將低電平電流輸入要求降低至典型值-0.25 mA，從而最大限度地降低直流負(fù)載效應(yīng)。

SN54AS885具有完整的工作特性軍用溫度范圍為-55°C至125°C。 SN74AS885的特征在于在0℃至70℃的溫度下操作。

在這些情況下，P> 1。 QOUT跟隨P> QIN和P < QOUT遵循P＆lt; QIN。

AG =算術(shù)大于

特性

具有上電清除功能的可鎖存P-Input端口
邏輯或算術(shù)選擇
（二進(jìn)制補(bǔ)碼）比較
數(shù)據(jù)和PLE輸入利用pnp輸入晶體管降低直流負(fù)載效應(yīng)
執(zhí)行更多功能時，對肖特基TTL的交流性能提高約35％
比8位比較的STTL低10％
封裝選項(xiàng)包括塑料小外形（DW）封裝，陶瓷芯片載體（FK），標(biāo)準(zhǔn)塑料（NT）和陶瓷（JT）300密耳DIP

參數(shù) 與其它產(chǎn)品相比?數(shù)字比較器

?
Technology Family
VCC (Min) (V)
VCC (Max) (V)
Bits (#)
Voltage (Nom) (V)
F @ Nom Voltage (Max) (Mhz)
ICC @ Nom Voltage (Max) (mA)
tpd @ Nom Voltage (Max) (ns)
IOL (Max) (mA)
Input Type
Output Type
Rating
Operating Temperature Range (C)
?

SN54AS885	SN74AS885
AS ? ?	AS ? ?
4.5 ? ?	4.5 ? ?
5.5 ? ?	5.5 ? ?
8 ? ?	8 ? ?
5 ? ?	5 ? ?
35 ? ?	35 ? ?
210 ? ?	210 ? ?
17.5 ? ?	17.5 ? ?
20/-2 ? ?	20 ? ?
TTL ? ?	TTL ? ?
TTL ? ?	TTL ? ?
Military ? ?	?
-55 to 125 ? ?	0 to 70 ? ?
無樣片	無樣片