3D結(jié)構(gòu)光相機(jī)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

功能： 支持自動(dòng)或手動(dòng)調(diào)節(jié)增益、曝光時(shí)間、白平衡、Gamma、LUT 校正等 結(jié)構(gòu)緊湊，外形尺寸 29 mm×29 mm×30 mm，適用于...

2023-06-29 標(biāo)簽：WINDOWS掃描儀3D結(jié)構(gòu)光 1774 0

藍(lán)牙掃描儀條碼槍無(wú)線解決方案

藍(lán)牙掃描儀（藍(lán)牙條碼槍）是一種無(wú)線條形碼掃描儀，它使用藍(lán)牙技術(shù)將數(shù)據(jù)傳輸?shù)狡渌С炙{(lán)牙的設(shè)備。 它可以掃描物品上的條形碼，并通過(guò)藍(lán)牙將信息傳輸?shù)诫娔X、手...

2023-07-26 標(biāo)簽：無(wú)線掃描儀 1736 0

工業(yè)級(jí)gom三維掃描儀的工作原理

工業(yè)級(jí)gom三維掃描儀（如ATOS系列）的檢測(cè)原理主要基于結(jié)構(gòu)光掃描技術(shù)（StructuredLightScanning）和光學(xué)三角測(cè)量原理。以下是其基...

2024-05-14 標(biāo)簽：掃描儀激光掃描儀三維掃描儀 1699 0

利用GT511C3指紋傳感器模塊的指紋掃描儀設(shè)計(jì)

本項(xiàng)目利用GT511C3指紋傳感器（FPS）模塊，在Aduino開(kāi)發(fā)板上實(shí)現(xiàn)了一個(gè)高精度、快速響應(yīng)的指紋掃描儀。項(xiàng)目通過(guò)Arduino錄入指紋，在需要的...

2022-05-12 標(biāo)簽：傳感器掃描儀Arduino 1394 0

多功能安全掃描儀工具介紹

Trivy（發(fā)音）是一款全面且多功能的安全掃描儀。Trivy 擁有用于查找安全問(wèn)題的掃描儀，以及可以找到這些問(wèn)題的目標(biāo)。 目標(biāo)（Trivy 可以掃描的內(nèi)容）：

2023-12-13 標(biāo)簽：掃描儀文件系統(tǒng)虛擬機(jī) 1143 0

如何選擇電磁干擾(EMI)掃描儀，看看這幾點(diǎn)

在上期講完了電磁干擾(EMI)掃描儀的定義和應(yīng)用以后，我們應(yīng)該如何去選擇一款合適的電磁干擾(EMI)掃描儀？在當(dāng)今復(fù)雜的電子設(shè)備環(huán)境中，選擇合適的電磁干...

2024-08-30 標(biāo)簽：emi掃描儀電磁干擾 1042 0

精迅V1 3d結(jié)構(gòu)光掃描儀產(chǎn)品介紹

支持在Windows系統(tǒng)下，直接通過(guò)C++（VS2015）SDK代碼來(lái)控制相機(jī)：調(diào)整增益、曝光時(shí)間、拍照，控制投影儀：寫(xiě)入條紋/格雷碼圖案（雙方向），投...

2023-06-14 標(biāo)簽：lcd相機(jī)鏡頭掃描儀 986 0

3D三維掃描儀的光學(xué)測(cè)量技術(shù)知識(shí)

從古老三角法到現(xiàn)代高精尖掃描儀當(dāng)我們對(duì)對(duì)物體進(jìn)行三維測(cè)量時(shí)，一個(gè)非常重要的話題，便是如何捕捉被測(cè)點(diǎn)的空間三維坐標(biāo)信息，而比較常用的方法就是三角測(cè)量法。人...

2024-07-01 標(biāo)簽：掃描儀激光掃描儀光學(xué)測(cè)量 925 0

用黑科技書(shū)寫(xiě)“黑神話”，基于飛凌嵌入式RK3576核心板的三維掃描儀應(yīng)用方案

三維掃描系統(tǒng)是一種集光、機(jī)、電和計(jì)算機(jī)技術(shù)于一體的應(yīng)用型技術(shù)，主要用于對(duì)物體的外形、結(jié)構(gòu)及色彩進(jìn)行掃描，以獲取物體表面的空間坐標(biāo)。不止是游戲領(lǐng)域，三維掃...

2024-09-19 標(biāo)簽：嵌入式掃描儀黑科技 919 0

何為電磁干擾(EMI)掃描儀，哪里需要它？

什么是電磁干擾掃描儀？電磁干擾掃描儀（Electromagneticinterferencescanner）又稱EMI掃描儀，是屬于電磁兼容（EMC）測(cè)...

2024-08-30 標(biāo)簽：emi掃描儀電磁干擾 865 0

思看科技手持三維激光掃描儀三種工作模式介紹

思看科技手持三維掃描儀有高速、精細(xì)、復(fù)合及深孔掃描模式，適用于不同場(chǎng)景需求，合理選擇模式可快速獲取、處理物體三維數(shù)據(jù)，支持后續(xù)制造、設(shè)計(jì)或修復(fù)工作。

2024-12-24 標(biāo)簽：激光掃描儀激光掃描儀 820 0

使用OI-EASU432型EMI掃描儀與頻譜儀對(duì)DUT進(jìn)行EMI測(cè)試實(shí)驗(yàn)方案

實(shí)驗(yàn)背景：在電子設(shè)備的設(shè)計(jì)與制造流程中，電磁干擾（EMI）占據(jù)著舉足輕重的地位，是不可或缺的考量要素。鑒于某些設(shè)備在運(yùn)作時(shí)可能釋放出高強(qiáng)度的電磁輻射，進(jìn)...

2024-08-31 標(biāo)簽：emi掃描儀頻譜儀 667 0

使用EMI掃描儀和EMI測(cè)試接收機(jī)進(jìn)行EMI可視化分析

隨著電子設(shè)備的復(fù)雜性日益增長(zhǎng)，EMC（電磁兼容）測(cè)試在產(chǎn)品設(shè)計(jì)與3C認(rèn)證過(guò)程中的作用愈發(fā)顯著。為通過(guò)3C認(rèn)證，企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)初期便積極引入EMI測(cè)試環(huán)節(jié)...

2025-02-08 標(biāo)簽：emi接收機(jī)掃描儀 603 0