資料介紹
已有研究表明,鍵合線老化脫落失效是影響絕緣柵雙極型晶體管( IGBT)可靠性的主要因素之一。以此為研究背景,首先根據(jù)IGBT模塊內(nèi)部鍵合線的結(jié)構(gòu)布局與物理特性,分析鍵合線等效電阻與關(guān)斷暫態(tài)波形的關(guān)系,建立鍵合線等效電阻與關(guān)斷過程中密勒平臺電壓以及集電極電流的數(shù)學(xué)關(guān)系式,通過實(shí)驗(yàn)測量獲得鍵合線等效電阻,最后分別對鍵合線等效電阻與鍵合線斷裂數(shù)的關(guān)系進(jìn)行定性與定量的分析,得出鍵合線等效電阻會隨鍵合線斷裂數(shù)的增加同方向變化,這也證明了本文所提方法的可行性和正確性。

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