為了用較少的硬件和測試時間開銷獲得對被測電路較高的故障覆蓋，提出了一種數(shù)字集成電路測試中多掃描鏈的配置方法。該方法基于最大周期的線性反饋移位寄存器LFSR生成的m序列的移位可加性，可使較短長度的LFSR驅(qū)動多個掃描鏈；為了減小LFSR生成序列的互相關(guān)性，利用LFSR與其對偶LFSR間的關(guān)系，提出了基于邏輯仿真的移相器的快速設(shè)計方法，實驗結(jié)果驗證了該方法的有效性，對VLSI的內(nèi)測試和外測試皆適用。
關(guān) 鍵 詞 線性反饋移位寄存器; 移相器; m序列; 移位可加性; 偽隨機測試
以少的時間開銷和硬件代價獲得高的故障覆蓋率一直是各種數(shù)字集成電路或系統(tǒng)測試方案研究對象。在已有的測試方案中，隨機測試技術(shù)由于無需確定性測試矢量生成器和適宜于內(nèi)測試的特性，故獲得廣泛應(yīng)用。在許多可測性方案中，為了減少測試時間開銷常使用多掃描通道[1]，通常采用具有最大周期的線性反饋移位寄存器(Linear Feedback Shift Register，LFSR)產(chǎn)生的m序列提供多掃描通道的并行輸入，但因LFSR中存在通過對相鄰單元的現(xiàn)態(tài)簡單左移或右移來獲得次態(tài)值的現(xiàn)象，必然造成LFSR中相鄰位流間的互相關(guān)性[2]，將這種位流用于被測電路(Circuits Under Test，CUT)多掃描通道的輸入，對CUT而言，輸入的并非偽隨機數(shù)，用這種存在互相關(guān)性的序列進行測試，將使故障覆蓋率不合要求或增大測試長度，改進這一缺陷的措施之一便是在LFSR的并行輸出和多通道掃描輸入間設(shè)計一個移相器(Phase Shifter，PS)，PS本質(zhì)上為一個異或樹狀網(wǎng)絡(luò)，其作用是將LFSR的若干單元經(jīng)異或運算后用來驅(qū)動掃描通道，PS設(shè)計的目的是決定由哪些LFSR單元的異或結(jié)果產(chǎn)生的序列來保證對另一參考通道具有給定的相移，如由長度為3的LFSR的某兩個單元產(chǎn)生的兩個移位等價序列S1=(1011001)，S2=(0011011)，則S2相對S1的相移P(S1,S2)=4。采用PS不僅能克服上述弊端，而且能使短長度的LFSR驅(qū)動多掃描通道，本文提出了基于邏輯仿真的移相器的快速設(shè)計方法。