可測性設(shè)計（Design for Test，DFT）最早用于數(shù)字電路設(shè)計。隨著模擬電
路的發(fā)展和芯片 集成度的提高，單芯片數(shù)?；旌舷到y(tǒng)應(yīng)運而生，混合電路測試，
尤其是混合電路中模擬電路的測試，引起了設(shè)計者的廣泛關(guān)注。邊界掃描是數(shù)字
電路可測性設(shè)計中常用的技術(shù)，基于IE EE1149 　1 邊界掃描技術(shù)。本文針對
一款應(yīng)用于大規(guī)模集成電路的CMOS 高頻鎖相環(huán)時鐘發(fā)生器，提出了一種可行
的測試方案，重點講述了鎖相環(huán)的輸出頻率和鎖定時間參數(shù)的測試，給出了具體
的測試電路和測試方法。對于應(yīng)用在大規(guī)模電路系統(tǒng)中的鎖相環(huán)模塊，該測試方
案既可用于鎖相環(huán)的性能評測，也可用于鎖相環(huán)的生產(chǎn)測試。　
1 鎖相環(huán)結(jié)構(gòu)及原理
本文所要測試的是用于大規(guī)模集成電路的鎖相環(huán)時鐘發(fā)生器，他是一款基于
0.18 μm CMOS 數(shù)字工藝設(shè)計的高頻電荷泵鎖相環(huán)（Charge Pump Phase
Locking Loop，CPPLL），最高輸出頻率達1.2 GHz。
此鎖相環(huán)的電路結(jié)構(gòu)如圖1 所示，他包括輸入分頻器、鑒頻鑒相器（Phase
Frequency Detec t，PFD）、電荷泵（Charge Pump，CP）、壓控振蕩器（Voltage
Controlled Oscillator， VCO）、環(huán)路低通濾波器（Lowpass Filter，LPF）和反
饋分頻器等基本單元。輸入信號經(jīng)過輸入分頻器分頻為參考信號，壓控振蕩器的
輸出信號經(jīng)過反饋分頻器分頻為反饋信號；參考信號和反饋信號在鑒頻鑒相器中
進行相位比較，得到相位差信號；電荷泵和低通濾波器將相位差信號轉(zhuǎn)換為相應(yīng)
的電平信號；該電平信號控制壓控振蕩器的輸出頻率。通過反饋環(huán)路，最終達到
相位鎖定。鎖定狀態(tài)時，參考信號和反饋信號同頻同相。
為了更好地抑制噪聲，鎖相環(huán)采用了差分的電路結(jié)構(gòu)。其中，壓控振蕩器采
用環(huán)形振蕩器結(jié) 構(gòu)實現(xiàn)，主要由3 個完全相同的延遲單元順次連接而成。2 測試方案
模擬電路傳統(tǒng)的測試方法比較簡單，將輸入輸出信號直接引出，檢測輸入信
號對應(yīng)的輸出響 應(yīng)即可。隨著工作頻率的升高，封裝管腳和引線寄生參數(shù)不容
忽視，傳統(tǒng)的測試方法也受到挑戰(zhàn)。由于模擬信號的抗干擾能力差，輕微的擾動
都可能會影響電路的性能，測試電路應(yīng)該盡量簡單，以避免引入不必要的噪聲。
最高輸出頻率、輸出頻率范圍和鎖定時間等都是高頻鎖相環(huán)需要測試的重要
性能參數(shù)。對于工作頻率高達GHz 的高頻鎖相環(huán)，顯然難以采用傳統(tǒng)的測試方
法來完成，需要進行專用測試電路設(shè)計，即在芯片內(nèi)設(shè)計一定的測試電路以便投
片后進行測試。
2.1 輸出頻率測試
作為時鐘發(fā)生器，鎖相環(huán)一般工作于整個電路系統(tǒng)的最高頻率，而壓控振蕩
器工作于鎖相環(huán)的最高頻率。如圖1 所示，鎖相環(huán)的輸出頻率就是壓控振蕩器的
工作頻率，因此鎖相環(huán)的輸出頻率測試實質(zhì)上是對壓控振蕩器的最高振蕩頻率和
振蕩范圍的測試。
由于輸出管腳的引線存在寄生的電感電容，這些寄生參數(shù)容易引入較大的高
頻耦合噪聲；高頻信號經(jīng)過這些引線輸出到管腳通常會產(chǎn)生較大的衰減。因此，
壓控振蕩器的高頻輸出信號很難引出芯片外直接測量。另一方面，高頻信號的測
試對測量儀器要求很高，測試板上的外加信號一旦經(jīng)過高頻通路耦合到電路內(nèi)
部，就會影響測試結(jié)果，甚至干擾電路的工作。